手持式光譜分析儀ROHS檢測儀

產(chǎn)品包括有手持式ROHS檢測儀Genius 3000XRF，合金分析儀Genius 5000XRF，礦石分析儀Genius 7000XRF，土壤重金屬分析儀Genius 9000XRF等一系列型號，可充分滿足從原料檢測，生產(chǎn)過程控制到成品檢驗中各種元素成分的現(xiàn)場在線分析，金屬材料的可靠性鑒別和合號快速識別，土壤重金屬現(xiàn)場檢測，各類地質(zhì)礦樣的野外原位多元素分析等市場需求。

該系列產(chǎn)品通過嚴格檢測和驗證，各項指標(biāo)均符合相關(guān)技術(shù)要求，技術(shù)達水平。產(chǎn)品已開始批量銷售于國內(nèi)外市場，受到客戶的好評，打破國外廠家的壟斷。

天瑞在已掌握的成熟的臺式X射線熒光光譜儀技術(shù)為基礎(chǔ)，結(jié)合國外相關(guān)新的技術(shù)發(fā)展成果，以現(xiàn)有的商品化手持式X射線熒光光譜儀為性能目標(biāo)，在手持式一代、二代和三代的開發(fā)基礎(chǔ)上，加入了的元素，研制出具有自主知識產(chǎn)權(quán)的，滿足市場需求的智能、便攜式的Genius XRF 手持式四代X熒光分析儀系列產(chǎn)品。

新一代Genius XRF系列是專門針對在現(xiàn)場，野外進行X熒光分析的應(yīng)用而設(shè)計，具有體積小，重量輕，普通人可手持測量的特點；產(chǎn)品超小、超輕、超美、超安全、超方便、超長待機時間、超防水、超準、超快等特點，并在小型X射線儀上引入了數(shù)字多道技術(shù)，使儀器檢出限更好，穩(wěn)定性更高，適用面更廣。

手持式光譜分析儀ROHS檢測儀

性能優(yōu)勢

性能堪比臺式機
小功率端窗一體化微型光管、大面積鈹窗SDD硅漂移探測器（世界上的探測器）及微型數(shù)字信號多道處理器三大核心技術(shù)的引入，大幅降低測試時間、提高檢測精度、減少測試誤差，使手持式儀器具有與臺式相近的測試性能。
小巧便攜、操作快捷
體積很小，便攜、方便野外工作。隨時隨地，隨心所欲的現(xiàn)場分析和原位分析。
無損檢測
整個檢測過程被測樣品無任何損壞
快速檢測
儀器既可手持1-2秒對樣品進行快速測試，也能使用座式對樣品進行較長時間的精細測試，10秒即可進行接近實驗室精度的測量。
新增輕元素檢測功能
較三代手持式X熒光分析儀，增加了可充氣系統(tǒng)，可采用常壓充氦氣系統(tǒng)對設(shè)備充氣。從而實現(xiàn)檢測從Mg開始的元素，大大擴展測試元素范圍，滿足特定客戶輕元素檢測需求。
直接測定無需制樣
野外分析無需制備樣品，可直接在待測物表面進行測定，可分析任何樣品類型，包括電子電器產(chǎn)品、合金樣品、地質(zhì)礦產(chǎn)、土壤、巖石、泥土、殘渣、固體小顆粒、液體沉積物等。
高清攝像頭檢測更加
內(nèi)置高清晰攝像頭，可以隨時觀察被測樣品的測試位置，這一點情況在RoHS、地礦樣品中猶為重要。

有害元素分析儀，合金分析儀，礦石分析儀，土壤重金屬分析儀均配置的應(yīng)用軟件。的軟件界面和內(nèi)核，將FP和EC軟件相結(jié)合，應(yīng)用面更廣大。靈敏度高、測試時間短、操作簡易，對操作人員限制很小的特點。
準直濾光片，三倍功效提升
在準直濾光片組合基礎(chǔ)上，從原有4組增加到12組的,提升了三倍。
數(shù)據(jù)傳輸更加高速
采用嵌入式Windows CE系統(tǒng)，高顯示分辨率（640*480）液晶顯示觸摸屏，結(jié)合數(shù)字多道技術(shù)，采用SPI數(shù)據(jù)傳輸，有效提升數(shù)據(jù)傳輸能力與數(shù)據(jù)運算能力。在任何環(huán)境中，測試數(shù)據(jù)都盡在掌中。
輻射防護、關(guān)愛健康
三重安全防護功能，自動感應(yīng)，具有無樣品空測，2秒自動關(guān)X光管功能；工作時的輻射水平遠低于安全標(biāo)準，無射線泄漏；加厚防護測試壁；配送測試防護安全罩。
電量強勁、充電方便
鋰電池電量容量7800mAH，可連續(xù)工作8小時，較前三代設(shè)備，續(xù)航能力增加一倍。并配備了寬電壓的交流充電器或車載式充電器，隨時隨地進行測試。
警告指示，預(yù)防誤操作
警告指示系統(tǒng)，通電時綠色指示燈亮，測試時黃色輻射指示燈閃爍，防止誤操作。
多重防護，經(jīng)久耐用
儀器自身具備防水防塵功能，并可在高溫高濕環(huán)境下連續(xù)使用，其保護箱采用高強度軍工用品，有良好的防潮防震防壓三防功能
偏差校正輕松到位
多種測試模式設(shè)置及無限數(shù)目模式的自由添加，配合自動測試模式匹配功能，實現(xiàn)一鍵式輕松測試。內(nèi)置強度校正方法，可校正幾何狀態(tài)不同和結(jié)構(gòu)密度不均勻的樣品造成的偏差。
軟件，操作簡易。