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孔、面銅測厚儀 CMI700系列
CMI760是CMI700系列專為滿足印刷電路板行業(yè)銅厚測量和質(zhì)量控制的需求而設(shè)計;采用微電阻和電渦流方式測量表面銅和孔內(nèi)鍍銅厚度。具有多功能性、高擴(kuò)展性和*統(tǒng)計功能,統(tǒng)計功能用于數(shù)據(jù)整理分析。
型號 | CMI760 | CMI760E | 備注 |
名稱 | 臺式面銅測厚儀 | 臺式孔、面銅測厚儀 |
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標(biāo)配 |
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| SRP-4探針又稱水晶頭 |
選配 |
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700 SERIES主機(jī)參數(shù):
SRP-4面銅探頭參數(shù):
電鍍銅:2.5μm–254μm(0.1mil–10mil)
ETP孔銅探頭參數(shù):
電渦流原理
(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)