美國 IK-TECHNOLOGIES 高分辨電子能量損失譜儀

HREELS高分辨電子能量損失譜儀在分辨率和信號水平方面表現(xiàn)的全球，現(xiàn)在結(jié)合我們的多通道分析儀選件（EA5000MCA），可實現(xiàn)數(shù)據(jù)采集速度。用于研究表面分子振動，表面聲子和等離子體以及電子能級和能帶隙。

• 超高分辨率0.5 meV FWHM

• 在1.0 meV分辨率（FWHM）下保證探測器電流大于或等于10pA

• 采用具有可控角度像差的新型靜電偏轉(zhuǎn)器

• 具有菜單驅(qū)動軟件的低噪聲數(shù)字控制電子設備

• 用戶可選擇的掃描范圍高達50 eV，適用于電子振動/電子應用

• EELS原理
  

當入射電子束照射試樣表面時，將會發(fā)生入射電子的背向散射現(xiàn)象，背向散射返回表面的電子由兩部分組成，一部分沒有發(fā)生能量損失，稱為彈性散射電子，另一部分有能量損失，稱為非彈性散射電子?！ぴ诜菑椥陨⑸潆娮又?，存在一些具有一定特征能量的俄歇電子，其特征能量只同物質(zhì)的元素有關，如果在試樣上檢測這些俄歇電子的數(shù)目按能量分布，就可以標定物質(zhì)的各元素組成，稱為俄歇電子能譜分析技術。

如果其特征能量不但同物質(zhì)的元素有關，而且同入射電子的能量有關，則稱它為特征能量損失電子。

如果在試樣上檢測能量損失電子的數(shù)目按能量分布，就可獲得一系列譜峰，稱為電子能量損失譜，利用這種特征能量電子損失譜進行分析，稱為電子能量損失譜分析技術。

EELS理論

對低能電子能量損失譜的解釋工作是建立在非彈性散射理論上。

如果入射電子從具有兩維周期性晶格結(jié)構的表面散射回來時經(jīng)歷了—個非彈性散射過程，它將損失部分能量。

美國 IK-TECHNOLOGIES 高分辨電子能量損失譜儀的應用

EELS譜可做包括氫在內(nèi)的指紋鑒定，也可做表面結(jié)構分析。在指紋鑒定時只要參照被分析原子的紅外吸收光譜，將電子能量損失譜跟紅外吸收譜進行比較就能做出鑒定。

關于結(jié)構分析，它所給出的信息是關于微區(qū)的，局域的，這與LEED不同，LEED所處理的問題是長程有序表面的結(jié)構。對樣品的破壞作用小，適合研究氣體在固體表面的吸附。而且對吸附有很高的靈敏度，可以對<0.1%單原子層的吸附做常規(guī)分析，這些分析包括化學物品在表面的吸附及吸附層在化學反應過程中所產(chǎn)生的中間物的鑒定。

它的應用包括研究固體上的催化反應，金屬表面的腐蝕等。