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XTrace-基于SEM高性能微區(qū)熒光光譜儀 參考價(jià):面議
XTrace-基于SEM高性能微區(qū)熒光光譜儀采用了X射線毛細(xì)導(dǎo)管技術(shù),利用該技術(shù),即使在非常小的樣品區(qū)域也能產(chǎn)生很高的熒光強(qiáng)度。X射線毛細(xì)導(dǎo)管將X射線源的大部分...精密刻蝕鍍膜系統(tǒng)PECS II 685 參考價(jià):面議
精密刻蝕鍍膜系統(tǒng)PECS II 685,一款桌面型寬束氬離子拋光及鍍膜設(shè)備。對(duì)于同一個(gè)樣品,可在同一真空環(huán)境下完成拋光及鍍膜。ChromaCL2第二代實(shí)時(shí)彩色陰極發(fā)光成像系統(tǒng) 參考價(jià):面議
ChromaCL2第二代實(shí)時(shí)彩色陰極發(fā)光成像系統(tǒng),是一款*的產(chǎn)品。它具有高效的光學(xué)采集和色散能力,采用陣列光電倍增管得到高增益光探測(cè)能力。通過DigitalMi...Gatan原位加熱臺(tái)Murano 525 參考價(jià):面議
Gatan原位加熱臺(tái)Murano 525,精悍緊湊,能方便地與大多數(shù)掃描電鏡的標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)接口,它包含一個(gè)絕熱接口,適用于二次電子像、電子背散射衍射(EBSD)與...MICROTEST 2000E系列原位動(dòng)態(tài)拉伸試驗(yàn)臺(tái) 參考價(jià):面議
MICROTEST 2000E系列原位動(dòng)態(tài)拉伸試驗(yàn)臺(tái),可以對(duì)金屬樣品施加高達(dá)2000N的拉力,用戶EBSD分析,或者對(duì)一些其他材料進(jìn)行常規(guī)的應(yīng)力-應(yīng)變分析和SE...MICROTEST系列原位動(dòng)態(tài)拉伸試驗(yàn)臺(tái) 參考價(jià):面議
MICROTEST系列原位動(dòng)態(tài)拉伸試驗(yàn)臺(tái),金屬及鍍層:用于研究晶粒變化、鍍層結(jié)合情況、高溫形變及松弛機(jī)理、晶粒旋轉(zhuǎn)及織構(gòu)變化。復(fù)合材料:用于研究材料韌性及強(qiáng)度;...GATAN C1000系列冷臺(tái) 參考價(jià):面議
GATAN C1000系列冷臺(tái),包括冷臺(tái)模塊,制冷溫度為–185°C 到室溫的C1001,制冷溫度為-185°C 到 +200°C...Gatan SmartEMIC電子束感應(yīng)電流測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià):面議
Gatan SmartEMIC電子束感應(yīng)電流測(cè)量系統(tǒng),可以實(shí)時(shí)軟件控制全自動(dòng)采集電子束感生電流(EBIC)信號(hào),獲得EBIC圖像信息,還可以獲得IV曲線信息,終...Monarc 陰極熒光系統(tǒng) 參考價(jià):面議
Monarc 陰極熒光系統(tǒng),通過突破性的光路設(shè)計(jì),Monarc 具有顯著增加的靈敏度和譜分辨率,由此帶來的*特色的波長-角度分辨能力,使您能夠進(jìn)行更為完整的陰極...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)