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詳細(xì)介紹
SHJS系列介質(zhì)損耗測(cè)試儀是一種*的測(cè)量介質(zhì)損耗（tgδ）和電容容量（Cx）的儀器，用于工頻高壓下，測(cè)量各種絕緣材料、絕緣套管、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設(shè)備的介質(zhì)損耗（tgδ）和電容容量（Cx）。它淘汰了QSI高壓電橋，具有操作簡(jiǎn)單、中文顯示、打印，使用方便、無(wú)需換算、自帶高壓，抗干擾能力強(qiáng)等優(yōu)點(diǎn)。體積小、重量輕，揚(yáng)州高壓介質(zhì)損耗測(cè)試裝置報(bào)價(jià)是我廠(chǎng)的第三代智能抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀。
上海蘇霍介質(zhì)損耗測(cè)試儀廠(chǎng)家技術(shù)指標(biāo)
1、環(huán)境溫度：0~40℃（液晶屏應(yīng)避免長(zhǎng)時(shí)日照）
2、相對(duì)濕度：30％~70％
3、供電電源：電壓：220V±10％，頻率50±1Hz
4、外形尺寸：長(zhǎng)×寬×高=490mm×300mm×390mm
5、重量：約18kg
6、輸出功率：1KVA
7、顯示分辨率：4位
8、測(cè)量范圍：
介質(zhì)損耗（tgδ）：0-50％
電容容量（Cx）和加載電壓：
2.5KV檔：≤300nF（300000pF）
3KV檔：≤200nF（200000pF）
5KV檔：≤ 76nF（ 76000pF）
7.5KV檔：≤ 34nF（ 34000pF）
10 KV檔：≤ 20nF（ 20000pF）
9、基本測(cè)量誤差：
介質(zhì)損耗(tgδ)：1％±0.07％（加載電流20μA~500mA）正接
介質(zhì)損耗(tgδ)：2％±0.09％（加載電流 5μA~ 20mA）反接
電容容量( Cx )：1.5%±1.5pF
上海蘇霍介質(zhì)損耗測(cè)試儀廠(chǎng)家結(jié)構(gòu)
儀器為升壓與測(cè)量一體化結(jié)構(gòu)，輸出電壓2.5KV~10KV五檔可調(diào)，以適應(yīng)各種需要，在測(cè)量對(duì)無(wú)需任何外部設(shè)備。接線(xiàn)與QSI電橋相似，但比其方便。
工作原理
儀器測(cè)量線(xiàn)路包括一路標(biāo)準(zhǔn)回路和一路測(cè)試回路，如圖三所示。
標(biāo)準(zhǔn)回路由內(nèi)置高穩(wěn)定度標(biāo)準(zhǔn)電容器與標(biāo)準(zhǔn)電阻網(wǎng)絡(luò)組成，由計(jì)算機(jī)實(shí)時(shí)采集標(biāo)準(zhǔn)回路電流與測(cè)試回路的電流幅值及其相位差，并由之算出被測(cè)試品的電容容值（Cx）和其介質(zhì)損耗（tg）。
數(shù)據(jù)采集電路全部采用高穩(wěn)定度器件，采集板和采集計(jì)算機(jī)被鐵盒*浮空屏蔽，儀器的外殼接地屏蔽；另外使用了光導(dǎo)數(shù)據(jù)、浮空地、大面積地、單點(diǎn)地、數(shù)字濾波等抗干擾技術(shù)，加之計(jì)算機(jī)對(duì)數(shù)百個(gè)電網(wǎng)周期的數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，故測(cè)量結(jié)果穩(wěn)定、精確、可靠。
由圖三可見(jiàn)，高壓變壓器的高壓側(cè)和測(cè)量線(xiàn)路都是浮地的，用戶(hù)可根據(jù)不同的測(cè)量對(duì)象和測(cè)量需要，靈活地采用多種接線(xiàn)方式。如采用“正接線(xiàn)法"進(jìn)行測(cè)量時(shí)，可將“E"點(diǎn)接地；而當(dāng)采用“反接線(xiàn)法"進(jìn)行測(cè)量時(shí)，可將“UH"點(diǎn)接地，而將E點(diǎn)浮空。
圖中除測(cè)試品Cx外，其余為本儀器。細(xì)線(xiàn)框內(nèi)部分對(duì)儀器外殼能承受15KV工頻高壓5分鐘，額定耐壓10KV。儀器內(nèi)附標(biāo)準(zhǔn)電容CN，名義值為50PF，tgδ≤0.0001，耐壓10KV。高壓變壓器，額定輸出功率為1KVA。
★“E"點(diǎn)為儀器的內(nèi)屏蔽與測(cè)量電纜的屏蔽層相連，不是大地，與儀器的外殼也不連通！??！
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