產(chǎn)品名稱：冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)本試驗(yàn)設(shè)備禁止：易燃、易爆、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存，腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存，有害生物試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存，強(qiáng)電磁發(fā)射源試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存，放射性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存，劇毒物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存，試驗(yàn)或儲(chǔ)存過程中可能產(chǎn)生上述物質(zhì)或物體的試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存。

　　3容積、尺寸和重量

　　3.1標(biāo)稱內(nèi)容積70L

　　3.2內(nèi)箱尺寸W410mm×H460mm×D370mm

　　3.3外型尺寸W1310mm×H1950mm×D1830mm（參見附圖）

　　3.4重量約1500kg

　　4性能指標(biāo)

　　4.1測試環(huán)境條件環(huán)境溫度為+5℃～+35℃、相對濕度≤85%

　　試驗(yàn)箱內(nèi)無試樣（另有說明的除外）

　　4.2測試方法GB/T 5170.2-2017溫度試驗(yàn)設(shè)備

　　4.3高溫室(1)預(yù)熱上限溫度：200℃

　　(2)升溫時(shí)間：常溫→+200℃≤15min

　　注：升溫時(shí)間為高溫室單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)的性能

　　4.4低溫室(1)預(yù)冷下限溫度：-77℃

　　(2)降溫時(shí)間：常溫→-75℃≤55 min

　　注：降溫時(shí)間為低溫室單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)的性能

　　4.5試驗(yàn)室（試樣區(qū)）

　　(1)試驗(yàn)方式：氣動(dòng)風(fēng)門切換2溫區(qū)或3溫區(qū)

　　(2)高溫曝露溫度范圍：+60℃～+200℃

　　(3)低溫曝露溫度范圍：-70℃～0℃

　　(4)溫度波動(dòng)度：1℃（如按GB/T 5170.2-1996表示，則為±0.5℃）

　　(5)溫度偏差：±2.0℃（≤+150℃時(shí)）±3.0℃（＞+150℃時(shí)）4.6溫度恢復(fù)性能(1)溫度恢復(fù)時(shí)間：≤5 min

　　冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)的恢復(fù)條件：

　　高溫曝露：+150℃15min

　　環(huán)境溫度曝露：<——>

　　低溫曝露：-65℃15min

　　試樣重量：3.5kg(塑料封裝IC，均布于2個(gè)試樣籃）

　　傳感器的位置：試樣的上風(fēng)口側(cè)

　　電源電壓：規(guī)定電壓

　　冷卻水溫：+25℃

　　4.7噪音≤69dB（A）噪音值是在離設(shè)備正面1m、高度1.2m處測得的數(shù)據(jù)（自由空間中）

　　4.8滿足試驗(yàn)方法GB/T 2423.1-2008(IEC60068-2-1:2007)試驗(yàn)Ab：低溫

　　GB/T 2423.2-2008(IEC60068-2-2:2007)試驗(yàn)Bb：高溫

　　GB/T 2423.22-2012(IEC60068-2-14:2009)試驗(yàn)Na：溫度變化