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詳細(xì)摘要： LT-2型單晶少子壽命測試儀是參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計的用于測量硅單晶的非平衡少數(shù)載流子壽命。半導(dǎo)體材料的少數(shù)載流子壽命測量，是半導(dǎo)體的常規(guī)測試項目...

詳細(xì)摘要： PN-12型導(dǎo)電類型鑒別儀采用整流法（也稱三探針法）和溫差法（也稱冷熱探筆法來判斷單晶（或多晶）硅的導(dǎo)電類型（N型或P型），用N型和P型顯示屏直接顯示單晶（或多...

詳細(xì)摘要： PN-30型導(dǎo)電類型鑒別儀采用整流法（也稱三探針法）和溫差法（也稱冷熱探筆法來判斷單晶（或多晶）硅的導(dǎo)電類型（N型或P型），用N型和P型顯示屏直接顯示單晶（或多...

詳細(xì)摘要： RTS-1345型全自動四探針測試系統(tǒng)可對樣品進(jìn)行單點、五點、九點、多點、直徑掃描、面掃描等模式的全自動測試；屏蔽測試，*消除光線對樣品測試的影響，保證測量的準(zhǔn)...

詳細(xì)摘要： ST-21L型方塊電阻測試儀采用大規(guī)模集成電路作為儀器的主要部分，測量準(zhǔn)確穩(wěn)定，低功耗；以大屏幕LCD顯示讀數(shù)，直觀清晰；采用單個電池供電，帶電池欠壓指示；體積...

詳細(xì)摘要： ST-21H型方塊電阻測試儀是一種依照類似的國家標(biāo)準(zhǔn)和美國A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)，專門測量半導(dǎo)體薄層電阻（表面電阻）的新型儀器，可用于測量一般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜（...

詳細(xì)摘要： ST-21型方塊電阻測試儀以大規(guī)模集成電路為主要核心；用基準(zhǔn)電源和運算放大器組成高精度穩(wěn)流源；帶回路有效正常指示電路；并配以大型LCD顯示讀數(shù)，使儀器具有體積小...

詳細(xì)摘要： RTS-3型手持式四探針測試儀測量范圍寬、精度高、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、易操作的手持式設(shè)計；體積僅為：185mm（長）*90mm（寬）*30mm（高）； 重量：3...

詳細(xì)摘要： RTS-2/RTS-2A型便攜式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計...

詳細(xì)摘要： RTS-11型金屬四探針測試儀于測試低阻金屬材料電阻率及方塊電阻測量范圍：電阻率：10-7～10-2Ω.cm； 方塊電阻：10-6～10-1Ω/□；是運用四探針...

詳細(xì)摘要： RTS-5型雙電測四探針測試儀測試程序控制四探針測試儀進(jìn)行測量并采集測試數(shù)據(jù)，把采集到的數(shù)據(jù)在計算機中加以分析，然后把測試數(shù)據(jù)以表格，圖形直觀地記錄、顯示出來。...

詳細(xì)摘要： RTS-9型雙電測四探針測試儀采用了四探針雙電測組合（亦稱雙位組合）測量新技術(shù),將范德堡測量方法推廣應(yīng)用到直線四探針上,利用電流探針、電壓探針的變換，在計算機控...

詳細(xì)摘要： RTS-4四探針測試儀儀器采用了電子技術(shù)進(jìn)行設(shè)計、裝配。具有功能選擇直觀、測量取數(shù)快、精度高、測量范圍寬、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、易操作等特點。本儀器適用于半導(dǎo)體材...

詳細(xì)摘要： RTS-8型四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計的，于測試半導(dǎo)體材料...