本公司原位加熱樣品臺(tái)由樣品臺(tái),控制器,以及計(jì)算機(jī)軟件程序等構(gòu)成,該設(shè)備使用四電極法閉合回路控制及反饋環(huán)境溫度以消除接觸電阻影響。可用于電鏡樣品在不同的高溫條件下的結(jié)構(gòu)表征。
原位加熱樣品臺(tái)主要在低維材料、納米技術(shù)、材料工程、能源材料及軟物質(zhì)等研究領(lǐng)域中廣泛應(yīng)用。
產(chǎn)品特點(diǎn):
● 快速實(shí)現(xiàn)溫度/樣品的穩(wěn)定
● 準(zhǔn)確的溫度測(cè)量
● 樣品制備簡(jiǎn)單易行
● 超高的溫度精度及溫度均勻性
性能規(guī)格
● 工作溫度范圍: 室溫到1100℃(普通芯片);室溫到1300℃(高溫芯片)
● 加熱方式:四電極法閉合回路控制及反饋環(huán)境溫度
● 溫度精度:< 5 %
● 溫度穩(wěn)定性:< 0.01 °C
● 加熱速率:200℃/ms
● 溫度設(shè)定時(shí)間:< 2s
● 樣品漂移:溫差1000℃時(shí),< 200nm
● 轉(zhuǎn)角范圍:?jiǎn)蝺A;雙傾;三維重構(gòu)
● 分辨率:不低于電鏡室溫分辨率