詳細介紹
物鏡378-822-5三豐Mitutoyo顯微鏡378-823-5
用于明場的近紅外校正物鏡
M Plan Apo NIR / M Plan Apo NIR HR
VMU FS70
■特長
?用于無限遠校正、明場觀察及激光加工
?長工作距離?計劃?阿波羅規(guī)格
?從可見區(qū)域(一般觀察波長范圍)到近紅外區(qū)域(波長~1800nm)進行了修正設(shè)計。
?NIR HR:高分辨率規(guī)格?分辨率提高約50%以上(標準型
上述規(guī)格欄的分辨率及物鏡單體的焦點深度是根據(jù)基準波長(λ=0.55μm)計算出的值。
注)使用波長在1100nm以上時,玻璃分散的變化和折射率等測量會產(chǎn)生誤差,比可見光的焦點位置稍有偏差。
■特長
?用于無限遠校正、明場觀察及激光加工
?長工作距離?計劃?阿波羅規(guī)格
?符合YAG激光器的基本波、第二諧波的激光高透過率類型。從可見光區(qū)域的420nm到近紅外區(qū)域的1064nm進行了修正設(shè)計。
?在保持NIR系列20×、50×NA的狀態(tài)下,實現(xiàn)了25.5mm的超長動作距離,大大提高了操作性。
上述規(guī)格欄的分辨率及物鏡單體的焦點深度是根據(jù)基準波長(λ=0.55μm)計算出的值。
注)使用波長在1100nm以上時,玻璃分散的變化和折射率等測量會產(chǎn)生誤差,比可見光的焦點位置稍有偏差。
物鏡378-822-5三豐Mitutoyo顯微鏡378-823-5
M Plan Apo NIR 5 × 378-822-5 0.14 37.5 40 2.0 14.0 4.8 0.96 × 1.28 220
M Plan Apo NIR 10 × 378-823-5 0.26 30.5 20 1.1 4.1 2.4 0.48 × 0.64 250
M Plan Apo NIR 20 × 378-824-5 0.40 20.0 10 0.7 1.7 1.2 0.24 × 0.32 300
M Plan Apo NIR 50 × 378-825-5 0.42 17.0 4 0.7 1.6 0.48 0.10 × 0.13 315
M Plan Apo NIR 100 × 378-826-15 0.50 12.0 2 0.6 1.1 0.24 0.05 × 0.06 335
Mitutoyo | 542-715 |
HEISHIN | 1005 |
TOKYO SEIMITSU | DM45513 |
DM43827 | |
COPAL | PG-100N-102R |
PA-830-102A-05 | |
MITUTOYO | 12AAB421 |
0102515 | |
COPAL | PZ-200 |
E-DT-SE19B | |
RSK | 740B 0.02 |