產(chǎn)品綜述
4037系列頻譜分析儀設(shè)計(jì)注重性能和成本的*優(yōu)化，兩個(gè)系列共10個(gè)型號(hào)，兼顧中和中低端應(yīng)用需求；設(shè)計(jì)技術(shù)*且成熟，綜合性能優(yōu)異；側(cè)重用戶使用靈活性、便利性需求，測(cè)試速度快；具備自測(cè)試與自校準(zhǔn)功能，性能穩(wěn)定，測(cè)試數(shù)據(jù)重復(fù)性好；提供SCPI指令集和VISA及IVI儀器驅(qū)動(dòng)庫(kù)，程控開(kāi)發(fā)效率高。 該產(chǎn)品采用系列化設(shè)計(jì)思想，滿足您的不同需求，可通過(guò)添加或刪減選件

4037系列頻譜分析儀

產(chǎn)品綜述

4037系列頻譜分析儀設(shè)計(jì)注重性能和成本的zui佳優(yōu)化，兩個(gè)系列共10個(gè)型號(hào)，兼顧中高端和中低端應(yīng)用需求；設(shè)計(jì)技術(shù)*且成熟，綜合性能優(yōu)異；側(cè)重用戶使用靈活性、便利性需求，測(cè)試速度快；具備自測(cè)試與自校準(zhǔn)功能，性能穩(wěn)定，測(cè)試數(shù)據(jù)重復(fù)性好；提供SCPI指令集和VISA及IVI儀器驅(qū)動(dòng)庫(kù)，程控開(kāi)發(fā)效率高。 該產(chǎn)品采用系列化設(shè)計(jì)思想，滿足您的不同需求，可通過(guò)添加或刪減選件，實(shí)現(xiàn)與您需求的zuijia匹配。該產(chǎn)品提供中/英文兩種操作界面，7英寸高亮度彩色微反液晶顯示屏，分辨率高、視角寬，適應(yīng)各種光線環(huán)境。采用標(biāo)準(zhǔn)3U高便攜式機(jī)箱，結(jié)構(gòu)堅(jiān)固、輕便，通過(guò)CE安全認(rèn)證。主要用于電子產(chǎn)品開(kāi)發(fā)、生產(chǎn)線在線測(cè)試、組建自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)等。

功能特點(diǎn)

頻率范圍寬，低至30Hz，高達(dá)26.5GHz。

動(dòng)態(tài)范圍大，1dB增益壓縮點(diǎn)0dBm，TOI（三階截獲點(diǎn)）+10dBm，DANL（顯示平均噪聲電平）優(yōu)于-165dBm（內(nèi)部前置放大器選件，1GHz處典型值）。

相位噪聲性能優(yōu)異，頻偏10kHz處，達(dá)-110dBc/Hz（低相噪選件，典型值）。

掃描時(shí)間范圍寬，非零頻寬1ms～2000s，零頻寬1us～4000s。

測(cè)試速度快，測(cè)試速率高達(dá)每秒90次。

全數(shù)字中頻，頻譜分辨率高，最小分辨率帶寬達(dá)1Hz（FFT分析選件）。

自動(dòng)校準(zhǔn)，環(huán)境適應(yīng)能力強(qiáng)。

提供掃頻分析和FFT分析兩種頻譜分析模式，可靈活優(yōu)化測(cè)試速度和動(dòng)態(tài)范圍。

分辨率帶寬1-2-3-5步進(jìn)，可實(shí)現(xiàn)頻寬與分辨率帶寬的zuijia組合，優(yōu)化頻譜分辨率。

提供常規(guī)、正峰值、負(fù)峰值、取樣、平均值等多種視頻檢波方式，用戶在測(cè)試不同類型的信號(hào)時(shí)可以靈活選擇，快速獲得所需測(cè)試結(jié)果。

提供多達(dá)6條顯示軌跡，支持多條軌跡不同視頻檢波方式下的同步測(cè)試；提供多達(dá)12個(gè)頻標(biāo)，讀數(shù)方式靈活，支持頻標(biāo)跨軌跡標(biāo)識(shí)。

支持天線因子編輯功能，滿足場(chǎng)強(qiáng)測(cè)試需要。

采用嵌入式計(jì)算機(jī)及多任務(wù)操作系統(tǒng)，方便對(duì)測(cè)試結(jié)果的存儲(chǔ)、打印及數(shù)據(jù)共享。

采用7英寸高亮度彩色微反液晶顯示屏，分辨率高、視角寬，在陽(yáng)光照射下依然保持清晰的顯示。

菜單操作簡(jiǎn)便、參數(shù)設(shè)置全面，支持外接鼠標(biāo)、鍵盤(pán)、VGA進(jìn)行測(cè)試操作。

提供3個(gè)USB2.0接口，支持移動(dòng)存儲(chǔ)設(shè)備和即插即用外設(shè)。

支持10M/100M自適應(yīng)的網(wǎng)絡(luò)互聯(lián)。

支持GPIB、LAN程控，程控指令集符合SCPI 1999.0規(guī)范。提供符合規(guī)范要求且經(jīng)過(guò)嚴(yán)格測(cè)試的VISA和IVI儀器驅(qū)動(dòng)庫(kù)，方便用戶構(gòu)建自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)。

