產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
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產(chǎn)品簡介
詳細介紹
介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷的一項重要的物理性質(zhì),通過測定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(shù)(ε),可進一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素,為提高材料的性能提供依據(jù);SZ-STD-A介電常數(shù)測試儀可廣泛應(yīng)用于大專院校、科研院所對無機非金屬新材料性能的應(yīng)用研究。
主要技術(shù)指標
1.頻率范圍及刻度誤差
范圍:50KHz~50MHz共分七個波段,允許誤差:+2%
1.1:50~150KHz; 1.2:150~450KHz
1.3:450~1500KHz; 1.4:1.5~4.5MHz
1.5:4.5~12MHz; 1.6:12~25MHz
1.7:25~50MHz;
2.Q值測量范圍及誤差
范圍:5~500
SZ-STD-A介電常數(shù)測試儀誤差:
1)當頻率從5~25KHz
量程5~50 +5%, 量程15~150 +5%,量程50~500 +7%
2)當頻率從25~50MHz,所有量程均為+10%
3)△Q范圍:-25 ~ 0 ~ +25。
3.電感測量范圍及誤差:范圍:0.1μH~100mH,誤差:+5%+0.01μH
4.試樣尺寸
圓片形:厚度2+0.5mm,直徑為Φ30~40mm(ε<12時);
Φ25~35mm(ε=12~30時)Φ15~20mm(ε>30時)。