目錄:上海西努光學(xué)科技有限公司>>Park原子力顯微鏡>>小樣品AFM>> Park NX12原子力顯微鏡
產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子 |
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多功能原子力顯微鏡平臺,滿足納米級測量的需求
· 原子力顯微鏡(AFM)有納米級分辨率成像以及電,磁,熱和機(jī)器性能測量的能力。
· 納米管掃描系統(tǒng)可用于高分辨率掃描離子電導(dǎo)顯微鏡(SICM).
· 倒置光學(xué)顯微鏡(IOM)便于透明材料研究和熒光顯微鏡一體化。
通過驗證的NX10性能
通過倒置光學(xué)顯微鏡樣品平臺,Park NX12將Park原子力顯微鏡的多功能性和準(zhǔn)確性相結(jié)合。這使得使用者更容易的使用納米管技術(shù)去研究透明,不透明,或軟或硬的樣品。
電化學(xué)測試的優(yōu)秀平臺
電池,燃料電池,傳感器和腐蝕等電化學(xué)研究是個快速增長的領(lǐng)域,然后許多原子力顯微鏡不能直接滿足其特殊的需求。Park NX12的人性化設(shè)計,為快速操作提供便利,從而達(dá)到化學(xué)研究人員要求的功能性和靈活性。這主要包括:
· 多功能易用電化學(xué)池
· 惰性氣體和濕度的環(huán)境控制選項
· 雙恒電位儀的兼容性
研究人員可利用Park NX12平臺實現(xiàn)各種電化學(xué)應(yīng)用:
· 掃描電化學(xué)顯微鏡(SECM)
· 掃描電化學(xué)池顯微鏡(SECCM)
· 電化學(xué)原子力顯微鏡(EC-AFM)和電化學(xué)掃描隧道顯微鏡( EC-STM)
考慮建立多用戶設(shè)備
Park NX12*重新構(gòu)建,以適應(yīng)多用戶設(shè)備需求。其他原子力顯微鏡解決方案缺乏必要的多功能性,難以滿足該設(shè)備中用戶的多重需求,很難合理控制設(shè)備成本。然而,Park NX12旨在能夠容納標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境原子力顯微鏡成像,液體掃描探針顯微鏡,光學(xué)和納米光學(xué)成像,使其成為最靈活的原子力顯微鏡之一。
模塊化設(shè)計
· Park NX12是專門針對專業(yè)電化學(xué)研究人員需求量身定制的原子力顯微鏡平臺。
· 它基于化學(xué)和電化學(xué)性質(zhì),氣體和液體中介質(zhì)的特性,為掃描探針顯微鏡提供了一個通用的解決方案,可用于廣泛的不透明和透明材料。
· Park NX12基于其廣泛的可視光投置到掃描探針的掃描探針顯微鏡技術(shù)的納米管,易用性強(qiáng)。
· Park NX12準(zhǔn)確度是多用戶設(shè)備和職業(yè)研究人員的理想平臺。
多功能應(yīng)用
Park NX12功能廣泛,包括液體中的PinPoint ™和納米力學(xué),倒置光學(xué)顯微鏡定位透明樣品,離子電導(dǎo)顯微鏡超軟樣品成像,以及改善透明樣品光學(xué)性能的可視性。
綜合性的力譜方法
Park NX12提供了一種在液態(tài)和空氣中的納米力學(xué)表征的完整套餐,使其成為廣泛應(yīng)用中的理想選擇。
模塊化
NX12模塊化設(shè)計,安裝簡單,兼容性強(qiáng),可以滿足您的多種實驗需求。
適合早期職業(yè)研究人員的有競爭力的價格和靈活性
早期職業(yè)研究人員通常沒有足夠的預(yù)算購買價格高昂的原子力顯微鏡。Park NX12不僅是經(jīng)濟(jì)實惠的入門之選,同時還提供了可隨著職業(yè)發(fā)展而不斷壯大的模塊化平臺。它不同于其他價格相近的原子力顯微鏡,Park NX12配有*的研究級精度和功能,可為在空氣和液體中的透明和不透明材料提供其表面形態(tài)納米級分辨率。這使得新的化學(xué),材料科學(xué)或生物化學(xué)實驗室的最佳投資回報成為可能。