極低的顯示平均噪聲電平
     開(kāi)啟內(nèi)部前置放大器，顯示平均噪聲電平（DANL）低至-165dBm/Hz（1GHz處，典型值）。
     
優(yōu)異的相位噪聲性能
     本產(chǎn)品擁有國(guó)產(chǎn)中檔頻譜分析儀中zui優(yōu)的相位噪聲性能，載波1GHz頻偏10kHz處，噪聲邊帶達(dá)-110dBc/Hz（典型值）。
     
極快的測(cè)量速度
     本產(chǎn)品擁有國(guó)產(chǎn)中檔頻譜分析儀中較快的測(cè)試速度。非零頻寬掃描時(shí)間低至1ms，測(cè)試速率高達(dá)每秒90次。
     
多種平均值檢波方式
     本產(chǎn)品提供三種平均值檢波方式：功率（RMS）、電壓和對(duì)數(shù)功率。用戶可根據(jù)待測(cè)信號(hào)特征來(lái)選擇合適的平均值檢波方式，快速獲得準(zhǔn)確的平均數(shù)據(jù)。
     
多軌跡同步測(cè)試及靈活的頻標(biāo)讀數(shù)
     本產(chǎn)品提供多達(dá)6條顯示軌跡和12個(gè)頻標(biāo)。支持用戶同時(shí)激活多條軌跡、并選擇不同的視頻檢波方式對(duì)信號(hào)進(jìn)行同步測(cè)試。本產(chǎn)品的頻標(biāo)功能靈活，支持用戶在多條軌跡上同時(shí)激活多個(gè)頻標(biāo)，并支持跨軌跡的頻標(biāo)互為參考，進(jìn)行相對(duì)參數(shù)測(cè)量。
     
中、英文操作界面，寬屏彩色液晶顯示
     本產(chǎn)品目前提供中、英文兩種語(yǔ)言操作界面，可根據(jù)不同用途及場(chǎng)合通過(guò)菜單進(jìn)行選擇。7英寸高亮度彩色微反液晶顯示屏，儀器參數(shù)設(shè)置一目了然，軌跡圖形顯示細(xì)膩，在陽(yáng)光照射下依然可保持清晰視覺(jué)感受。
     
強(qiáng)大的交互接口
     除基本的時(shí)基和觸發(fā)接口外，本產(chǎn)品還提供USB、GPIB及LAN等三種數(shù)據(jù)通信接口，滿足數(shù)據(jù)文件的傳輸拷貝及程控互聯(lián)應(yīng)用。VGA接口提供與液晶顯示器同步的視頻信息，便于監(jiān)控或演示。
   

典型應(yīng)用

各類發(fā)射機(jī)及振蕩源測(cè)試
     4037系列頻譜分析儀可用于各類發(fā)射機(jī)本振、信號(hào)源及振蕩器等的研制、生產(chǎn)與調(diào)試、測(cè)試等，對(duì)其進(jìn)行頻率、功率、寄生、諧波失真、相位噪聲、調(diào)制等指標(biāo)的測(cè)試。
     

元器件及部件性能測(cè)試
     4037系列頻譜分析儀除常規(guī)頻譜分析測(cè)試應(yīng)用外，與一臺(tái)合成信號(hào)源組合，即可方便的構(gòu)建一套大動(dòng)態(tài)范圍標(biāo)量網(wǎng)絡(luò)測(cè)試系統(tǒng)，可對(duì)濾波器、放大器、電纜、連接器等部件或元器件進(jìn)行增益、插損、頻率響應(yīng)、帶寬、諧波失真等傳輸參數(shù)的測(cè)量，配合電橋可實(shí)現(xiàn)反射參數(shù)的測(cè)量；與兩臺(tái)合成信號(hào)源組合使用，即可對(duì)放大器、混頻器等有源或非線性部件進(jìn)行增益壓縮、三階交調(diào)失真等參數(shù)的測(cè)試。
     

電子產(chǎn)品生產(chǎn)線測(cè)試及外場(chǎng)維護(hù)、檢修
     4037系列頻譜分析儀定位為中高檔頻譜分析儀，具有測(cè)試速度快、精度高、讀數(shù)靈活等特點(diǎn)，非常適合用于生產(chǎn)線在線測(cè)試。同時(shí)，4037系列頻譜分析儀實(shí)現(xiàn)了測(cè)試性能與機(jī)體結(jié)構(gòu)的*結(jié)合，一方面減小了整機(jī)的尺寸、重量和功耗，另一方面又保持了較高的性能指標(biāo)，因此，也非常適合外場(chǎng)測(cè)試應(yīng)用，尤其是需要現(xiàn)場(chǎng)故障診斷與維修的場(chǎng)合。
     
構(gòu)建自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)
     4037系列頻譜分析儀具有強(qiáng)大的連通能力，其程控指令集符合SCPI 1999.0規(guī)范。提供符合規(guī)范要求且經(jīng)過(guò)嚴(yán)格測(cè)試的VISA和IVI儀器驅(qū)動(dòng)庫(kù)，方便用戶構(gòu)建自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)。