詳細介紹
二手sem掃描電鏡:
日立新推出的高分辨場發(fā)射掃描電鏡,1kv的分辨率提升到1.3nm,并在探測器設計上有新的突破,配置了Lower、Up-per和Top三個Everhart-Thornley型探測器,可以接受SE、LA-BSE和HA-BSE多種信號,實現(xiàn)微區(qū)的形貌襯度、原子序數(shù)襯度、結晶襯度和電位襯度的觀測;結合選配的STEM探測器,還可以實現(xiàn)明場像和暗場像的觀測;此外在半導體應用中,還可以安裝EBIC探測器,采集感生電流圖像,極大豐富了信號的采集,對樣品的信息的收集達到了新的高度。
應用領域:
主要用于生物體、高分子、無機非金屬、金屬材料等樣品的表面形貌觀察及元素成分分析。廣泛應用于生物、能源、材料、化工、環(huán)境等研究領域。
儀器主要配置:
X射線能譜儀,離子濺射儀,真空蒸鍍儀,冷凍干燥機。
主要性能指標:
1. 二次電子分辨率:1.4nm(1kV,減速模式);1nm(15kV)
2. 電子槍:冷場發(fā)射電子源
3. 加速電壓:0.5 ~ 30 kV
4. 放大倍數(shù):×20 ~ ×800,000
5. 探測器:低位/高位二次電子探測器
二手sem掃描電鏡
描電子顯微鏡的制造是依據(jù)電子與物質(zhì)的相互作用。當一束高能的入射電子轟擊物質(zhì)表面時,被激發(fā)的區(qū)域?qū)a(chǎn)生二次電子、俄歇電子、特征x射線和連續(xù)譜X射線、背散射電子、透射電子,以及在可見、紫外、紅外光區(qū)域產(chǎn)生的電磁輻射。同時,也可產(chǎn)生電子-空穴對、晶格振動 (聲子)、電子振蕩 (等離子體)。原則上講,利用電子和物質(zhì)的相互作用,可以獲取被測樣品本身的各種物理、化學性質(zhì)的信息,如形貌、組成、晶體結構、電子結構和內(nèi)部電場或磁場等等。
掃描電子顯微鏡正是根據(jù)上述不同信息產(chǎn)生的機理,采用不同的信息檢測器,使選擇檢測得以實現(xiàn)。如對二次電子、背散射電子的采集,可得到有關物質(zhì)微觀形貌的信息;對x射線的采集,可得到物質(zhì)化學成分的信息。正因如此,根據(jù)不同需求,可制造出功能配置不同的掃描電子顯微鏡。
掃描電子顯微鏡是1965年發(fā)明的較現(xiàn)代的細胞生物學研究工具,主要是利用二次電子信號成像來觀察樣品的表面形態(tài),即用極狹窄的電子束去掃描樣品,通過電子束與樣品的相互作用產(chǎn)生各種效應,其中主要是樣品的二次電子發(fā)射。二次電子能夠產(chǎn)生樣品表面放大的形貌像,這個像是在樣品被掃描時按時序建立起來的,即使用逐點成像的方法獲得放大像。