強大的測試功能特點：

1）適合各種類型的測試,模擬及數(shù)字集成電路及各種分立器件的測試
2）可進行在線或離線測試與分析
3）具有24路測試通道，也可使用探棒進行巡檢測試，針對各種類型的封裝元件進行測試。
4）安全性高的無電源測量方式，不用給電路板加電，系統(tǒng)自動施加各種類型的測試條件，zui大可能地保證測試安全。
5）多種測試類型：1）簡單類型V-I曲線測試，針對固定某一管腳的不同管腳的測試，2）矩陣式V-I曲線測試模式, 可針對管腳間的阻抗曲線進行測試。提供了豐富的測試信息，保證的測試的可靠性。
6）在進行離線測試時, 可針對蕊片內(nèi)部進行阻抗分析
7）自動對比及儲存V-I曲線,以備日后調(diào)取，方便了元件庫的建立
8）可切換VI,VT及IT三種顯示模式, 可配合不同功能型式的FET元器件
9）可設(shè)定同步脈沖信號的寬度, 進行可控規(guī)元器件或FET的功能測試
10）可進行光耦合及繼電器元器件的速度功能測試
11）具有二組信號源, 可輸出直流信號, 針對光耦合器及繼電器進行穩(wěn)態(tài)測試.
12）顯示相似度百分比，具有業(yè)界中zui多的信號頻率調(diào)整檔位, 對于故障的查找有相當(dāng)?shù)膸椭?
13）測試頻率高達(dá)到12kHz, 非常合適測試電感及高頻電容器件
14）系統(tǒng)具備自動信號補償功能, 可針對測試環(huán)境及夾具進行自校測試, 以防止量測信號失真.
15）可進行維修日志的編寫，將維修記錄*保存，以備日后查看。
16）可由軟件加入圖片, 用來清楚的表示被測元件的位置及電路板樣式.
17）可選擇利用USB或PCI通訊接口來進行儀器的操作, 也可安裝在PC內(nèi)來節(jié)省所占的空間.

測試參數(shù)：

全功能V-I測試模塊2400

全功能V-I測試儀

是一個經(jīng)由計算機控制來針對各類元器件進行V-I測試的模塊.
其大小與一個CD-ROM的大小相同, 所以它可以被安裝在個人計算機之中或是另外選配的外接盒之中.
而這是一個包含好壞電路板實時對比的全面性電路板故障檢測功能.
SYSTEM 8的全功能V-I測試模塊可*的由客戶來設(shè)定其測試的各種參數(shù).
用戶可依照不同的組件性來設(shè)定信號波形參數(shù).即便是波形的顏色或是背景的顏色,也可以依照用戶的需求來進行來自行設(shè)定.

這是一個良好電容器的基本V-I圖形,可以利用實時對比通道來進行波形比對,可依比對的相似度來判定是否為故障組件的圖形.

可利用實時雙信道對比模式來實時比對二點不同通道的波形差異度.可利用此方式來分辯好板壞板上各點量測波形的相似度,進而找到故障的組件.而此方式適合剛?cè)腴T的檢修工程人員來使用.

此模塊還提供了二個同步脈波輸出信號,可提供MOSFET或門流體的觸發(fā)信號.而其脈沖寬度, 信號極性及觸發(fā)角度皆可設(shè)置.

功能強大的矩陣掃描式VI曲線量測方式.它可分別依序?qū)⒏鞴苣_作為一信號的基準(zhǔn)點,再對其它的管腳作VI曲線量測.此功能會比一般的VI曲線量測更精準(zhǔn),更快速.

可同時顯示多組波形在同一個顯示窗內(nèi).此方式可同時檢視多個通道的比對結(jié)果.或是點選放大其中一個波形來進行故障波形分析.
 

V-I 測試能力

量測通道:24 多任務(wù)信道+2實時對比通道+2同步脈沖信號信道
信號電壓范圍:2 V to 50 V peak to peak
電壓分辨率:8 to 12 bits
信號頻率范圍:37.5 Hz to 12 kHz
信號電流范圍:1 μA to 150 mA
信號阻抗范圍:100 Ohm to 1 M
測試信號波形:Sine, square, triangle, ramp, pulse
顯示圖形模式:V-I, V-T, I-T
量測波形自動對比功能:可利用實時量測雙通道來自動實時對比好壞組件的波形,或是將波形進行存儲之后,再進行比對工作.
同步脈沖輸出模式:正向（Positive）, 負(fù)向（negative）或雙向（bipolar）波形
同步信號振幅:可調(diào)式由+10 V~-10V
信號校正:自動
附件（Accessories）

標(biāo)準(zhǔn)附件

1x24通道DIL測試夾
1x24通道測試線
2x接地線
2x同步脈沖測試線
1x藍(lán)色V-I測試探棒
1x黃色V-I測試探棒
1x雙信道貼片組件測試夾具
選購附件（Options）
適配卡:PCI interface
獨立的外接盒:可選配使用USB接口的獨立式外接盒.

VI曲線的定義

V-I曲線測試是一種針對模擬及數(shù)字電路*且可靠度高的測試方法.其測試方式是透過輸出電壓信號通過被測組件上所形成的電流信號,而定義出該被測節(jié)點的阻抗.

而經(jīng)由連續(xù)的電壓-電流信號的變化所產(chǎn)生的阻抗測試數(shù)據(jù),將此一連續(xù)的測試數(shù)據(jù)繪制成一曲線,此為被測組件的V-I曲線. 通常可利用已知好的電路板上的V-I曲線,來比對待測的電路板或組件,可達(dá)到快速故障診斷的目的.而這項測試技術(shù)zui主要的優(yōu)勢是在于不需為電路板或組件加電,即可直接進行比對測試.所以,即使是無法動作的電路板也可以進行故障檢測工作.