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目錄:北京精科智創(chuàng)科技發(fā)展有限公司>>材料電學(xué)性能測試儀>>材料電阻測試儀>> RTS-4A型全自動掃描四探針測試系統(tǒng)

RTS-4A型全自動掃描四探針測試系統(tǒng)
  • RTS-4A型全自動掃描四探針測試系統(tǒng)
參考價 面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
參考價 面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 品牌 ACE/美國
  • 型號
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
  • 所在地 北京市
屬性

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更新時間:2024-11-05 18:53:20瀏覽次數(shù):551評價

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產(chǎn)地類別 國產(chǎn) 應(yīng)用領(lǐng)域 石油,地礦,能源,電子,交通
PRTS-4A全自動掃描四探針測試系統(tǒng)通過采用四探針雙位組合測量技術(shù),將范德堡測量方法推廣應(yīng)用到直線四探針上。利用電流探針和電壓探針的組合變換,進(jìn)行兩次電測量,其最后計算結(jié)果能自動消除由樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素所引起的,對測量結(jié)果的不利影響。因而在測試過程中,在滿足基本條件下可以不考慮探針間距、樣品尺寸及探針在樣品表面上的位置等因素。這種動態(tài)地對以上不利因素的自動修正,

RTS-4A型全自動掃描四探針測試系統(tǒng)

關(guān)鍵詞:全自動四探針,2D,3D,多點(diǎn)掃描, 電阻率, 方塊電阻

 

 

 

可對樣品進(jìn)行 49 點(diǎn)、81 點(diǎn)、中心 1 點(diǎn)、中心 10 點(diǎn)、中心半徑 5 點(diǎn)、中心邊緣 5 點(diǎn)、中心半徑邊緣 9 點(diǎn)、直徑掃描等測試;統(tǒng)計分析測試數(shù)據(jù)生成 2D 和 3D 的 map 圖; 屏蔽測試,消除光對樣品測試的影響,保證測量的準(zhǔn)確性;真空吸附防止全自動測試過程中樣品移動對測試的影響; 

一體化嵌入式設(shè)計,觸控電腦屏幕操作,手指點(diǎn)點(diǎn)就可以完成操作

PRTS-4A全自動掃描四探針測試系統(tǒng)是運(yùn)用四探針測量原理的多用途綜合全自動測量設(shè)備。該設(shè)備按照單晶硅物理測試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計的,專用于測試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的專用設(shè)備。通過全自動測試系統(tǒng),對晶圓片進(jìn)行電阻率和方塊電阻分布的測量,繪制出等值線圖后,從而直接觀察到整個晶圓片的電阻率或方塊電阻大小的分布。

PRTS-4A全自動掃描四探針測試系統(tǒng)通過采用四探針雙位組合測量技術(shù),將范德堡測量方法推廣應(yīng)用到直線四探針上。利用電流探針和電壓探針的組合變換,進(jìn)行兩次電測量,其最后計算結(jié)果能自動消除由樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素所引起的,對測量結(jié)果的不利影響。因而在測試過程中,在滿足基本條件下可以不考慮探針間距、樣品尺寸及探針在樣品表面上的位置等因素。這種動態(tài)地對以上不利因素的自動修正,顯著降低了其對測試結(jié)果的影響,從而提高了測量結(jié)果的準(zhǔn)確度。

PRTS-4A全自動掃描四探針測試系統(tǒng)擁有友好操作測試界面,通過此測試程序輔助用戶簡便地進(jìn)行各項(xiàng)測試操作,把采集到的測試數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)學(xué)分析,然后把測試數(shù)據(jù)以Excel表格,2D、3D等數(shù)值圖直觀地記錄、顯示出來。方便用戶對數(shù)據(jù)進(jìn)行各種數(shù)據(jù)分析,用戶可對采集到的數(shù)據(jù)在電腦中保存或者打印以備日后參考和查看,  

產(chǎn)品應(yīng)用

● 半導(dǎo)體及太陽能電池(單晶硅、多晶硅、鈣鈦礦)

● 液晶面板(ITO/AZO)

● 功能材料(熱電材料、碳納米管、石墨烯、銀納米線、導(dǎo)電纖維布)

● 半導(dǎo)體工藝(金屬層/離子注入/擴(kuò)散層)、非晶合金

 

全自動四探針軟件測試系統(tǒng)

 

 

 

 

主要技術(shù)指標(biāo) 

 測量范圍 

電阻率:10-5105 ?.cm;  方塊電阻:10-4106 ?/□;   

可測晶片尺寸 

英寸~15 英寸;(太陽能電池片≤210mm*210mm 

恒流源 

 電流量程分為 1µA、10µA、100µA1mA、10mA100mA 六檔。 

采樣電壓范圍 

 量程:000.00199.99mV;(低阻擴(kuò)展時,量程:00.00019.999mV) 

分辨力:10μV;(低阻擴(kuò)展時,分辨力:1μV)輸入阻抗:>1000MΩ;精度:±0.1%; 

四探針探頭基本指標(biāo) 

 間距:1±0.01mm;針間絕緣電阻:≥1000M?; 機(jī)械游移率:≤0.3%;  探針:碳化鎢或高速鋼Ф0.5mm;探針壓力:516 牛頓(總力) 

模擬電阻測量相對

 0.01?、0.1?、1?、10?、100?、1000?、10000?0.2 

整機(jī)測量最大相對

(用硅標(biāo)樣片:0.003-500Ω.cm 測試)≤±3%23℃) 

重復(fù)性 

≤±0.5% 

最小去邊距離 

 3mm

自動測試選點(diǎn)方式 

49 點(diǎn)、81 點(diǎn)、中心 點(diǎn)、中心 10 點(diǎn)、中心半徑 點(diǎn)、中心邊緣 點(diǎn)、中心半徑邊緣 點(diǎn)、直徑掃描。 

測試數(shù)據(jù)處理 

以Excel格式文件表格記錄測試數(shù)據(jù),并生成2D、3D的 map 圖。用戶可對采集的數(shù)據(jù)在 Excel 中進(jìn)行進(jìn)一步的各種數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析。 

屏蔽和吸附測試 

對樣品進(jìn)行屏蔽和真空吸附測試,消除光和全自動測試過程中樣品移動對樣品測試的影響,保證測量的準(zhǔn)確性。 

外形尺寸 

550mm×455mm×400mm(深×寬×高) 

標(biāo)準(zhǔn)使用環(huán)境 

 溫度:23±2℃; 相對濕度:≤65%;無高頻干擾; 

 


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