鍍層測厚儀Thick800A,天瑞儀器優(yōu)點：
1、快速檢測，檢測一個點的厚度僅需要幾秒到幾十秒
2、無損，無需要破壞樣品，直接經(jīng)過X射線照射，就可得出鍍層厚度數(shù)據(jù)
3、便捷，對樣品沒有特殊要求，基本無需對樣品進行處理
4、儀器外觀選用*的流線型設(shè)計，時尚雅致。
5、同時分析元素周期表中由硫(S)到鈾（U）。
6、可以分析多5層鍍層，一次可分析元素多達24種。
7、無需復(fù)雜的樣品預(yù)處理過程，無損測試。
8、檢出限可達到2ppm。
9、分析測量動態(tài)范圍寬，可從0.005μm到60μm 。

鍍層測厚儀Thick800A,天瑞儀器采用美國原裝、的探測器，能量分辨率高。
X射線鍍層測厚儀Thick800A是天瑞儀器在Thick 680的基礎(chǔ)上研發(fā)生產(chǎn)的新一代鍍層測厚儀。新儀器在硬件、軟件上都有很大的改進，運用新型的上照式設(shè)計，配備的Si-Pin半導(dǎo)體探測器，軟件上加入了無標(biāo)樣FP法的，使儀器在鍍層行業(yè)的運用上更廣泛了。而且天瑞儀器更是從美國采購了全套的電鍍鍍層標(biāo)樣，能夠滿足電鍍和表面處理廠家?guī)缀跛械腻儗雍穸鹊臏y量。同時儀器還可以分析電鍍液及鍍層成分的分析。
鍍層測厚儀Thick 800A特點：
該儀器專門針對電鍍及表面處理行業(yè)中的鍍層厚度測量、膜厚檢測、鍍層元素分析和電鍍液的成分分析。
1、上照式，X射線光線從上方照射到檢測樣品上，對樣品的形狀沒有要求，可以滿足不規(guī)則樣品的測試需求，而且更適合測量硅晶片等不適合接觸測量臺的樣品；
2、狹縫（準直器），主要是限制X射線的照射面積，可以調(diào)節(jié)X射線的尺寸，以滿足各種尺寸樣品的測試需求。儀器可以提供4種準直器，分別是0.1mm、0.2mm、0.3mm、0.5mm四種，小直徑達0.1mm，可以輕松實現(xiàn)精小部位的測試，同時可根據(jù)測試需求電動切換準直器，根據(jù)樣品的大小，選擇合適的準直器，得到足夠的激發(fā)強度，使測量更加；
3、樣品測試平臺，儀器可分為手動移動平臺和高精度的可編程的自動移動平臺，重復(fù)定位的精度小于0.005mm；
4、輔助光斑定位測量，簡便快捷的激光樣品定位系統(tǒng)，可自動定位測試高度，并能測試點和光斑重合；
5、視頻攝像頭，配備高精度視頻攝像頭，樣品放入樣品腔，可以實時觀測樣品，同時鼠標(biāo)可控制移動平臺，鼠標(biāo)的位置就是被測點；
6、高分辨率探測器，運用的SI-Pin探測器，能量分辨率遠好于比例接收器，適合測量多層鍍層及干擾比較大的鍍層成分，使測量結(jié)果更加；
7、良好的射線屏蔽作用，X射線，只有在鉛玻璃罩*關(guān)閉時，X射線才會開啟，保護操作人員不會受到輻射的危險。
8、簡單易操作的X射線鍍層測厚儀軟件一套，每款X射線儀器都需要配置功能強大的軟件，由天瑞儀器自主創(chuàng)新設(shè)計的鍍層測試軟件，易操作便于應(yīng)用，自動化程度高，真正可以做到一鍵操作。
鍍層測厚儀Thick 800A技術(shù)參數(shù)：
    1. 元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)；
2. 元素含量分析范圍為1PPm到99.99%；
3. 測量時間：30-60秒(可調(diào))；
4. 同時分析鍍層層數(shù)：多可達5層
5. 鍍層檢測厚度：0.005-50μm(視材料類型而有所不同)
6. 能量分辨率為129±5e電子伏特；
7. 溫度適應(yīng)范圍為15℃30℃；

鍍層測厚儀Thick 800A標(biāo)準配置：
鍍層膜厚儀Thick 800A標(biāo)準配置
分析測試鍍層軟件V1.0
Si－Pin半導(dǎo)體探測器
鉛玻璃屏蔽罩
進口大功率X光管
超大開放式的樣品腔
雙激光定位裝置，高度傳感器，保護傳感器
進口高低壓電源
品牌電腦（聯(lián)想）及打印機（佳能）
鍍層測厚儀Thick 800A應(yīng)用領(lǐng)域：
1、PCB板行業(yè)，鍍金鍍鎳鍍銅、鍍錫鍍銅等鍍層厚度測量；

2、裝飾性鍍層鍍鉻、鍍銅、鍍鎳等鍍層厚度測量；
3、緊固件螺絲及螺母防腐鍍層測量，如鐵鍍鋅、鐵鍍鎳鍍鋅等鍍層厚度測量；
4、電子行業(yè)接插件和觸點的測量；
5、電子元器件，二極管、圓晶鍍層測量，如銅鍍錫、鍍銀，圓晶鍍銀、鍍硅的厚度測量；
6、電鍍和表面處理企業(yè)的電鍍鍍層測量
鍍層測厚儀主要針對金屬鍍層（鍍金，鍍鎳，鍍錫，鍍鋅，鍍銅，鍍銀，鍍銠，鍍鈀等）厚度測試，廣泛應(yīng)用于線路板、五金工具，汽車配件，電子連接器，高壓開關(guān)，衛(wèi)浴等企業(yè)中，得到了客戶的廣泛應(yīng)用和認可。