目錄:北京中顯恒業(yè)儀器儀表有限公司>>澤攸科技電子顯微鏡>>TEM原位解決方案>> 原位解決方案-低溫電學測試系統(tǒng)
產(chǎn)品描述
PicoFemto透射電鏡原位低溫電學樣品桿(非定量力+電+低溫+三維操縱)在標配TEM-STM樣品桿內(nèi)集成低溫環(huán)境控制單元,從而實現(xiàn)在透射電鏡中進行原位低溫電學測量的目的。
△ 兼容型號透射電鏡及極靴;
△ 全溫區(qū)結(jié)構(gòu)分辨率優(yōu)于0.2nm;
△ 變溫范圍為85K-380K,溫度穩(wěn)定性優(yōu)于±0.1K
△ 溫度連續(xù)可控,穩(wěn)定性高;
△ 低溫下可實現(xiàn)對樣品施加應力及電學研究;
△ 穩(wěn)定性高:輕松獲得大幅度運動中的高分辨像,適用于更廣泛的應用場景和樣品體系;
△ 超長的壽命:
△ 超低維護成本:設(shè)備配套的針尖制備系統(tǒng)可低成本制備針尖耗材。"爪-球“微動結(jié)構(gòu)已實現(xiàn)模塊化量產(chǎn),維護成本低;
△ 龐大的用戶群:在國內(nèi)擁有近200個高質(zhì)量原位用戶,出口到歐美澳等地。每年,用戶會產(chǎn)出大量高質(zhì)量研究成果。定期組織各類用戶交流活動,搭建學術(shù)平臺供用戶交流;
△ 成熟的技術(shù)支持網(wǎng)絡(luò):在安徽、北京、東莞和上海擁有分公司,其他各地擁有若干技術(shù)支持網(wǎng)點,24小時提供技術(shù)支持