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注塑件內(nèi)應(yīng)力檢測儀
注塑件內(nèi)應(yīng)力檢測儀是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應(yīng)力測量儀，PA系列測量雙折射測量范圍達(dá)0-130nm，可以測量的樣品范圍從幾個(gè)毫...
型號：所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2024/9/3 14:17:15 對比

相位差雙折射測量內(nèi)應(yīng)力測量內(nèi)應(yīng)力測量儀
納米壓痕儀
納米壓痕儀主要用于微納米尺度薄膜材料的硬度與楊氏模量測試，測試結(jié)果通過力與壓入深度的曲線計(jì)算得出。包括高低溫環(huán)境、真空環(huán)境測試、粘彈性測量、彈性模量、水下測試等...
型號： ENT-5 所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2024/9/3 14:15:41 對比

納米壓痕儀微納力學(xué)測試彈性模量測試納米力學(xué)測量微納硬度測量儀
白光共聚焦顯微鏡
Lasertec激光+白光共聚焦顯微鏡以雙共聚焦光學(xué)系為基礎(chǔ)，搭載微分干涉觀察，垂直白光干涉測定，相差干涉測定，反射分光膜厚測定等功能，通常多臺設(shè)備才能完成的測...
型號： HYBRID 所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2024/9/3 14:14:00 對比

激光共聚焦顯微鏡亞微米級膜厚檢測激光共聚焦顯微鏡 lasertec共聚焦顯微鏡白光共聚焦顯微鏡
微區(qū)取樣儀
微型取樣機(jī)械手是微小物體分析強(qiáng)有力的輔助手段，在顯微紅外、顯微拉曼、XRD、SEM和TEM檢測中，經(jīng)常會遇到微小待測物被覆蓋、包埋、粘連等問題，有時(shí)候待測位置難...
型號： Micro Sup... 所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2024/9/3 14:11:41 對比

微區(qū)取樣儀 Micro Support Axis pro
無掩膜光刻機(jī)
無掩膜光刻機(jī)UTA系列是將DLP投影儀盒金相顯微鏡相結(jié)合的縮小投影型無掩模曝光系統(tǒng)，其傳統(tǒng)系統(tǒng)（用于掩膜光刻的圖案投影曝光系統(tǒng)）可以使用專門為此目的開發(fā)的軟件來...
型號： UTA-IA 所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2024/9/3 14:10:04 對比

顯微鏡LED曝光機(jī)LED光刻機(jī)無掩膜光刻機(jī)無掩模led曝光機(jī)科研型光刻機(jī)
工業(yè)級皮秒激光器
隨著中國科技水平的提升，對材料的高精度加工需求越來越多，特別是對于脆，硬的藍(lán)寶石，3D玻璃等透明材料高精度加工要求，常規(guī)的光纖激光器，納秒固體激光器無法滿足要求...
型號：所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2024/9/3 14:08:07 對比

皮秒激光器工業(yè)級皮秒激光器
激光測距激光雷達(dá)激光器
激光測距激光雷達(dá)激光器歐屹科技在激光測距和激光雷達(dá)方面具有多年經(jīng)驗(yàn)，歐屹科技自行研發(fā)的小型激光器廣泛應(yīng)用從基于FoT技術(shù)的幾百米測距，到5公里，10公里，30...
型號：所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2024/9/3 14:05:54 對比

激光器
半導(dǎo)體激光外延片
歐屹科技十余年來耕耘于半導(dǎo)體激光領(lǐng)域，與日本，英國，美國，德國等半導(dǎo)體激光芯片外延廠商合作，無論是單管激光芯片，半導(dǎo)體激光外延片m還是bars,stack芯片都...
型號：所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2024/9/3 14:03:34 對比

半導(dǎo)體激光
單管半導(dǎo)體激光器
歐屹科技十余年來耕耘于半導(dǎo)體激光領(lǐng)域，與日本，英國，美國，德國等半導(dǎo)體激光廠商合作，可以為您提供日亞，歐司朗，相干，光譜物理，耶拿多個(gè)廠商的產(chǎn)品，單管半導(dǎo)體激光...
型號：所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2024/9/3 14:01:13 對比

激光器
光纖耦合半導(dǎo)體激光器
歐屹科技十余年來耕耘于半導(dǎo)體激光領(lǐng)域，與日本，英國，美國，德國等半導(dǎo)體激光廠商合作，可以為您提供相干，耶拿，LIMO多個(gè)廠商的產(chǎn)品，光纖耦合半導(dǎo)體激光器，Bar...
型號：所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2024/9/3 13:59:33 對比

