| 應(yīng)用領(lǐng)域 |
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掃描電鏡原位拉伸試驗(yàn)用于掃描電鏡的原位拉伸臺(tái)產(chǎn)品概述
原位加載，保證樣品中心變形區(qū)在視場(chǎng)中心
微型化設(shè)計(jì)，尺寸可定制，滿足載物臺(tái)重量需求
空間布局合理，同時(shí)達(dá)到二次電子和能譜的成像條件
適配部分SEM、OM、AFM、STM，通過導(dǎo)電底座固定于電鏡內(nèi)部
進(jìn)口高精度載荷傳感器、位移傳感器
商業(yè)化的*自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的控制器、驅(qū)動(dòng)器，可擴(kuò)展性*
拉伸、蠕變、松弛、疲勞以及自定義試驗(yàn)
一、用于掃描電鏡原位拉伸試驗(yàn)臺(tái)核心技術(shù)
1.商業(yè)化的自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的多軸材料力學(xué)測(cè)試軟件
2.可實(shí)現(xiàn)位移、載荷、應(yīng)變和應(yīng)力的閉環(huán)控制方式
3.滿足正弦波、三角波和自定義復(fù)雜波形的加載方式
4.配置軟件參數(shù)，實(shí)現(xiàn)斷口保護(hù)，便于材料失效分析
5.內(nèi)置模塊化試驗(yàn)流程，適用不同科研領(lǐng)域人員操作
6.軟件功能持續(xù)更新，可根據(jù)客戶需求定制試驗(yàn)動(dòng)作
二、用于掃描電鏡的原位拉伸臺(tái)設(shè)備技術(shù)參數(shù)
三、用于掃描電鏡原位拉伸試驗(yàn)應(yīng)用案例
與蔡司EVO MA15型掃描電子顯微鏡聯(lián)用
某導(dǎo)電高分子薄膜；
單邊缺口試驗(yàn)，拉伸試驗(yàn)，研究裂紋擴(kuò)展行為；
SEM下高倍率在線觀測(cè)，裂尖形貌如下；
用戶：天津大學(xué)、中國(guó)航發(fā)商發(fā)集團(tuán)。
使用凱爾產(chǎn)品進(jìn)行SEM在線裂紋擴(kuò)展試驗(yàn)(某導(dǎo)電薄膜的裂紋實(shí)時(shí)錄像)
操作過程
裝夾試樣
與SEM腔體安裝
內(nèi)部試驗(yàn)機(jī)位置
內(nèi)部試驗(yàn)機(jī)位置
【案例1】裂紋照片——原位SEM&SENT試驗(yàn)
某導(dǎo)電膠薄膜的原位SEM拉伸試驗(yàn)
探究導(dǎo)電膠薄膜裂紋的微觀形貌變化
該設(shè)備為研究導(dǎo)電膠薄膜的斷裂機(jī)理提供了條件
【案例2】燃料電池用質(zhì)子交換膜——原位SEM&拉伸試驗(yàn)
探究復(fù)合材料膜拉伸過程中增強(qiáng)纖維層的作用
上圖為試驗(yàn)獲取的0~10%應(yīng)變率下的表面形貌照片
為探究中間纖維層的增強(qiáng)作用機(jī)理提供了條件
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