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好消息!法國(guó)Phasics公司高精度紅外/近紅外波前傳感器取得出口豁免,無(wú)需出口許可!
法國(guó)Phasics成立于2003年,提供zui先jin的光學(xué)計(jì)量和成像解決方案。PHASICS公司波前傳感器采用其獲得zuan利的四波橫向剪切干涉測(cè)量術(shù)(QWLSI)。這項(xiàng)技術(shù)克服Shack-Hartmann傳感器的局限性,從而可以獲得超高分辨率、高靈敏度(亞納米)和寬動(dòng)態(tài)范圍。
近期法國(guó)PHASICS公司從法國(guó)商務(wù)部獲悉,公司提交申請(qǐng)的高精度紅外(3-5um &8-14um)/近紅外(900-1700nm)波前傳感器出口豁免申請(qǐng)已獲得通過(guò)。這就意味著客戶采購(gòu)SID4-DWIR紅外(3-5um &8-14um)和SID4-SWIR近紅外(900-1700nm)波前傳感器時(shí)無(wú)需再提供最終用戶備案。
下面我們將為大家詳細(xì)的介紹下這幾款波前分析儀:
1. SID4-SWIR近紅外(900-1700nm)波前傳感器
圖1 SID4-SWIR波前分析儀
SID4-SWIR近紅外(900-1700nm)波前傳感器產(chǎn)品特點(diǎn):
高相位分辨率:160x128 or 80x64
高重復(fù)度:<2nm RMS
高測(cè)量精度:15nm RMS
工作波段:900-1700nm
高靈敏度:可適用于低功率紅外光源測(cè)試
瞬時(shí)相位測(cè)量,對(duì)振動(dòng)不敏感
可接受非準(zhǔn)直光入射,光路搭建簡(jiǎn)易快捷
2. SID4-DWIR紅外(3-5um & 8-14um)波前分析儀
圖2 SID4-DWIR波前分析儀
SID4-DWIR紅外(3-5um & 8-14um)波前分析儀產(chǎn)品特點(diǎn):
寬工作波段:3-5um & 8-14um
高相位分辨率:160x120
高重復(fù)度:25nm RMS
高測(cè)量精度:75nm RMS
對(duì)振動(dòng)不敏感
可接受非準(zhǔn)直光入射,光路搭建簡(jiǎn)易快捷
3. 近紅外 or 紅外光學(xué)元器件面型、透射波前、MTF測(cè)試系統(tǒng)
圖3 Kaleo Kit紅外測(cè)試模組
近紅外 or 紅外光學(xué)元器件面型、透射波前、MTF測(cè)試系統(tǒng)產(chǎn)品特點(diǎn):
多波長(zhǎng):266nm, 355nm, 405nm,550nm, 625nm, 780nm, 940nm, 1050 nm,1.55um, 2.0um, 3.39um, 10.6um
大口徑:Up to 5.1"(130mm)
高重復(fù)度精度:<0.7nm RMS
高測(cè)量精度:80nm PV
對(duì)震動(dòng)不敏感
測(cè)試案例:
圖4 非球面測(cè)試結(jié)果
圖5 平面測(cè)試結(jié)果
圖6 鏡頭透射波前測(cè)試結(jié)果
圖7 鏡頭MTF測(cè)試結(jié)果
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