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掃描離子電導顯微鏡SICM屬于掃描探針顯微鏡，它是一種具有納米級分辨率的顯微技術(shù)。區(qū)別于其他掃描探針顯微技術(shù)， SICM能夠在樣品表面非接觸的條件下獲取樣品表面形貌特性信息，并且SICM對樣品本身沒有要求,也不需做任何預(yù)處理。

掃描離子電導顯微鏡SICM（Scanning Ion Conductance Microscopy， SICM）
1、探針是一根中空的超微玻璃管，針尖為錐形，針尖內(nèi)徑約幾十到幾百納米；
2、在探針內(nèi)外均灌有電解質(zhì)溶液，并各放置一根電極,在電極的兩端通上電壓就會在溶液中產(chǎn)生離子電流；
3、當針尖與樣品距離較遠時，電流值的大小保持恒定，而當探針與樣品的距離減小到約為探針內(nèi)徑時，狹小的針尖/樣品空間就會限制離子通過，離子電流急速減?。?br style="padding: 0px; margin: 0px; outline: none; -webkit-tap-highlight-color: rgba(0, 0, 0, 0); box-sizing: border-box;"/>4、根據(jù)探針/樣品間距離與離子電流的關(guān)系，一個設(shè)定的電流值就代表了探針與樣品間一個固定的距離，讓探針在樣品表面以一定的路線移動掃描，控制器控制電流保持恒定以保證針尖與樣品始終保持同樣的距離，掃描完成后記錄下探針移動的軌跡即可代表樣品的表面形貌。

在 SICM 中，測量了微量移液管內(nèi)的一個準參考對電極 (QRCE) 和本體溶液中的一個之間的離子電導電流。 基材浸入電解液中。 在接近表面時，由于微量移液器開口和表面之間的擴散受阻，離子電導電流降低。 這允許非接觸式高分辨率地形成像。

SICM探針是一根中空的超微玻璃管，針尖為錐形，針尖內(nèi)徑約幾十到幾百納米；
在探針內(nèi)外均灌有電解質(zhì)溶液，并各放置一根電極,在電極的兩端通上電壓就會在溶液中產(chǎn)生離子電流