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掃描電鏡SEM掃描電子顯微鏡JSM-it100(A)
閱讀:8851 發(fā)布時(shí)間:2016-9-1掃描電子顯微鏡JSM-it100(A)主要特長(zhǎng)
標(biāo)準(zhǔn)配置EDS分析功能的分析型掃描電鏡
標(biāo)準(zhǔn)配置EDS分析功能的JSM-IT100A,不僅能獲取高分辨率的圖像,還采用了無(wú)需液氮制冷的EDS檢測(cè)器 (DRY SD),能夠進(jìn)行定性分析、定量分析、元素面分布。此外,搭載的大型全對(duì)中形樣品臺(tái)可以對(duì)應(yīng)各種樣品。
電子光學(xué)系統(tǒng)
JSM-IT100A是日本電子株式會(huì)社推出機(jī)型,沿襲日本電子的電子光學(xué)系統(tǒng),集合了分析掃描電鏡精髓功能,設(shè)計(jì)精簡(jiǎn)自動(dòng)化程度高。
使用多點(diǎn)觸摸屏,操作舒適
JSM-IT100A通過(guò)多點(diǎn)觸控技術(shù)和的操作軟件,操作直觀簡(jiǎn)單。只需輕觸屏幕就能操控各種功能,舒適便捷。新開(kāi)發(fā)的操作界面簡(jiǎn)明易懂,即使是SEM新手也能輕松獲得高品質(zhì)的SEM圖像,進(jìn)行EDS元素分析。
主要參數(shù):
放大倍數(shù): ×5~×300,000
探測(cè)器:二次電子探測(cè)器/半導(dǎo)體背散射電子探測(cè)器
加速電壓:0.5KV ~ 20KV
zui大樣品尺寸:直徑150mm高度為48mm的樣品
探測(cè)器:電制冷方式BOX-SDD探測(cè)器 -無(wú)需使用液氮
標(biāo)準(zhǔn)搭載功能:
Qualitative Analysis 定性分析
Quantitative Analysis 定量分析
Active Mapping 活區(qū)面分析
Point Analysis 點(diǎn)分析
Probe Tracking 束流追蹤