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二手日本電子SEM+EDX

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更新時(shí)間:2024-05-09 10:31:03瀏覽次數(shù):569

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

背散射電子圖像分辨率 4.0nm@30KV 產(chǎn)地類別 進(jìn)口
二次電子圖象分辨率 3.0nm @ 30KV WD 8mmnm 放大倍數(shù) ×5~×300,000x
加速電壓 0.5KV ~ 30KVkV 價(jià)格區(qū)間 面議
儀器種類 鎢燈絲 應(yīng)用領(lǐng)域 化工,地礦,建材,電子,航天
二手日本電子SEM+EDX JSMIT300掃描電子顯微鏡經(jīng)過改進(jìn)照射系統(tǒng)、真空系統(tǒng)和信號(hào)處理系統(tǒng),不僅能觀察高質(zhì)量的圖像,還能利用觸控屏和快速樣品臺(tái)進(jìn)行高通量的直觀操作。JSM-IT300 提供高畫質(zhì)圖像,能滿足您對(duì)W-SEM機(jī)型的期待,新的鏡筒設(shè)計(jì)和掃描系統(tǒng)使得不導(dǎo)電樣品的圖像質(zhì)量有了顯著的提高。

詳細(xì)介紹

二手日本電子SEM+EDX主要特長(zhǎng)

優(yōu)秀電子光學(xué)系統(tǒng) JSM-IT300A是株式會(huì)社最新升級(jí)版機(jī)型,集合了分析掃描電鏡精髓功能,結(jié)構(gòu)緊湊、節(jié)省空間,分辨率高。

操作舒適快捷 JSM-IT300A擁有非常直觀的操作系統(tǒng),即使沒有經(jīng)驗(yàn)的用戶也可進(jìn)行操作高品質(zhì)的SEM圖像,以及高效率元素分析??芍С植僮饔|摸屏。

安裝的靈活性 二手日本電子SEM+EDX節(jié)省空間,安裝方便。一個(gè)電源插座就足以安裝。不需要任何冷卻水。


JSM-IT300A性能參數(shù)

Main Performance on JSM-IT200A                                                                                             


Performance

(一) 主要性能


SEI Mode Resolution

二次電子圖像分辨率

3.0nm @ 30KV   WD 8mm

8.0nm   @ 3KV    WD   6mm

15.0nm  @ 1KV    WD 6mm

BEI Mode Resolution

背散射電子模式分辨率

4.0nm@30KV

Magnification

放大倍數(shù)

×5~×300,000(底片倍率)

×14~×839,724(顯示器倍率)

Detectors

探測(cè)器

Secondary Electron Detector

二次電子探測(cè)器

★Semiconductor   Backscattered Electron Detector(patent)

半導(dǎo)體型背散射電子探測(cè)器(技術(shù))

Image Mode

圖像模式

Secondary Electron Image

二次電子圖像

REF Image

REF像

Composition Image (Backscattered   Electron Image)

成份像 (背散射電子圖像)

Topography Image (Backscattered   Electron Image)

形貌像 (背散射電子圖像)

Shadow Image (Backscattered Electron   Image)

立體像 (背散射電子圖像)

Live Image Display

實(shí)時(shí)圖像顯示

Dual Live Image Display, Split Live   Image,

雙實(shí)時(shí)圖像同時(shí)顯示,   分割實(shí)時(shí)圖像顯示

Accelerating Voltage

加速電壓

0.5KV ~ 30KV

Probe Current

探針束流

1pA ~ 0.3uA

Electron Optics

(二) 電子光學(xué)系統(tǒng)


Filament

燈絲

Factory pre-centered tungsten hairpin   filament

工廠預(yù)對(duì)中鎢燈絲

★Gun   Bias Voltage

電子槍偏壓

Seamless   automatic bias

無縫式自給偏壓, 連續(xù)調(diào)整

Gun Alignment

電子槍合軸

Auto alignment

自動(dòng)合軸

Filament Heating

燈絲加熱

Auto heating

自動(dòng)加熱

★Condenser   Lens

聚光透鏡

Two   stage zoom type condenser lens – (patent)

變焦聚光透鏡系統(tǒng) – 技術(shù)

★Objective   Lens

物鏡

Super conical type objective lens

超級(jí)錐形物鏡

Objective Lens Aperture

物鏡光闌

1 step, Fine position adjustment in X   and Y directions

1孔固定,可在X和Y方向微調(diào)

Focus

聚焦

Auto/Manual focus

自動(dòng)/手動(dòng)聚焦

Stigmator

像散

Auto/Manual stigmator

自動(dòng)/手動(dòng)消像散

★Stigmator   Memory

像散存儲(chǔ)器

Standard,  Auto/Manual

標(biāo)準(zhǔn)配置,自動(dòng)/手動(dòng)補(bǔ)償像散

★Electrical   Image Shift

圖像移動(dòng)

X-Y , ±50um

Specimen Stage

(三) 樣品臺(tái)


Type

樣品臺(tái)類型

Eucentric type stage

全對(duì)中樣品臺(tái)

Traverse

行程


X       :  80mm;

Y       :  40mm;

Z       :  5 ~ 48mm;

傾斜 T:  -10 ~ +90°

旋轉(zhuǎn) R:  360°連續(xù)endless

Maximum Specimen Size

最大樣品尺寸

150mm diameter & 48mm height   specimen can be inserted

可裝直徑150mm高度為48mm的樣品

Maximum Size of Observation

最大觀察視野

127mm diameter

直徑127mm

Image Display

(四) 圖形顯示


Pixels

顯示像素

640×480,1280×960,2560×1920,5120×3840

Image Process

圖像處理

Averaging, Linear, Contrast, Gamma,   Multi level, Patial enhance, Reverse, Pseudo color, Multi image

平均值, 灰度修正,   反差增強(qiáng), 偽彩,   二及四分屏, 2及4倍數(shù)碼變焦




                                                                                                                                                                                                 

高品質(zhì)的圖像

通過改進(jìn)電子光學(xué)系統(tǒng),使圖像質(zhì)量更高,分析更快。

減少了充放電現(xiàn)象

新的掃描方式能抑制非導(dǎo)電性樣品的荷電效應(yīng)。

低真空模式(LV)

低真空壓力范圍從10 Pa 至 650 Pa,拓寬了可以觀察的樣品材料的范圍。

樣品臺(tái)導(dǎo)航系統(tǒng)

全自動(dòng)5 軸馬達(dá)驅(qū)動(dòng)樣品臺(tái)提高了尋找感興趣的區(qū)域(ROI)的速度。使用導(dǎo)航系統(tǒng)(選配件)在彩色圖像上能迅速到達(dá)感興趣的區(qū)域。

大型樣品室和樣品臺(tái)。

能容納大型、較重的樣品,可裝載**尺寸為200 mm(φ)× 80 mm( H)、重達(dá)2 kg 的樣品。

**幾何設(shè)計(jì)的分析接口。

多個(gè)接口可以安裝EDS、EBSD 和WDS 等附件, EDS 和EBSD 處于同一平面,此外,還能安裝兩個(gè)相隔180 度的EDS 檢測(cè)器用于高通量的顯微分析。





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