Park SmartScan™自動模式下的單擊成像
Park NX12配備了我們的SmartScan™操作系統(tǒng),使其成為市場上最易使用的原子力顯微鏡之一。其界面直觀給力,即使是未經(jīng)培訓(xùn)的用戶也可以無需監(jiān)控,快速掃描樣品。這使得高級研究人員能夠?qū)⑺麄兊慕?jīng)驗專注在解決更大的問題和開發(fā)更好的方案。
易使用性
共享實驗室的用戶通常背景各異,經(jīng)驗水平各異。NX12為每個用戶提供簡單的點擊界面和自動化SmartScan™模式。
打開原子力顯微鏡系統(tǒng)后,具體操作如下:
功能高級,價格親民
NX12的功能和精度通常僅在較高價格的方案中可見,包括:
AFM 掃描頭
柔性引導(dǎo)高推動力掃描器
掃描范圍:15μm(可選 30μm)
SICM 掃描頭
多層壓電疊層驅(qū)動器驅(qū)動的柔性引導(dǎo)結(jié)構(gòu)
掃描范圍:15μm(可選 30μm)
閉環(huán)控制的柔性引導(dǎo)XY掃描器
掃描范圍:100μm ×100μm
XY 驅(qū)動臺行程范圍: 15 mm x 15 mm Z 驅(qū)動臺行程范圍: 25 mm 聚焦驅(qū)動臺行程范圍: 15 mm
樣品表面和懸臂的直觀同軸影像
視野: 840 μm × 630 μm (10倍物鏡)
攝像頭: 5 M Pixel (默認(rèn)), 1M Pixel (可選)
物鏡
10倍 (NA. 0.23) 超長工作距離鏡頭
信號處理
ADC: 18 通道 24-bit ADC 的 X, Y 和 Z 掃描器位置傳感器 DAC: 17 通道 20-bit DAC的 X, Y 和 Z 掃描器定位
集成功能
4通道數(shù)字鎖相放大器 彈性系數(shù)校準(zhǔn)(熱方法) 數(shù)據(jù)Q 控制
標(biāo)準(zhǔn)成像: 真正的非接觸模式, 接觸模式, 側(cè)向摩擦力顯微術(shù)(LFM), 相位成像模式, 輕敲模式, Pinpoint™模式:Pinpoint成像
化學(xué)性能: 掃描電化學(xué)池顯微鏡(SECCM), 掃描電化學(xué)顯微鏡(SECM), 電化學(xué)原子力顯微鏡(EC-AFM)和電化學(xué)掃描隧道顯微鏡(EC-STM), 功能化探針的化學(xué)力顯微鏡
介電/壓電性能: 靜電力顯微鏡, 動態(tài)接觸式靜電力顯微鏡(EFM-DC), 壓電力顯微鏡 (PFM), 高電壓PFM
力測量: 力-距離(F-D)光譜, 力譜成像
磁性能: 磁力顯微鏡(MFM), 可調(diào)外加磁場MFM
熱性能: 掃描熱顯微鏡(SThM)
電性能: 導(dǎo)電AFM(CP-AFM), Pinpoint™ 導(dǎo)電AFM, I-V譜線, 掃描開爾文探針顯微鏡(SKPM/KPM), 高電壓SKPM, QuickStep™掃描電容顯微鏡(SCM), 掃描電阻顯微鏡(SSRM), 掃描隧道顯微鏡(STM), 掃描隧道光譜(STS), 光電流測繪(PCM), Current-distance(I/d) Spectroscopy (with SICM)
機(jī)械性能: Pinpoint™納米力學(xué)模式, 力調(diào)制顯微鏡(FMM), 納米壓痕, 納米刻蝕, 高電壓納米刻蝕, 納米操縱
Park SmartScan™
AFM系統(tǒng)控制和數(shù)據(jù)采集的專用軟件自動模式的快速設(shè)置和簡易成像手動模式的高級使用和更精密的掃描控制
XEI
AFM數(shù)據(jù)分析軟件獨立設(shè)計-可獨立安裝和分析數(shù)據(jù)能夠生成采集數(shù)據(jù)的3D繪制
控溫臺
手套箱*
磁場發(fā)生器
液態(tài)選項
隔音罩
(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)