貝克休斯BakerHughes德國KK美國GE SEB2探頭
探頭選擇準(zhǔn)則與性能說明：
直探頭---雙晶
• 接受發(fā)射單元用串?dāng)_擋板分開
• 缺陷或背反射平行于表面，可被垂 直于表面的聲束探測(cè)
• 近表面分辨率好，用于較薄部件
• 需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
• 通常用于手動(dòng)檢測(cè)
特性
獨(dú)立的聲波發(fā)射和接收單元
縱波垂直傳輸
小焦距探頭具有非常好的近場(chǎng)分辨率
使用耐磨的塑料延遲塊，即使在粗糙或彎曲的表面也能很好耦合性
延遲塊由一個(gè)金屬環(huán)保護(hù)以防磨損
在焦點(diǎn)內(nèi)特別適合剩余壁厚的測(cè)量
加上延遲塊（定制產(chǎn)品）能夠在高溫表面測(cè)量
應(yīng)用
近表面的小缺陷探測(cè)和評(píng)估
焦點(diǎn)內(nèi)大缺陷以及平行于表面分布的缺陷檢測(cè)
腐蝕、銹蝕剩余壁厚的測(cè)量（包括高溫情況下測(cè)量）
粘結(jié)檢測(cè)
螺釘，螺栓，銷釘
覆層和堆焊層
軸，桿，方坯芯檢測(cè)
粗晶材料
火車車輪
探頭選擇準(zhǔn)則—?dú)W洲規(guī)格
按照歐洲標(biāo)準(zhǔn)生產(chǎn)的探頭, 本目錄提供的技術(shù)性能信息依照下表定義。 絕大多數(shù)的探傷儀探頭都免費(fèi)提供性能數(shù)據(jù)表。
性能參數(shù) | 解釋 |
晶片尺寸 D 或 a ×b | 探頭晶片的直徑D或長度×寬度a ×b 。它的尺寸大小對(duì)聲波的傳輸有極大的影響 。輕微的偏差，如形狀的偏差,或粘接不良造成的位置偏差而產(chǎn)生的聲能衰減，即使是利用參考缺陷進(jìn)行標(biāo)定,都將產(chǎn)生嚴(yán)重的評(píng)估誤差。 |
標(biāo)稱頻率f | 所有相同類型探頭的均值頻率，頻率對(duì)反射體的評(píng)定有大的影響 。對(duì)斜反射體，頻率甚至影響聲場(chǎng) 波形和反射特性 。隨著頻率的增加，非垂直反射體對(duì)聲束的反射回波減小 。這就是為什么每一個(gè)探頭都要由我們的質(zhì)量控制部門根據(jù)鑒定標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行嚴(yán)格檢測(cè)，以確定其頻率是否與標(biāo)稱頻率相一致，保證在一定的誤差范圍內(nèi)。這個(gè)數(shù)據(jù)輸入到探頭的數(shù)據(jù)參數(shù)表。 |
帶寬B | 脈沖回波的幅值比最高幅值下降6dB之間的頻率范圍。 fo=幅值下降6dB的上限頻率，fu=幅值下降6dB的下限頻率，f為標(biāo)稱頻率。 例如，當(dāng)B=100%， 一個(gè)4 MHz的探頭的fo為6 MHz，而fu為2 MHz。 大的帶寬意味著更短的脈沖回波，也就意味著高的分辨率和更好的穿透能力， 因?yàn)榈皖l脈沖比標(biāo)稱頻 率脈沖的衰減小 。在高衰減情形下，與標(biāo)稱頻率相比，隨著距離的增加，反射信號(hào)的頻率減小 。這一 點(diǎn)在進(jìn)行缺陷評(píng)估時(shí)必須要加以考慮 。因此每一個(gè)探頭的帶寬都要進(jìn)行檢查，并且與所有探頭的平均值相一致，保證在一定的誤差范圍內(nèi)。 |
焦距F | F ：小缺陷產(chǎn)生蕞大回波時(shí)探頭到小缺陷的距離。探頭要進(jìn)行聚焦以便探測(cè)小缺陷并得到蕞大的回波幅值，只有在探頭的近場(chǎng)才可能聚焦。 |
近場(chǎng)長度N | 近場(chǎng)長度N是非聚焦探頭的焦距長度，它是聲軸線上能得到聲壓ji大值的最遠(yuǎn)距離 。N的大小由D 、c 和f來決定 。 其中λ為波長，c為聲速， Deff是單元有效直徑 焦點(diǎn)處和近場(chǎng)長度處聲能最為集中，反射體最易識(shí)別。因此重要測(cè)試場(chǎng)合一般預(yù)期缺陷在焦距或近場(chǎng)長度處。表中的數(shù)據(jù)對(duì)鋼材而言，而水浸探頭為水。 |
焦點(diǎn)直徑FD6 | 在焦距或近場(chǎng)長度附近，聲壓值比主聲軸下降6dB處到主聲軸的距離 。 |
脈沖形狀 | 來自于平面反射面的信號(hào)表述。 |
頻譜 | 回波脈沖中所有頻率的顯示，頻率幅值在頻率上顯示。 |
聲束角度 β | 主聲束與檢測(cè)面法線之間的夾角 |
貝克休斯BakerHughes德國KK美國GE SEB2探頭
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