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上照式X熒光無損測厚儀

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  • 品牌 SKYRAY/天瑞儀器
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
  • 所在地 蘇州市
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更新時(shí)間:2023-11-08 12:43:05瀏覽次數(shù):1761

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產(chǎn)品簡介

上照式X熒光無損測厚儀 是天瑞儀器銷量的鍍層測厚儀;儀器采用上照式結(jié)構(gòu),測試,軟件界面簡潔,測試樣品用時(shí)40S,售后服務(wù)可靠及時(shí)。

詳細(xì)介紹

 上照式X熒光無損測厚儀鍍層厚度測試方法一般有以下幾種方法:1.光學(xué)顯微鏡法。適用標(biāo)準(zhǔn)為:GB/T6462-20052.X-ray法(X射線法)。適用標(biāo)準(zhǔn)為:GB/T16921-20053.庫侖法,此法一般為仲裁方法。適用標(biāo)準(zhǔn)為:GB/T4955-2005測量標(biāo)準(zhǔn)1.國標(biāo)GB/T 16921-2005/ISO 3497:2000 金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測量X射線光譜方法2.美國標(biāo)準(zhǔn)A754/A754M-08Coating Weight(mass)of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence應(yīng)用行業(yè)1.電子半導(dǎo)體行業(yè)接插件和觸點(diǎn)的厚度測量2.印刷線路板行業(yè)功能鍍層厚度測量3.貴金屬飾手表行業(yè)鍍層厚度測量4.五金電鍍行業(yè)各種防腐性、裝飾性及功能鍍層厚度測量
儀器分析原理儀器采用XRF光譜分析技術(shù),X光管產(chǎn)生的X射線打到被測樣品時(shí)可以擊出原子的內(nèi)層電子,出現(xiàn)殼層空穴,當(dāng)外層電子從高軌道躍遷到低能軌道來填充軌道空穴時(shí),就會(huì)產(chǎn)生特征X射線。X射線探測器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號轉(zhuǎn)換成易于測量的電信號來得到待測元素的特征信息。


 上照式X熒光無損測厚儀儀器配置                                            1    硬件:主機(jī)壹臺(tái),含下列主要部件: ①X光管                    ②半導(dǎo)體探測器③放大電路                  ④高精度樣品移動(dòng)平臺(tái)⑤高清晰攝像頭             ⑥高壓系統(tǒng)⑦上照、開放式樣品腔        ⑧雙激光定位⑨玻璃屏蔽罩2   軟件:天瑞X射線熒光光譜儀FpThick分析軟件V1.03   計(jì)算機(jī)、打印機(jī)各一臺(tái)計(jì)算機(jī)(品牌,P4,液晶顯示屏)、打印機(jī)(佳能,彩色噴墨打印機(jī))4   資料:使用說明書(包括軟件操作說明書和硬件使用說明書)、出廠檢驗(yàn)合格證明、裝箱單、保修單及其它應(yīng)提供資料各一份。5   標(biāo)準(zhǔn)附件準(zhǔn)直孔:0.1X1.0mm(已內(nèi)置于儀器中) 儀器軟件優(yōu)勢:                                     儀器采用天瑞軟件研發(fā)團(tuán)隊(duì)研發(fā)的能量色散X熒光FpThick軟件,的FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化應(yīng)用軟件,具有高靈敏度、測試時(shí)間短、一鍵智能化操作。譜圖區(qū)域采用動(dòng)態(tài)模式,測試時(shí)元素觀察更直觀。軟件具有多種測試模式設(shè)置和無限數(shù)目模式自由添加,內(nèi)置強(qiáng)度校正方法,可校正幾何狀態(tài)不同和結(jié)構(gòu)密度不均勻的樣品造成的偏差。 儀器參數(shù)規(guī)格1   分析元素范圍:S-U2   同時(shí)可分析多達(dá)5層以上鍍層3   分析厚度檢出限達(dá)0.005μm4   多次測量重復(fù)性可達(dá)0.01μm5   定位精度:0.1mm6   測量時(shí)間:30s-300s7   計(jì)數(shù)率:1300-8000cps8   Z軸升降范圍:0-140mm9   X/Y平臺(tái)可移動(dòng)行程:50mm(W)×50mm(D) 性能特點(diǎn)1.滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求2.φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測試點(diǎn)的需求,可以對同一鍍件不同部位測試厚度3.高精度移動(dòng)平臺(tái)可定位測試點(diǎn),重復(fù)定位精度小于0.005mm4.采用高度定位激光,可自動(dòng)定位測試高度5.定位激光確定定位光斑,確保測試點(diǎn)與光斑對齊6.鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái),鼠標(biāo)的位置就是被測點(diǎn)7.高分辨率探頭使分析結(jié)果更加8.良好的射線屏蔽作用9.測試口高度敏感性傳感器保護(hù) 樣品測試流程: 測試實(shí)例鍍鎳器件是比較常見的電鍍器件,其鎳鍍層在保護(hù)銅基體免受氧化同時(shí)還能起到美觀的作用。這里以測試客戶的一件銅鍍鎳樣品為例說明此款儀器的測試效果。
以下使用Thick800A儀器對銅鍍鎳樣品實(shí)際測試Ni層厚度,七次的結(jié)果其標(biāo)準(zhǔn)偏差和相對標(biāo)準(zhǔn)偏差。且可在樣品上進(jìn)行定位測試,其測試位置如圖。 結(jié)論實(shí)驗(yàn)表明,使用Thick800A 儀器對鍍件膜厚測試,結(jié)果度高,速度快(幾十秒),其測試效果*可以和顯微鏡測試法媲美。 質(zhì)量1. 乙方對所出售本合同所規(guī)定的儀器進(jìn)行終身維修;2. 軟件免費(fèi)升級:如有軟件升級,乙方將免費(fèi)提供軟件升級,不再收取升級費(fèi)用;3. 保修條款3.1. 儀器設(shè)備自驗(yàn)收合格之日起免費(fèi)保修1年;3.2. 免費(fèi)保修期內(nèi),維修相關(guān)費(fèi)用全免;3.3. 保修期結(jié)束后,乙方為甲方提供維修服務(wù)的資費(fèi)標(biāo)準(zhǔn)如下:交通費(fèi)、住宿費(fèi)由甲方承擔(dān);資費(fèi)標(biāo)準(zhǔn):硬件成本費(fèi)用——按乙方時(shí)價(jià)計(jì)算硬件運(yùn)輸費(fèi)——實(shí)報(bào)實(shí)銷服務(wù)費(fèi)——300元 / 人 / 天人員交通費(fèi)——實(shí)報(bào)實(shí)銷人員住宿費(fèi)用——¥200元/天4. 技術(shù)服務(wù)的響應(yīng)期限:提供有效的技術(shù)服務(wù),在接到用戶故障信息后,4小時(shí)內(nèi)響應(yīng);如有必要,12~72個(gè)小時(shí)內(nèi)派人上門維修和排除故障。  質(zhì)量措施 1.管理能力: 本司通過了ISO9001質(zhì)量體系認(rèn)證,公司各方面的管理都非常規(guī)范。2 

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