詳細介紹
JEOL捷歐路掃描電子顯微鏡(SEM)IT100
一:測試范圍:
各種固體材料的形貌分析
微區(qū)化學成分檢測
樣品成份的線分布和面分布分析.
二:表面分析有哪些:
1. 表面形貌分析
2. 表面成分分析
3. 表面化學狀態(tài)分析
4. 表面顏色、色差測試
5. 表面相結(jié)構(gòu)分析
6. 表面應(yīng)力分析
7. 表面粗糙度測試
8. 表面異物分析
9. 表面失效分析
10.表面處理工藝判斷
三:表面異物分析:
在生產(chǎn)中,表面往往容易被污染、腐蝕、氧化,形成其他異物,一般很難用肉眼分辨,更無法了解其成分與來源,必須通過顯微途徑觀察分析。中心配備有顯微紅外、放大倍數(shù)從10倍-20萬倍的掃描電子顯微鏡和對固體樣品元素價態(tài)分析的X射線光電子能譜,可以分別對不同現(xiàn)象和類別的異物進行分析。掃描電子顯微鏡可在分子尺度,對材料微觀形貌進行直接觀測,同時對微小區(qū)域進行X射線能譜測試,分析其成分組成,X射線光電子能譜能夠?qū)腆w樣品的元素成分進行定性、定量或半定量及價態(tài)分析,廣泛應(yīng)用于元素分析、多相研究、化合物結(jié)果鑒定、富集法微量元素分析、元素價態(tài)鑒定等。
四:JEOL捷歐路掃描電子顯微鏡(SEM)IT100?分析儀優(yōu)點:
①有較高的放大倍數(shù),幾萬~幾十萬倍之間連續(xù)可調(diào);
②有很大的景深,視野大,成像富有立體感,可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細微結(jié)構(gòu);
③試樣制備簡單。 目前的掃描電鏡都配有X射線能譜儀裝置,這樣可以同時進行顯微組織性貌的觀察和微區(qū)成分分析,因此它是當今十分有用的科學研究儀器。
五:JEOL捷歐路掃描電子顯微鏡(SEM)IT100核心參數(shù):
背散射電子圖像分辨率 4nm
二次電子圖象分辨率 3nm@30KV
加速電壓 0.5-30kV
放大倍數(shù) 5-300000
儀器種類 鎢燈絲