Kdesign薄膜測厚儀KDvision-LAB

隨時準備使用，包括觸摸屏電腦用于操作、數(shù)據(jù)庫和網(wǎng)絡集成。
易于操作和操作，在實驗室和生產中使用。
所有非導電塑料材料的非接觸電容測量。
采用集成高精度千分尺自動校準。
自動啟動/停止檢測塑料薄膜樣本，各種薄膜切片。
易于配置的自動過濾器(褶皺檢測)。
數(shù)據(jù)導出工具。
電容式測量，測量點數(shù)可調。
顯示原始數(shù)據(jù)和過濾數(shù)據(jù)(%,μm 2σ-3σ)。
采用集成測微計按ISO 4593進行機械測量。
不需要導向滾輪組件。

產品特征Special Features:

Ready to use, incl. Touch-Panel-PC for operating, data base and network integration；

Easy handling and operation；

Non-contact capacitive measurement for all non-conductive plastic materials；

Auto calibration by integrated high-precision micrometer；

Auto start/stop detection of film sample, multi-cut films possible；

Easy configurable auto filters (wrinkle detection)；

Data export tools；

Capacitive measuring with adjustable number of points；

Display of raw data and filtered data (%, μm, 2-Sigma, 3-Sigma)；

Mechanical measuring according to ISO 4593 by integrated micrometer；

No need of guiding roller assemblies；

技術參數(shù)：

薄膜樣品寬度：75-95mm
薄膜樣品長度：可達25m
厚度測量范圍：5微米到500微米
測量速度：可達60mm/S （連續(xù)電容模式）
測量間隔：50ms,
分辨率：0.1微米
精度：0.2微米機械/1%電容

薄膜電容式測厚儀采用電容傳感器精度高、能量損耗小、無接觸磨損等特點，制作了符合薄膜厚度測量要求的傳感器探頭，并在此基礎上設計了電容傳感器信號檢測電路。

1、定點測量和掃描測量：

定點測量的位置可在掃描范圍內任意設置。

掃描測量的范圍可根據(jù)被測材料的寬度來確定。

2、自動完成定時標定或手動標定，定時標定的時間間隔可設置。

3、位置補償標定。

4、系統(tǒng)故障的自動檢測、顯示和處理。