在半導(dǎo)體和集成電路工藝中，材料、晶圓、芯片的測試是不可少的環(huán)節(jié)。數(shù)字源表SMU具備源測功能，可以產(chǎn)生電流-電壓(I-V)特性曲線，是半導(dǎo)體材料、器件電性能表征測量的核心。在測試時，通過數(shù)字源表提供激勵并對測量信號進(jìn)行采集，首先將電流或電壓輸入被測器件（DUT），測量該器件對此輸入信號的響應(yīng)；這些信號的路徑為：源表的輸出端接入電纜，電纜和探針連接，電流或電壓信號通過探針至芯片。

普賽斯數(shù)字源表集電壓源、電流源、電壓表、電流表、電子負(fù)載功能于一體，支持四象限工作、微弱電流10pA輸出測量、3500V高壓下納安級測量、1000A脈沖大電流輸出，全系列產(chǎn)品豐富，新推出更高精度、更大直流的SXXB系列高精度數(shù)字源表，相比于傳統(tǒng)S系列源表，準(zhǔn)確度提升至±0.03%，直流電流升級至3A，可為半導(dǎo)體行業(yè)提供更加精準(zhǔn)、穩(wěn)定的測試方案；晶圓/芯片微弱電流測試VI源表認(rèn)準(zhǔn)普賽斯儀表

產(chǎn)品特點
5寸800*480觸摸顯示屏，全圖形化操作           

內(nèi)置強(qiáng)大的功能軟件，加速用戶完成測試，如LIV、PIV

源及測量的準(zhǔn)確度為0.03%

四象限工作（源和肼），源及測量范圍：高至300V，低至3pA

豐富的掃描模式，支持線性掃描、指數(shù)掃描及用戶自定義掃描

支持USB存儲，一鍵導(dǎo)出測試報告

支持多種通訊方式，RS-232、GPIB及以太網(wǎng)

技術(shù)參數(shù)

源限度-電壓源：±10V（≤3A量程），±30V（≤1A量程），±300V（≤100mA量程）；

源限度-電流源：±3A（≤10V量程），±1A（≤30V量程），±100mA（≤300V量程）；

過量程： 105%量程，源和測量；

穩(wěn)定負(fù)載電容：<22nF；

寬帶噪聲(20MHz)：2mV RMS（典型值），<20mV Vp-p（典型值）；

線纜保護(hù)電壓：輸出阻抗30KΩ，輸出電壓偏移<80mV；

蕞大采樣速率：S系列1000 S/s，SXXB系列32000S/s;

觸發(fā)：支持IO觸發(fā)輸入及輸出，觸發(fā)極性可配置；

輸出接口：前后面板香蕉頭插座輸出，同一時刻只能用前或者后面板接口；

通信口：RS-232、GPIB、以太網(wǎng)；

電源：AC 100~240V 50/60Hz；

工作環(huán)境：25±10℃；

尺寸：106mm高 × 255mm寬 ×425mm長；

重量：5KG

質(zhì)保期：1年

S系列源表應(yīng)用

分立器件特性測試：電阻、二極管、發(fā)光二極管、齊納二極管、PIN二極管、BJT三極管、MOSFET、SiC、GaN等器件；
能量與效率特性測試：LED/AMOLED、太陽能、電池、DC/DC轉(zhuǎn)換器；
傳感器特性測試：電阻率、霍爾效應(yīng)等；
有機(jī)材料特性測試：電子墨水、印刷電子技術(shù)等；
納米材料特性測試：石墨烯、納米線等；
激光器特性測試：窄脈沖LIV測試系統(tǒng)；
功率器件：靜態(tài)測試系統(tǒng)；
電流傳感器：動靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)；

普賽斯S系列數(shù)字源表標(biāo)準(zhǔn)的SCPI指令集，Y秀的性價比，良好的售后服務(wù)與技術(shù)支持，集電壓源、電流源、電壓表、電流表、電子負(fù)載功能于一體，支持四象限工作，晶圓/芯片微弱電流測試VI源表就找普賽斯儀表