產(chǎn)品簡介
詳細介紹
X-ray鍍層測厚儀_天瑞儀器 介紹
早期,X熒光鍍層測厚儀基本被國外廠家(德國費希爾,日本精工,牛津等)壟斷,用戶可以選擇的廠家比較少。天瑞儀器1992年開始做光譜儀,是一家生產(chǎn)光譜儀的廠家,在X熒光鍍層檢測方面,*打破國外的技術(shù)壟斷。天瑞Thick800A內(nèi)置了天瑞研發(fā)的信噪比增強器與數(shù)字多道分析器,在測試精度可以與進口設(shè)備PK過程中不落下風(fēng)。超低的檢出限使儀器的性能在與進口設(shè)備(費希爾,精工,牛津等)PK過程中不落下風(fēng);儀器使用方便,測試快捷,可以測試鍍金、鍍鎳、鍍銅、鍍鉻、鎳鋅、鍍銀、鍍鈀等金屬鍍層厚度。
X-ray鍍層測厚儀_天瑞儀器 鍍層厚度測試方法一般有以下幾種方法:1、光學(xué)顯微鏡法。適用標(biāo)準(zhǔn)為:GB/T6462-20052、X-ray法(X射線法)。適用標(biāo)準(zhǔn)為:GB/T16921-20053、庫侖法,此法一般為仲裁方法。適用標(biāo)準(zhǔn)為:GB/T4955-2005測量標(biāo)準(zhǔn)1國標(biāo)GB/T 16921-2005/ISO 3497:2000 金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測量X射線光譜方法 2.美國標(biāo)準(zhǔn)A754/A754M-08Coating Weight(mass)of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence
天瑞Thick800A具如下特點:1. 高精度移動平臺可定位測試點,重復(fù)定位精度小于0.005mm;2. 采用高度定位激光,可自動定位測試高度滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求;3. φ0.2mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測試點的需求;4. 定位激光確定定位光斑,確保測試點與光斑對齊;5. 鼠標(biāo)可控制移動平臺,鼠標(biāo)的位置就是被測點;6. 高分辨率探頭使分析結(jié)果更加,微小測試點更;7. X射線鍍層測厚儀廠家優(yōu)勢在于滿足客戶要求的情況下,價格更優(yōu)惠、售后服務(wù)更方便,維護成本更低。 測試實例鍍鎳器件是比較常見的電鍍器件,其鎳鍍層在保護銅基體免受氧化同時還能起到美觀的作用。這里以測試客戶的一件銅鍍鎳樣品為例說明此款儀器的測試效果。
以下使用Thick800A儀器對銅鍍鎳樣品實際測試Ni層厚度,七次的結(jié)果其標(biāo)準(zhǔn)偏差和相對標(biāo)準(zhǔn)偏差。且可在樣品上進行定位測試,其測試位置如圖。