臨沂*檢測(cè)儀器有限公司測(cè)厚儀系列產(chǎn)品：MC系列涂層測(cè)厚儀，MCW系列渦流涂鍍層測(cè)厚儀，手持式涂鍍層測(cè)厚儀，HCH系列超聲波測(cè)厚儀，鋼板測(cè)厚儀，金屬測(cè)厚儀等

天津涂層測(cè)厚儀價(jià)格鍍層測(cè)厚儀MC-2000C型產(chǎn)品簡(jiǎn)介

MC-2000C型涂層測(cè)厚儀（鍍層測(cè)厚儀），是*的結(jié)晶,它采用單片機(jī)技術(shù)，精度高、數(shù)字顯示、示值穩(wěn)定、功耗低、操作簡(jiǎn)單方便、觸摸按鍵、單探頭全量程測(cè)量、體積小、重量輕；且具有存儲(chǔ)、讀出、統(tǒng)計(jì)、低電壓指示、系統(tǒng)校準(zhǔn)，其性能達(dá)到當(dāng)代同類(lèi)儀器的*水平。

天津涂層測(cè)厚儀價(jià)格鍍層測(cè)厚儀MC-2000C型應(yīng)用范圍

涂層測(cè)厚儀儀器采用磁性測(cè)厚法，可以方便無(wú)損地測(cè)量鐵磁材料上非磁性涂層的厚度，如鋼鐵表面上的鋅、銅、鉻等鍍層或油漆、搪瓷、玻璃鋼、噴塑、瀝青等涂層的厚度。該儀器廣泛應(yīng)用于機(jī)械、汽車(chē)、造船、石油、化工、電鍍、噴塑、搪瓷、塑料等行業(yè)。

MC-2000C涂層測(cè)厚儀工作原理

 MC-2000C型涂鍍層測(cè)厚儀采用電磁感應(yīng)法測(cè)量涂鍍層的厚度。位于部件表面的探頭

產(chǎn)生一個(gè)閉合的磁回路，隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變，該磁回路將不同程度的改變，引起磁阻及探頭線(xiàn)圈電感的變化。利用這一原理可以精確地測(cè)量探頭與鐵磁性材料間的距離，即涂鍍層厚度。

MC-2000C涂層測(cè)厚儀產(chǎn)品特點(diǎn)

輕松讀取：可存入測(cè)量數(shù)據(jù)600個(gè)，對(duì)測(cè)量中的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除，也可以刪除存儲(chǔ)區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)，讀出已存入的測(cè)量數(shù)據(jù)。

二、MC-2000C涂層測(cè)厚儀產(chǎn)品性能

1、測(cè)量范圍：　　0～5000um

2、測(cè)量誤差：　　<3%±1um

3、zui小示值：　　1um

4、顯示方式：    4位液晶數(shù)字顯示

5、主要功能：

   (1).測(cè)量：   　  單探頭全量程測(cè)厚

   (2).存儲(chǔ)、刪除： 可存入測(cè)量數(shù)據(jù)600個(gè)，對(duì)測(cè)量中的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除，也可以刪除存儲(chǔ)區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)。

   (3).讀：　 讀出已存入的測(cè)量數(shù)據(jù)

   (4).統(tǒng)計(jì)： 設(shè)有三個(gè)統(tǒng)計(jì)量，平均值z(mì)ui大值z(mì)ui小值

   (5).校準(zhǔn)： 可進(jìn)行系統(tǒng)校準(zhǔn)

   (6).電量： 具有欠壓顯示功能

   (7).打?。?可打印測(cè)量值，選配微型打印機(jī)

   (8).關(guān)機(jī)： 具有自動(dòng)關(guān)機(jī)和手動(dòng)關(guān)機(jī)兩種方法

6、電源：    　　　  兩節(jié)1.5v電池

7、功耗：      　　　zui大功耗100mw

8、外形盡寸：    　51mm*126mm*27mm

9、重量：　　　　　 160g（含電池）

10、使用環(huán)境溫度：　0℃～+40℃  相對(duì)濕度：不大于90%

11、基體zui小厚度：     0.5mm

12、基體zui小平面的直徑：   7mm

13、zui小曲率半徑：     凸:1.5mm      凹:6mm

14、欠電壓指示：       右上角顯示＂＂

*臨界厚度?。汗ぜF基厚度大于1mm時(shí),其涂（鍍）層厚度的測(cè)量不受鐵基厚度

三、配置單

 MC-2000C說(shuō)明書(shū)下載

   1、MC-2000C型涂鍍層測(cè)厚儀                 一臺(tái)

   2、七號(hào)電池                               二節(jié)

   3、探頭                                   一支

   4、標(biāo)準(zhǔn)樣片                               一盒

   5、小鋁箱                                 一個(gè)

   6、說(shuō)明書(shū)、合格證                         一套

 選配件：                                                               

    1、打印機(jī)及通訊打印連線(xiàn)                  1套  

    2、微機(jī)通訊軟件                          1盤(pán)

1. 內(nèi)防腐探頭

注意事項(xiàng)：

（１）測(cè)量曲面及圓柱體，曲率半徑較小時(shí)，應(yīng)在未涂覆的工件上校準(zhǔn)，以保證測(cè)量精度。

（２）在曲率半徑較小的凹面內(nèi)測(cè)量時(shí)，應(yīng)重新校正。

五、影響測(cè)量的若干因素：

基體金屬磁化：磁性法測(cè)量受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的）。為了避免熱處理、冷加工等因素的影響，應(yīng)使用與鍍件金屬具有相同性質(zhì)的鐵基片上 對(duì)儀器進(jìn)行校對(duì)。

基體金屬厚度：每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度，大于這個(gè)厚度測(cè)量就不受基體厚度的影響。

邊緣效應(yīng)：本儀器對(duì)試片表面形狀的陡變敏感，因此在靠近試片邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的。

曲率：試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響，這種影響是隨著曲率半徑減小明顯增大。因此不應(yīng)在試件超過(guò)允許的曲率半徑的彎曲面上測(cè)量。

表面粗糙度：基體金屬和表面粗糙度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙度增大，影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差。每次測(cè)量時(shí)，在不同位置上增加測(cè)量的次數(shù)，克服這種偶然誤差。

如果基體金屬粗糙還必須在未涂覆的粗糙相類(lèi)似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn)；或用沒(méi)有腐蝕性的溶液除去在基體金屬上的覆蓋層，再校對(duì)儀器零點(diǎn)。

磁場(chǎng)：周?chē)鞣N電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng)，會(huì)嚴(yán)重地干擾磁性測(cè)量厚度的工作。

附著物質(zhì)：本儀器對(duì)那些妨礙探頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感。因此必須清除附著物質(zhì)，以保證探頭與覆蓋層表面直接接觸。

探頭的放置：探頭的放置方式對(duì)測(cè)量有影響，在測(cè)量中使探頭與試樣表面保持垂直。

試片的變形：探頭使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上會(huì)出現(xiàn)不太可靠的數(shù)據(jù)。

讀數(shù)次數(shù)：通常儀器的每次讀數(shù)并不*相同。因此必須在每一測(cè)量面積內(nèi)取幾個(gè)測(cè)量值，覆蓋層厚度的局部差異，也要求在給定的面積內(nèi)進(jìn)行測(cè)量，表面粗糙時(shí)更應(yīng)如此。