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當(dāng)前位置:徐州晟浩電子科技有限公司>>無(wú)損探傷檢測(cè)儀器及耗材>>磁粉探傷試塊、試片>> KSC-230美國(guó)磁通QQI 磁粉探傷試片
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產(chǎn)品型號(hào)KSC-230
品 牌
廠(chǎng)商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地徐州市
更新時(shí)間:2023-12-04 13:18:44瀏覽次數(shù):1907次
聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來(lái)自 化工儀器網(wǎng)B型直流環(huán)形12孔磁粉標(biāo)準(zhǔn)試塊
美國(guó)磁通I 磁粉探傷試片
I試片
定量品質(zhì)試片
I是帶有人工缺陷的標(biāo)準(zhǔn)磁粉檢測(cè)試片。用于:將激磁次數(shù)降至zui少,以提高生產(chǎn)效率;確定磁場(chǎng)方向和相對(duì)的磁場(chǎng)強(qiáng)度;平衡多向磁場(chǎng)。
標(biāo)準(zhǔn)I試片
缺陷成基園和十字交叉條形,用于縱向和軸向磁場(chǎng)。
型號(hào):KSC-430 標(biāo)準(zhǔn)I試片,缺陷深度為試片厚度的30%,試片厚度為0.004英寸。
美國(guó)磁通I 磁粉探傷試片,,
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