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顯而易見，X射線衍射儀是材料學相關領域基礎且不能缺少的分析手段，具備無損、樣品制備簡單等優(yōu)勢。X射線衍射儀一般主要由X射線光源部分、測角儀、樣品臺、光路系統(tǒng)、探測器五大部分組成。

Bruker在已有的D2 Phaser的基礎上，結合具備優(yōu)異性能的LYNXEYE系列能量色散陣列探測器的優(yōu)勢，在桌面衍射儀這個平臺上大膽的嘗試了新的結構和運動邏輯，強勢推出了一款跨界的桌面衍射系統(tǒng)——D6 Phaser。

產品亮點總結：

Ⅰ.功率可選的X射線光源

D6 Phaser提供了兩種可選的X射線光源功率， 600W/1200W，測試強度可媲美大型落地式機型，滿足不同應用需求。

Ⅱ.高精度的測角儀

D6 Phaser保證在剛玉標樣全譜范圍內（20－140°），任何一個衍射峰的測量誤差不超過±0.01°，與大型落地式機型旗鼓相當。

Ⅲ.多功能平臺拓展

D6 Phaser同時還可以實現(xiàn)以前只有在大型落地式機型上的多功能測試，如：

◇  薄膜掠入射測試（GID）

◇  薄膜反射率測試（XRR）殘余應力測試

◇  織構測試

◇  毛細管透射測試

從功能性的角度出發(fā)，上一代桌面式衍射儀D2 PHASER由于空間大小的限制，只能完成粉末、塊體、常規(guī)薄膜等樣品的分析測試，無法實現(xiàn)更多功能的拓展；

而D6 PHASER則打破了桌面式衍射儀功能上的限制，如：

①薄膜掠入射（GID）測試：利用平行光路和可以調整樣品高度的Z軸樣品臺的配合；

②應力&織構測試：采用點焦斑和具備Chi和Phi方向運動的樣品臺的配合；

③原位變溫測試：利用原位變溫的樣品倉來實現(xiàn)；

④毛細管透射：需毛細管樣品臺和透射光學的配合等，這些應用的拓展將在薄膜材料、金屬材料、藥物、陶瓷材料等領域實現(xiàn)重要的功能延升，實現(xiàn)桌面式衍射儀的多功能平臺。

從基本配置選擇上，D6 PHASER也提供更多的適用性：

①光管功率：提供了三種選擇，用戶可根據(jù)應用來選擇更適用的匹配；

②自動進樣裝置：D6 PHASER提供的12位的自動進樣裝置供用戶選擇，很大程度上節(jié)省了人工成本；

③水冷的選擇：D6 PHASER除了自身的內部水冷以外，用戶亦可選擇外接等等，更加追求并支持不同用戶不同需求的定制化方案。

此外，D6 PHASER也是秉承了布魯克的傳統(tǒng)優(yōu)勢。

θ/θ掃描方式的高精度測角儀，給您準確的角度位置，為您的物相定性打下基礎；同樣可搭載LYNXEYE全系的能量色散陣列探測器，相比傳統(tǒng)的陣列探測器多了能量分辨的功能，很大程度上免除了噪音和背景對數(shù)據(jù)的干擾，提升了信噪比和峰背比，為您的全譜擬合、結構精修、無標定量等保駕護航。

D6 PHASER二維衍射實現(xiàn)方法D6 PHASER提供了反射幾何下的兩種二維衍射實現(xiàn)方法，Bragg-2D和Phi-1D掃描方法：

Bragg-2D方法中不需要移動樣品，相反地，通過選擇較大的入射光路發(fā)散度，將樣品大面積暴露在X射線束下，并在Δ? vs. 2Theta空間中可視化展現(xiàn)來自不同晶粒的衍射信號。

Phi-1D方法則需要使用旋轉樣品臺，使用較窄的X射線束照射樣品，探測器定位在特定的2Theta峰位置，通過旋轉樣品同時連續(xù)探測器快照拍攝來對晶粒進行成像。相應的X射線衍射儀樣品臺配置如圖1所示。

圖1. D6 PHASER固定樣品臺(左)用于Bragg2D衍射，旋轉樣品臺(右)用于Bragg2D和Phi-1D二維衍射

圖2顯示了粗晶粒粉末樣品的二維衍射圖，包含大量的不連續(xù)斑點。在常規(guī)的一維粉末衍射測量中，衍射信號將沿著衍射線進行積分，用戶不會意識到樣品粒度是不均勻的。而現(xiàn)在得益于快速的二維衍射測量，用戶認識到在進行定量的一維XRD測量之前，樣品應該被更細的粉碎。

圖2. DIFFRAC.COMMANDER界面展示粗糖樣品的Phi-1D掃描

圖像的水平軸對應于Phi旋轉，而垂直軸顯示探測器快照。數(shù)據(jù)采集使用D6 PHASER 600W, Co靶，K-beta濾波器，2.5°Soller準直器，可變發(fā)散狹縫(恒定開口，0.25 mm)，無空氣散射屏。使用LYNXEYE-2探測器進行連續(xù)phi掃描，步長0.9度，曝光時間1秒，總掃描時間401秒，探測器達到 2Theta開口4.97°。

第二個例子(圖3)展示了小晶粒的優(yōu)先取向情況。垂直線顯示了較寬的強度調制，然而對于隨機取向的材料來說，強度應該是恒定的。此外，衍射信號具有不同的寬度，表明存在微觀應變。對于該測試鋁箔，只有通過樣品的不同取向測試才能獲得更好的平均信號。相對應地，在測量粉末樣品時，在樣品制備過程中應盡量重新定向晶體使其更加取向隨機，或者用較小的接觸壓力將粉末壓實。

圖3. DIFFRAC.EVA軟件二維展示使用Co特征X射線測量的軋制鋁板樣品的Phi-1D掃描圖譜