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45MG超聲測厚儀:

操作簡便、堅固耐用、性能可靠

45MG儀器是一款帶有各種標準測量功能和軟件選項的高級超聲測厚儀。這款*特色的儀器與所有Olympus雙晶和單晶測厚探頭兼容，是一款集所有解決方案于一機的創(chuàng)新型儀器，可用于幾乎所有測厚應(yīng)用。

 

標準功能

45MG儀器在使用基本配置時，是一款易懂易學、操作簡便的測厚儀，操作人員經(jīng)過基本的培訓(xùn)，就可完成的測厚應(yīng)用。不過，45MG儀器添加了可選軟件選項和探頭后，就會變成一款極為高級的測厚儀，可以進行典型的初級儀器不能完成的應(yīng)用。此外，大多數(shù)選項可以在購買儀器時分別購買，或在日后需要時購買。
購買。

 l  與所有Olympus雙晶探頭兼容，可對內(nèi)部腐蝕的金屬的厚度進行測量
 l  小值/大值模式
 l  兩個報警模式
 l  差值模式
 l  時基B掃描
 l  縮減率
 l  增益調(diào)整（標準、高、低）
 l  密碼式儀器鎖定

帶有可選橡膠保護套和支架的45MG儀器
抵御惡劣環(huán)境的能力
     l  堅固耐用，設(shè)計符合IP67標準。
  l  爆炸性氣氛：可在國家防火協(xié)會規(guī)范（NFPA 70）500節(jié)I級2分段D組規(guī)定的爆炸性氣氛環(huán)境中安全操作，并且通過了美軍標準MIL-STD-810G方法511.4程序I中規(guī)定的測試。
  l  防撞擊測試：通過了美軍標準MIL-STD-810G方法516.5程序I中規(guī)定的測試，每軸6個循環(huán)，15 g，11 msec半弦波。
  l  防振動測試：通過了美軍標準MIL-STD-810G方法514.5程序I附錄C圖6中的測試，一般暴露：每軸1小時。
  l  寬泛的操作溫度范圍
  l  可選的帶有支架的橡膠保護套
簡便操作的設(shè)計理念
     l  可只用右手或左手操作的簡潔的鍵區(qū)
  l  可直接訪問大多數(shù)功能的簡便易行的操作界面
  l  使用內(nèi)置MicroSD存儲卡和可插拔MicroSD存儲卡的存儲方式
  l  USB通訊端口
  l  可存儲475000個厚度讀數(shù)或20000個波形的可選字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器
  l  默認或自定義單晶探頭設(shè)置（可選）
  l  密碼保護方式的儀器鎖定
  l  彩色透反QVGA顯示，帶有室內(nèi)和室外顏色設(shè)置，具有清晰度
可選功能
  只需幾次按鍵，即可完成從簡單腐蝕測厚儀到多功能測厚儀的華麗變身。45MG測厚儀提供需密碼激活的5個軟件選項，從而躋身于工業(yè)領(lǐng)域中用途泛的測厚儀行列。
      回波到回波/穿透涂層：使用回波到回波選項，儀器屏幕上會顯示金屬的實際厚度，而涂層的厚度會被忽略。穿透涂層選項測量金屬厚度與非金屬涂層的厚度，這兩個厚度都根據(jù)它們各自正確的材料聲速值得到了調(diào)整。因此，在進行厚度測量時，無需去掉材料表面的漆層或涂層。
單晶： 這個選項可對很多材料，如：金屬、塑料、復(fù)合材料、玻璃及陶瓷，進行非常厚度測量。這個選項可與范圍在2.25 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。
單晶高穿透：這個選項可對較厚或衰減性較高的材料，如：玻璃纖維或鑄造金屬，進行厚度測量?？膳c范圍在0.5 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。這個選項包含單晶選項。
數(shù)據(jù)記錄器：45MG測厚儀帶有一個功能齊全的內(nèi)置雙向字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器，可方便地存儲和傳輸厚度讀數(shù)和波形數(shù)據(jù)。這個選項包含基于Windows的GageView接口程序。
帶有波形調(diào)整功能的實時A掃描： 用戶使用這個可選實時A掃描模式，可以在測厚儀的顯示屏上直接查看超聲波形（或稱A掃描），核查厚度測量讀數(shù)，對增益和空白設(shè)置進行手動調(diào)整，以在具有挑戰(zhàn)性的應(yīng)用中大限度地增強測量性能。這個極為有益的選項包含手動增益調(diào)整、擴展空白、波空白、范圍及延遲參數(shù)。

室內(nèi)顯示設(shè)置，可選A掃描模式

室外顯示設(shè)置，可選A掃描模式
使用雙晶探頭對腐蝕工件進行測量
     45MG測厚儀的一個主要應(yīng)用是測量那些受腐蝕或侵蝕的管道、管件、箱體、壓力容器、船體外殼及其它結(jié)構(gòu)的剩余厚度。這些應(yīng)用中使用的是雙晶探頭。
       l  用于標準D79X系列雙晶探頭的自動探頭識別功能
   l  當校準過程中出現(xiàn)雙回波時，會發(fā)出雙回波警告
   l  回波到回波/穿透涂層選項可測量帶有漆層和涂層的表面
   l  高溫測量：溫度可高達500 °C
B掃描成像（基于時間）
     45MG儀器提供的B掃描功能，可在屏幕上將實時厚度讀數(shù)轉(zhuǎn)換為橫截面圖像。在觀察材料厚度在一定距離上發(fā)生的變化時，這個標準功能非常有用。探頭一接觸到材料表面，就會激活B掃描。凍結(jié)小值功能用于顯示掃查區(qū)域的小厚度值?？蛇x45MG數(shù)據(jù)記錄器多可存儲單個B掃描中的10000個厚度讀數(shù)。


