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通過測量作物冠層PAR值提供了關(guān)于影響田間作物生長的限制因素的有價(jià)值的信息,如葉面積指數(shù)(LAI)。SunScan探測器也可被用來描繪作物冠層PAR的分布圖。
冠層多譜輻射計(jì)可廣泛應(yīng)用于農(nóng)業(yè)生產(chǎn)和農(nóng)業(yè)科研。儀器具有TFT彩屏顯示接口、GPRS無線通訊接口、GPS定位接口等,可根據(jù)用戶須求升級(jí)硬件。實(shí)現(xiàn)光譜數(shù)據(jù)遠(yuǎn)程傳輸和...
植物冠層分析儀可廣泛應(yīng)用于農(nóng)業(yè)生產(chǎn)和農(nóng)業(yè)科研,為進(jìn)行冠層光能資源調(diào)查,測量植物冠層中光線的攔截,研究作物的生長發(fā)育、產(chǎn)量品質(zhì)與光能利用間的關(guān)系.
通過測量作物冠層PAR值提供了關(guān)于影響田間作物生長的限制因素的有價(jià)值的信息,如葉面積指數(shù)(LAI)。SunScan探測器也可被用來描繪作物冠層PAR的分布圖。由...
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