詳細(xì)介紹
物鏡鏡頭378-802-6日本三豐Mitutoyo顯微鏡
無(wú)限遠(yuǎn)校正
?用于明眼界觀察
?長(zhǎng)工作距離
?計(jì)劃?阿波羅規(guī)格
●上述規(guī)格欄的分辨率及物鏡單體的焦點(diǎn)深度是根據(jù)基準(zhǔn)波長(zhǎng)(λ=0.55μm)計(jì)算出的值。
※1觀察反射率低的被檢物時(shí),推薦使用與所使用的顯微鏡對(duì)應(yīng)的偏光裝置。
※2觀察反射率低的被檢物時(shí),推薦同時(shí)使用M Plan Apo2×1/4波長(zhǎng)板(No.02 ALN370)和偏光裝置。注)動(dòng)作距離縮短4mm。
※3單體物鏡安裝時(shí)的規(guī)格(根據(jù)安裝的顯微鏡不同,有時(shí)無(wú)法滿足標(biāo)記規(guī)格)。
單獨(dú)使用垂直反射照明時(shí),請(qǐng)將入射到物鏡上的照明光束設(shè)置在16.8mm(物鏡瞳孔直徑)以上。
物鏡鏡頭378-802-6日本三豐Mitutoyo顯微鏡
M Plan Apo 100 × | 378-806-3 | 0.70 | 6.0 | 2 | 0.4 | 0.6 | 0.24 | 0.05 × 0.06 | 320 |
Plan Apo HR M Plan Apo HR 5 × ※ 3 |
378-787-4 |
0.21 |
25.5 |
40 |
1.3 |
6.2 |
4.8 |
0.96 × 1.28 |
285 |
M Plan Apo HR 10 × ※ 3 | 378-788-4 | 0.42 | 15.0 | 20 | 0.7 | 1.60 | 2.4 | 0.48 × 0.64 | 460 |
M Plan Apo HR 50 × | 378-814-4 | 0.75 | 5.2 | 4 | 0.4 | 0.49 | 0.48 | 0.10 × 0.13 | 400 |
M Plan Apo HR 100 × | 378-815-4 | 0.90 | 1.3 | 2 | 0.3 | 0.34 | 0.24 | 0.05 × 0.06 | 410 |
無(wú)限遠(yuǎn)校正
?用于明眼界觀察
?長(zhǎng)工作距離
?計(jì)劃?阿波羅規(guī)格
●上述規(guī)格欄的分辨率及物鏡單體的焦點(diǎn)深度是根據(jù)基準(zhǔn)波長(zhǎng)(λ=0.55μm)計(jì)算出的值。
※1觀察反射率低的被檢物時(shí),推薦使用與所使用的顯微鏡對(duì)應(yīng)的偏光裝置。
※2觀察反射率低的被檢物時(shí),推薦同時(shí)使用M Plan Apo2×1/4波長(zhǎng)板(No.02 ALN370)和偏光裝置。注)動(dòng)作距離縮短4mm。
※3單體物鏡安裝時(shí)的規(guī)格(根據(jù)安裝的顯微鏡不同,有時(shí)無(wú)法滿足標(biāo)記規(guī)格)。
單獨(dú)使用垂直反射照明時(shí),請(qǐng)將入射到物鏡上的照明光束設(shè)置在16.8mm(物鏡瞳孔直徑)以上。
無(wú)限遠(yuǎn)校正
?用于明眼界觀察
?長(zhǎng)工作距離
?計(jì)劃?阿波羅規(guī)格
●上述規(guī)格欄的分辨率及物鏡單體的焦點(diǎn)深度是根據(jù)基準(zhǔn)波長(zhǎng)(λ=0.55μm)計(jì)算出的值。
※1觀察反射率低的被檢物時(shí),推薦使用與所使用的顯微鏡對(duì)應(yīng)的偏光裝置。
※2觀察反射率低的被檢物時(shí),推薦同時(shí)使用M Plan Apo2×1/4波長(zhǎng)板(No.02 ALN370)和偏光裝置。注)動(dòng)作距離縮短4mm。
※3單體物鏡安裝時(shí)的規(guī)格(根據(jù)安裝的顯微鏡不同,有時(shí)無(wú)法滿足標(biāo)記規(guī)格)。
單獨(dú)使用垂直反射照明時(shí),請(qǐng)將入射到物鏡上的照明光束設(shè)置在16.8mm(物鏡瞳孔直徑)以上。
OHM | OA-QM5-600 |
IMADA-SS | SVZ-200NB-200R3 INCLUDING GC-51 |
3M | LM1 |
IIJIMA | IM-100P |
RO-103S | |
SSM-21P | |
MCR-4V | |
TOKYO | E-MC-S57A |
HRC-50 | |
HRC-25 | |
OHNISHI | OS-146A |
Mitutoyo | 152-402 |
Lobtex | R1B1 |
Mecome | HS-121-N |