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掃描式分光光度計

ESSENT OPTICS公司的Photon RT UV-VIS-MWIR分光光度計用于光學(xué)元件的無人值守測試，分光光度計可自動在不同角度對光學(xué)元件進行各種偏振態(tài)的透過率和絕對反射率測試，不需要額外添加附件。

· 偏光和分光立方體

· 寬帶增透膜

· 激光平面鏡和標準平面鏡

· 不同形狀和設(shè)計的棱鏡和楔形鏡

    ·干涉濾光片:

· 長波通

· 短波通

· 二向色濾光片

· 多波段鍍膜

掃描式分光光度計產(chǎn)品特點

       快速的光柵切換，使掃描時間大幅縮短，以185-3500nm的測試范圍為例，在掃描步進間距2nm，每個點重復(fù)測試次數(shù)20的設(shè)置下，掃描測試時間僅為6分鐘。掃描式 分光光度計測試范圍可寬達185-5200nm，常規(guī)鹵素?zé)?/span>在5000nm附近能量波動明顯，導(dǎo)致基線不穩(wěn)定，測試精度和重復(fù)性較差，Photon RT采用特殊的紅外光源，使基線在5000nm左右依然穩(wěn)定。

      •內(nèi)置寬波段，預(yù)校準的起偏器，用戶可自定義S:P比率，起偏器可覆蓋220nm-5200nm（不同型號機型對應(yīng)起偏器的覆蓋范圍請見配置清單）

      •樣品臺、探測器轉(zhuǎn)臺和探測器底座可獨立旋轉(zhuǎn)，實現(xiàn)多角度以及特殊角度的測試。

      •掃描式 分光光度計具有探測器自動橫向位移功能，探測器橫向位移60mm，在進行厚樣品軸外透過率測試時，可根據(jù)樣品的厚度、折射率自動計算出光線偏折，并進行探測器位置補償。在進行復(fù)雜的棱鏡測試時，操作人員根據(jù)樣品內(nèi)部 結(jié)構(gòu)計算光線出射方向及位置，在軟件端輸入探測器角度和橫向移動位置，使傳感器接收到棱鏡的出射光。

      •多功能樣品臺，除標準樣品臺以外，新增批量測試樣品臺，XY軸可調(diào)樣品臺和Z軸可調(diào)樣品臺。

      •內(nèi)置氮氣吹掃管道

      1.200nm以下的測試，氮氣吹掃可減少氧氣和有機溶劑的吸收效應(yīng)

      2.2550-2800nm的測試，可減少水蒸氣和二氧化碳氣體的吸收

      3.4200-4300nm的測試，可減少二氧化碳氣體的吸收

      4.連續(xù)工作在紫外波段時，可保護光學(xué)元件

      掃描式 分光光度計測試曲線示例：

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