目錄:上海騁利電子科技有限公司>>元器件參數(shù)測試儀器>>半導體器件CV特性測試>> TH513 半導體C-V特性分析儀
TH510系列半導體C-V特性分析儀是常州同惠電子根據(jù)當前半導體功率器件發(fā)展趨勢，針對半導體材料及功率器件設計的分析儀器。
儀器采用了一體化集成設計，二極管、三極管、MOS管及IGBT等半導體功率器件寄生電容、CV特性可一鍵測試，無需頻繁切換接線及設置參數(shù)，單管功率器件及模組功率器件均可一鍵快速測試，適用于生產(chǎn)線快速測試、自動化集成。
CV曲線掃描分析能力亦能滿足實驗室對半導體材料及功率器件的研發(fā)及分析。
儀器設計頻率為1kHz-2MHz，VGS電壓可達±40V，VDS電壓可達±200V/±1500V/±3000V，足以滿足大多數(shù)功率器件測試。
功能特點
A.一體化測試，集成度高、體積小、效率高
一臺儀器內(nèi)置了LCR數(shù)字電橋、VGS電壓源、VDS電壓源、高低壓切換矩陣以及上位機軟件，將復雜的接線、繁瑣的操作集成在支持電容式觸摸的Linux系統(tǒng)內(nèi)，操作更簡單。特別適合產(chǎn)線快速化、自動化測試。
B.單管器件測試，10.1寸大屏，四種寄生參數(shù)同屏顯示，讓細節(jié)一覽無遺
MOSFET或IGBT最重要的四個寄生參數(shù)：Ciss、Coss、Crss、Rg，Cies、Coes、Cres、Rg均可一鍵測試，10.1寸大屏可同時將測量結(jié)果、等效電路圖、分選結(jié)果等重要參數(shù)同時顯示，一目了然。
一鍵測試單管器件器件時，無需頻繁切換測試腳位、測量參數(shù)、測量結(jié)果，大大提高了測試效率。
C.列表測試，多個、多芯、模組器件測量參數(shù)同屏顯示
TH510系列半導體C-V特性分析儀支持最多6個單管器件、6芯器件或6模組器件測試，所有測量參數(shù)通過列表掃描模式同時顯示測試結(jié)果及判斷結(jié)果。
D.曲線掃描功能（選件）
在MOSFET的參數(shù)中，CV特性曲線也是一個非常重要的指標，如下圖
TH510系列半導體C-V特性分析儀支持C-V特性曲線分析，可以以對數(shù)、線性兩種方式實現(xiàn)曲線掃描，可同時顯示多條曲線：同一參數(shù)、不同Vg的多條曲線；同一Vg、不同參數(shù)多條曲線。
E.的接觸檢查（Contact）功能，提前排除自動化測試隱患
F.的快速通斷測試（OP_SH）,排除損壞器件
在半導體器件特性測試時，由于半器件本身是損壞件，特別是多芯器件其中一個芯已經(jīng)損壞的情況下，測試雜散電容仍有可能被為合格，而半導體器件的導通特性才是最重要的特性。
因此，對于本身導通特性不良的產(chǎn)品進行C-V特性測試是沒有必要的，不僅僅浪費了測量時間，同時會由于C-V合格而混雜在良品里，導致成品出貨后被退回帶來損失.
TH510系列半導體C-V特性分析儀提供了快速通斷測試（OP_SH）功能,可用于直接判斷器件本身導通性能。
G.模組式器件設置，支持定制
針對模組式器件如雙路（Dual）MOSFET、多組式IGBT，有些器件會有不同類型芯片混合式封裝;TH510系列CV特性分析儀針對此情況做了優(yōu)化，常見模組式芯片Demo已內(nèi)置，特殊芯片支持定制.
