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深紫外斯托克斯偏振態(tài)測(cè)量儀 參考價(jià)：面議
深紫外斯托克斯偏振態(tài)測(cè)量儀：在紫外波長（180nm-200nm）范圍內(nèi)基于雙PEM（光彈調(diào)制器）的偏振測(cè)量系統(tǒng)為量化光的斯托克斯參數(shù)提供精度與靈敏度。該科研級(jí)高...
光纖偏振態(tài)測(cè)量儀 參考價(jià)：面議
光纖偏振態(tài)測(cè)量儀：SK010PA是一款通用型偏振分析儀，該偏振分析儀通常用于對(duì)自由空間光路和保偏光纖光路進(jìn)行偏振分析與測(cè)試?？蓪?shí)時(shí)對(duì)四個(gè)斯托克斯參數(shù)進(jìn)行測(cè)量以獲...
微小區(qū)域薄膜厚度測(cè)量儀 參考價(jià)：面議
微小區(qū)域薄膜厚度測(cè)量儀-MPROBE 40 MSP，MProbe 40 測(cè)量薄膜厚度和折射率單擊鼠標(biāo)在小地方。顯微分光光度計(jì) (MSP) 集成在系統(tǒng)中同時(shí)結(jié)合顯...
原位薄膜厚度測(cè)量儀 參考價(jià)：面議
原位薄膜厚度測(cè)量儀-MPROBE 50 INSITU-昊量用于測(cè)量薄膜厚度和 n&k（光學(xué)常數(shù)）的實(shí)時(shí)光學(xué)測(cè)量儀。該系統(tǒng)可以在高環(huán)境光下工作，因?yàn)樗褂瞄T控?cái)?shù)據(jù)...
小尺寸寬帶偏振態(tài)測(cè)量儀 參考價(jià)：面議
PolSNAP是一款緊湊的偏振測(cè)量儀，來自Hinds Instruments;公 司，數(shù)據(jù)采集速率為每秒2000個(gè)樣本，從而得以每秒快速確 定4個(gè)Stokes矢...
通訊波段偏振消光比測(cè)量儀 參考價(jià)：面議
該消光比測(cè)試儀PEM-330采用技術(shù)制造，可實(shí)現(xiàn)1260～1630nm全波段測(cè)量。只需更換測(cè)試光源，無需購買多臺(tái)消光比測(cè)試儀，即可實(shí)現(xiàn)不同波段器件的精確測(cè)量，一...
超寬帶偏振態(tài)測(cè)量儀 參考價(jià)：面議
超寬帶偏振態(tài)測(cè)量儀結(jié)合了Meadowlark Optics公司*的液晶可變相位延遲器技術(shù)和偏振技術(shù)，具有超寬帶、高精度及無運(yùn)動(dòng)部件等特點(diǎn)。(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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