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太赫茲光譜儀 VERTEX 80v適用于多個與太赫茲兼容的FTIR樣品室附件，如透射測量、氣體池、反射以及與太赫茲兼容的ATR裝置，旨在在FTIR和連續(xù)波太赫茲覆蓋的極寬的光譜范圍內實現(xiàn)統(tǒng)一的工作流程。verTera 通過擴大光譜范圍，提高太赫茲分辨率，為大量應用帶來了寶貴信息，如多態(tài)聚合物研究、高分辨率氣體光譜、晶體結構(固態(tài)和半導體物理)以及制藥或藥物相關的研究等。

工作原理：

太赫茲波，又稱遠紅外輻射波。許多常見的材料和組織對于太赫茲波都是半透明的，并表現(xiàn)出“太赫茲特性”，使得利用太赫茲波鑒別和分析樣品成為可能。

太赫茲光譜技術具備非常廣泛的應用前景，比如在聚合物多晶型研究、聚合物研發(fā)、無機化學、氣體光譜、固態(tài)物理、半導體物理以及藥品研發(fā)等相關領域都可以用到。值得一提的是，將經典的傅立葉紅外光譜與太赫茲光譜有效的結合起來，能夠更加深入的研究樣品的特性。

VERTEX系列傅立葉變換紅外光譜儀，尤其是功能強大的VERTEX 80v已經可以實現(xiàn)低至5cm-1(0.15太赫茲)的測量，但是VERTEX 80v要達到這個波段或者得到更高的光譜分辨率往往需要液氦冷卻的bolometer探測器。

現(xiàn)在，通過將新的verTera太赫茲擴展技術與VERTEX 80v真空光譜儀有效的結合，布魯克成功突破了這一限制。配備了verTera功能之后，紅外光譜金標準VERTEX 80v又成為了集成了傅立葉變換和連續(xù)波太赫茲技術的紅外光譜儀，并表現(xiàn)出非常優(yōu)異的性能。在不需要任何制冷元件的情況下，可以實現(xiàn)低至3cm-1(0.09 THz)處光譜測量。

VERTEX 80/80v 傅立葉變換紅外光譜儀特點：

1、新的UltraScanTM干涉儀

VERTEX 80 及 VERTEX 80v 均采用新的真正準直的UltraScanTM干涉儀，該干涉儀可實現(xiàn)*的光譜分辨率。高精度的線性氣動軸承及超高質量的光學反射鏡保證了儀器達到出色的靈敏度和穩(wěn)定性。VERTEX適用于各種極限條件下的研究工作，如：高分辨率測試、超快速掃描、步進掃描及UV擴展譜區(qū)的測量。布魯克公司*的數(shù)字化DigiTectTM數(shù)據(jù)采集技術有效防止外部信號干擾，確保了良好的信噪比。

2、臺式真空光譜儀

VERTEX 80v 的全鑄鋁光學底座及全真空型光學臺設計使譜儀具備了更高的穩(wěn)定性。大氣中的水汽吸收在真空環(huán)境下被消除，靈敏度及穩(wěn)定性得到進一步提高。在遠紅外和太赫茲波段該特色尤為突出，并意義重大。結合新的全自動分束器更換器(BMS-c)，用戶無需打斷真空、通過軟件控制便能實現(xiàn)譜區(qū)的切換和擴展。

太赫茲光譜儀 VERTEX 80v性能參數(shù)：

1.光譜分辨率，優(yōu)于0.06 cm-1

2.覆蓋太赫茲至紫外波段的全光譜范圍

3.UltraScanTM真正準直、高分辨率的干涉儀

4.內置空冷光源及外置高功率水冷光源

5.計算機遠程控制的5個光路出口及2個入口

6.全真空設計臺式光譜儀(VERTEX 80v)

7.全新推出!全自動并兼容真空的分束器更換器(BMS-c)

8.雙通道、24位高速模/數(shù)轉換器