產(chǎn)地類別 |
國產(chǎn) |
應(yīng)用領(lǐng)域 |
化工,電子 |
SD2000老化測試系統(tǒng)提供對MCU、CPU、CPLD、FPGA、大容量存儲器等超大規(guī)模集成電路的高低溫動態(tài)老化測試,將老化與電參數(shù)測試結(jié)合,在老化過程中可測試不同溫度區(qū)間器件的電參數(shù)特性。
產(chǎn)品描述
SD2000老化測試系統(tǒng)提供對MCU、CPU、CPLD、FPGA、大容量存儲器等超大規(guī)模集成電路的高低溫動態(tài)老化測試,將老化與電參數(shù)測試結(jié)合,在老化過程中可測試不同溫度區(qū)間器件的電參數(shù)特性。
基本特點:
1. 老化測試系統(tǒng)單板128路雙向I/O通道,共用8個時鐘邊沿(6個驅(qū)動邊沿,2個比較邊沿)
2. 1Mbit/通道圖形深度,失效存儲深度1kbit/通道,只存失效
3. 支持圖形向量微指令
4. 單板4通道PMU,提供 FV,FI,MV,MI功能,電壓范圍-3V~+12V;電流范圍-80mA~+80mA
5. 數(shù)字通道驅(qū)動電壓范圍-3V~+12V;比較電壓范圍-3V~+12V
6. 數(shù)量可配置程控電源,可提供0.5~5V 30A 0.5~ 3.3 30A 3-24V 等
7. 提供各老化試驗區(qū)電壓、電流測試
8. 128個輸出控制繼電器
9. 試驗溫度范圍:5℃~150℃;溫度均勻度±3℃
10.RJ45網(wǎng)口數(shù)據(jù)傳輸與控制
11.高溫老化試驗箱分16個區(qū)域,支持同時老化測試16種不同類型、不同封裝形式的器件
12.系統(tǒng)提供電源過壓、過流和短路保護