半導(dǎo)體激光器
內(nèi)應(yīng)力測量儀PA-300-XL
內(nèi)應(yīng)力測量儀PA-300-XL是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應(yīng)力測量儀，PA系列測量雙折射測量范圍達(dá)0-130nm，可以測量的樣品...
型號：所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2024/9/3 13:58:02 對比

相位差雙折射測量內(nèi)應(yīng)力測量內(nèi)應(yīng)力測量儀
雙折射測量儀PA-300-MT
雙折射測量儀PA-300-MT是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應(yīng)力測量儀，PA系列測量雙折射測量范圍達(dá)0-130nm，可以測量的樣品...
型號：所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2024/9/3 13:56:19 對比

相位差雙折射測量內(nèi)應(yīng)力測量
雙折射測量儀PA-Micro
雙折射測量儀PA-Micro操作簡單，測量速度可以快到3秒。更直觀的全面讀取數(shù)據(jù)，無遺漏數(shù)據(jù)點(diǎn)。具有多種分析功能和測量結(jié)果的比較。維護(hù)簡單，不含旋轉(zhuǎn)光學(xué)濾片的機(jī)...
型號：所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2024/9/3 13:54:24 對比

相位差雙折射測量內(nèi)應(yīng)力測量
online雙折射測量儀KAMAKIRI -X stage
online雙折射測量儀KAMAKIRI -X stageSTS的低配版，可升級STS 。操作簡單，可以調(diào)整色彩顯示更直觀的了解雙折射分布。記錄雙折射的數(shù)值數(shù)...
型號：所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2024/9/3 13:52:37 對比

相位差雙折射測量內(nèi)應(yīng)力測量
在線型雙折射測量儀KAMAKIRI WM
在線型雙折射測量儀KAMAKIRI WM,適用于薄膜等生產(chǎn)線上，實(shí)現(xiàn)各個(gè)環(huán)節(jié)的雙折射測量。 LIVE實(shí)時(shí)輸出雙折射的信息。 OK/NG可以在執(zhí)行Live監(jiān)測的同...
型號：所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2024/9/3 13:50:13 對比

相位差雙折射測量內(nèi)應(yīng)力測量
online雙折射測量儀KAMAKIRI W
online雙折射測量儀KAMAKIRI W適用于薄膜等生產(chǎn)線上，實(shí)現(xiàn)各個(gè)環(huán)節(jié)的雙折射測量LIVE實(shí)時(shí)輸出雙折射的信息OK/NG可以在執(zhí)行Live監(jiān)測的同時(shí)對異...
型號：所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2024/9/3 13:48:00 對比

相位差雙折射測量內(nèi)應(yīng)力測量
online雙折射測量儀
歐屹科技代理的是其旗下KAMAKIRI品牌的雙折射/殘余應(yīng)力測量設(shè)備，其高速相機(jī)CCD芯片與Photonic Lattice公司的偏光陣列片很好的結(jié)合，研制在線...
型號： WPA-KAMAK... 所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2024/9/3 13:46:04 對比

相位差雙折射測量內(nèi)應(yīng)力測量
紅外應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)
紅外應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)WPA-NIR硫系，紅外樹脂等材料對可見光不透過，這樣的樣品殘余應(yīng)力評估很難實(shí)現(xiàn)，為此Photonic Lattece 專門研制了WPA-...
型號： WPA-NIR 所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2024/9/3 13:44:07 對比

雙折射測量儀應(yīng)力雙折射儀應(yīng)力分布測量儀紅外偏光應(yīng)力儀光學(xué)薄膜雙折射測量儀
應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)
應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)WPA-200-MT是Z業(yè)用于手機(jī)鏡頭等小尺寸鏡頭的應(yīng)力雙折射測量設(shè)備。鏡片的雙折射現(xiàn)象會造成鏡片成像性能（MTF）下降，智能手機(jī)所使用的鏡片...
型號： WPA-200-M... 所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2024/9/3 13:42:14 對比

雙折射測量儀應(yīng)力雙折射儀應(yīng)力分布測量儀應(yīng)力雙折射測量儀鏡頭應(yīng)力雙折射系統(tǒng)
雙折射測量儀PA-300-L
雙折射測量儀PA-300-L是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應(yīng)力測量儀，PA系列測量雙折射測量范圍達(dá)0-130nm，可以測量的樣品范...
型號：所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2024/9/3 13:39:53 對比

雙折射測量儀玻璃應(yīng)力分布儀應(yīng)力分布測量儀雙折射儀相位差測量儀

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