室內(nèi)顯示設(shè)置，B掃描模式
回波到回波/穿透涂層選項
回波到回波
測厚儀使用多個底面回波，顯示不計涂層厚度的實際金屬厚度：
 l  自動回波到回波
 l  手動回波到回波（僅出現(xiàn)于A掃描選項），可進行以下操作：
   ?  增益調(diào)整
   ?  擴展空白
   ?  回波空白

顯示A掃描的自動回波到回波模式

調(diào)整回波空白的手動回波到回波模式
高溫表面

45MG測厚儀配上D932系列探頭（D790、D790--SM、D790-RL和D790-SL），是測量高溫材料（溫度高達500 oC）的理想選擇，并可獲得穩(wěn)定的厚度讀數(shù)。45MG的零位補償功能，通過補償探頭延遲塊因熱漂移而產(chǎn)生的溫度變化，提高了在高溫表面上進行測量的。
         
   
穿透涂層技術(shù)

使用單個底面回波測量金屬的實際厚度。使用這個技術(shù)可以分別顯示金屬和涂層的厚度。這兩個厚度都根據(jù)它們各自正確的材料聲速值得到了調(diào)整。因此，要得到金屬的厚度，無需去掉表面的漆層和涂層。穿透涂層測量技術(shù)使用D7906-SM、D7906-RM和D7908雙晶探頭。

顯示涂層厚度和鋼材料厚度的穿透涂層模式（波形選項未被激活）

顯示可選波形的穿透涂層模式
使用單晶探頭對工件進行量
對塑料、金屬、復(fù)合材料、玻璃、橡膠及陶瓷材料進行厚度測量
使用單晶探頭
用戶使用單晶探頭可測量金屬、塑料、復(fù)合材料、玻璃、陶瓷及其它材料的厚度。我們提供各種頻率、直徑和連接器類型的單晶探頭。如果用戶要將45MG儀器與單晶探頭配合使用，則必須購買單晶軟件或高穿透軟件選項。
     l  在使用頻率范圍為2.25 MHz到30 MHz的單晶探頭時，單晶軟件選項可顯示分辨率高達0.001毫米（0.0001英寸）的測量值。
  l  高穿透軟件選項用于測量玻璃纖維、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。
  l  測量厚度、聲速或渡越時間。
  l  自動調(diào)用默認設(shè)置和自定義設(shè)置用于當前應(yīng)用的功能簡化了厚度測量操作。
單晶軟件選項
用戶使用單晶軟件選項，可以完成分辨率高達0.001毫米或0.0001英寸的極為的厚度測量。這個選項可與范圍在2.25 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。
     l  大多數(shù)薄材料和厚材料
  l  壁厚薄如0.08毫米（0.003英寸）的塑料瓶、管件、管道及薄片材料
  l  壁厚薄如0.10毫米（0.004英寸）的金屬容器、鋼圈板、機加工部件
  l  汽缸孔、渦輪葉片
  l  玻璃燈泡、瓶子
  l  薄壁玻璃纖維、橡膠、陶瓷及復(fù)合材料
  l  曲面部分或內(nèi)圓角半徑較小的容器

高穿透軟件選項可以對很多鑄造金屬部件及聲波衰減性*的材料進行測量。
應(yīng)用設(shè)置調(diào)用
應(yīng)用設(shè)置調(diào)用功能簡化了厚度測量操作。用戶在選擇了任何一個存儲探頭后，45MG測厚儀即會調(diào)出所有與這個內(nèi)置探頭相關(guān)的參數(shù)。
存儲的標準設(shè)置
45MG儀器帶有21個標準單晶探頭設(shè)置，可用于的測量操作。這些默認探頭設(shè)置可用于各種各樣的厚度測量應(yīng)用。
存儲的自定義設(shè)置
45MG還可存儲多35個自定義單晶探頭的設(shè)置，其中還包括校準信息。用戶可以連接適當?shù)奶筋^，并調(diào)用設(shè)置文件，然后儀器便可進行厚度測量，甚至還可完成復(fù)雜的測厚應(yīng)用。
材料聲速測量
45MG儀器可以測量材料的聲速。在材料聲速與其它屬性密切相關(guān)的應(yīng)用中，這個標準功能非常有用。典型的應(yīng)用包括監(jiān)控鑄造金屬的球化程度，以及監(jiān)控復(fù)合材料/玻璃纖維的密度變化。
縮減率測量
差值模式和縮減率模式是45MG的標準功能。差值模式顯示實際厚度與預(yù)先設(shè)定的厚度值之間的差異?？s減率計算并顯示材料厚度變薄以后厚度縮減的百分比。對經(jīng)過彎曲變形并將制成車身面板的薄鋼板進行的縮減率測量是一個典型的應(yīng)用。

使用20 MHz延遲塊探頭測量薄塑料材料。

使用V260-SM Sonopen探頭對薄玻璃進行測量。

測量金屬板因彎曲變形而變薄的情況。

可測量包括塑料、金屬、橡膠、玻璃、陶瓷及復(fù)合材料在內(nèi)的很多材料的厚度。
單晶高穿透軟件選項


  用戶使用這個選項可在使用低頻單晶探頭（低到0.5 MHz）的情況下，測量橡膠、玻璃纖維、鑄件及復(fù)合材料等較厚或聲波衰減性較強的材料。 這個選項包含單晶選項。
       l  大多數(shù)較厚或聲音衰減性較強的材料
   l  厚鑄造金屬部件
   l  厚橡膠輪胎、履帶
   l  玻璃纖維船體、儲存罐
   l  復(fù)合材料板
   l  對于頻率范圍為0.5 MH到1.0 MHz的探頭，分辨率為0.01毫米（0.001英寸）

產(chǎn)品規(guī)格