H.簡單快捷設置
I.10檔分選及可編程HANDLER接口
J.支持定制化，智能固件升級方式
同惠儀器對于客戶而言是開放的，儀器所有接口、指令集均為開放設計，客戶可自行編程集成或進行功能定制，定制功能若無硬件更改，可直接通過固件升級方式更新。
儀器本身功能完善、BUG解決、功能升級等，都可以通過升級固件(Firmware)來進行更新，而無需返廠進行。
固件升級非常智能，可以通過系統(tǒng)設置界面或者文件管理界面進行，智能搜索儀器內(nèi)存、外接優(yōu)盤甚至是局域網(wǎng)內(nèi)升級包，并自動進行升級
K.技術解決Ciss、Coss、Crss、Rg產(chǎn)線/自動化系統(tǒng)高速測試精度
同惠電子在電容測試行業(yè)近30年的經(jīng)驗積累，得以在產(chǎn)線、自動化測試等高速高精度測試場合，都能保證電容、電阻等測試精度。
常規(guī)產(chǎn)線測試，提供標準0米測試夾具，直插器件可直接插入進行測試，Ciss、Coss、Crss、Rg測試精度高。
針對自動化測試，由于自動化設備測試工裝通常需要較長連接線，大多自動化設備生產(chǎn)商在延長測試線時會帶來很大的精度偏差，為此，同惠設計了的2米延長線并內(nèi)置了2米校準，保證Ciss、Coss、Crss、Rg測試精度和0米測試夾具一致。
L.半導體元件寄生電容知識
在高頻電路中，半導體器件的寄生電容往往會影響半導體的動態(tài)特性，所以在設計半導體元件時需要考慮下列因數(shù)
在高頻電路設計中往往需要考慮二極管結(jié)電容帶來的影響；MOS管的寄生電容會影響管子的動作時間、驅(qū)動能力和開關損耗等多方面特性；寄生電容的電壓依賴性在電路設計中也是至關重要，以MOSFET為例。
M.標配附件
■ 半導體元件/功率元件
二極管、三極管、MOSFET、IGBT、晶閘管、集成電路、光
電子芯片等寄生電容測試、C-V特性分析
■ 半導體材料
晶圓切割、C-V特性分析
■ 液晶材料
彈性常數(shù)分析
■電容元件
電容器C-V特性測試及分析，電容式傳感器測試分析
產(chǎn)品型號 | TH511 | TH512 | TH513 | |||
通道數(shù) | 2（可選配4/6通道） | 1 | ||||
顯示 | 顯示器 | 10.1英寸(對角線)電容觸摸屏 | ||||
比例 | 16:9 | |||||
分辨率 | 1280×RGB×800 | |||||
測量參數(shù) | Ciss、Coss、Crss、Rg，四參數(shù)任意選擇 | |||||
測試頻率 | 范圍 | 1kHz-2MHz | ||||
精度 | 0.01% | |||||
分辨率 | 10mHz 1.00000kHz-9.99999kHz | |||||
100mHz 10.0000kHz-99.9999kHz | ||||||
1Hz 100.000kHz-999.999kHz | ||||||
10Hz 1.00000MHz-2.00000MHz | ||||||
測試電平 | 電壓范圍 | 5mVrms-2Vrms | ||||
準確度 | ±（10%×設定值+2mV） | |||||
分辨率 | 1mVrms 5mVrms-1Vrms | |||||
10mVrms 1Vrms-2Vrms | ||||||
VGS電壓 | 范圍 | 0 - ±40V | ||||
準確度 | 1%×設定電壓+8mV | |||||
分辨率 | 1mV 0V - ±10V | |||||
10mV ±10V -±40V | ||||||
VDS電壓 | 范圍 | 0 - ±200V | 0 - ±1500V | 0 - ±3000V | ||
準確度 | 1%×設定電壓+100mV | |||||
輸出阻抗 | 100Ω，±2%@1kHz | |||||
數(shù)學運算 | 與標稱值的偏差Δ，與標稱值的百分比偏差Δ% | |||||
校準功能 | 開路OPEN、短路SHORT、負載LOAD | |||||
測量平均 | 1-255次 | |||||
AD轉(zhuǎn)換時間（ms/次） | 快速+：2.5ms(＞5kHz) 快速：11ms 中速：90ms 慢速：220ms | |||||
準確度 | 0.5%（具體參考說明書） | |||||
Ciss、Coss、Crss | 0.00001pF - 9.99999F | |||||
Rg | 0.001mΩ - 99.9999MΩ | |||||
Δ% | ±（0.000% - 999.9%） | |||||
多功能參數(shù)列表掃描 | 點數(shù) | 50點，每個點可設置平均數(shù)，每個點可單獨分選 | ||||
參數(shù) | 測試頻率、Vg、Vd、通道 | |||||
觸發(fā)模式 | 順序SEQ：當一次觸發(fā)后，在所有掃描點測量，/EOM/INDEX只輸出一次 | |||||
步進STEP：每次觸發(fā)執(zhí)行一個掃描點測量，每點均輸出/EOM/INDEX，但列表掃描比較器結(jié)果只在最后的/EOM才輸出 | ||||||
圖形掃描 | 掃描點數(shù) | 任意點可選，最多1001點 | ||||
結(jié)果顯示 | 同一參數(shù)、不同Vg的多條曲線；同一Vg、不同參數(shù)多條曲線 | |||||
顯示范圍 | 實時自動、鎖定 | |||||
坐標標尺 | 對數(shù)、線性 | |||||
掃描參數(shù)觸發(fā)方式 | Vg、Vd | |||||
單次 | 手動觸發(fā)一次，從起點到終點一次掃描完成，下個觸發(fā)信號啟動新一次掃描 | |||||
連續(xù) | 從起點到終點無限次循環(huán)掃描 | |||||
結(jié)果保存 | 圖形、文件 | |||||
| 標配 | |||||
| 配件名稱 | 型號 | ||||
| TH510夾具控制連接電纜 | TH26063D | ||||
| TH510測試延長線 | TH26063G | ||||
| 選配 | |||||
| 配件名稱 | 型號 | ||||
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