一、電子組件溫度沖擊試驗機操作流程

一般來說，溫度沖擊試驗箱操作分為五部走：預處理、初始檢測、試驗、恢復、zui后檢測。下面恒泰豐科和大家一起分享一下詳細流程內(nèi)容：

1.預處理：將被測樣品放置在正常的試驗大氣條件下，直至達到溫度穩(wěn)定。

2.初始檢測：將被測樣品與標準要求對照，符合要求后直接放入高低溫沖擊試驗箱內(nèi)即可。

3.試驗：

1)試驗樣品應按標準要求放置在試驗箱內(nèi),并將試驗箱(室)內(nèi)溫度升到點，保持一定的時間至試驗樣品達到溫度穩(wěn)定，以時間長都為準。

2)高溫階段結(jié)束后，在5min內(nèi)將試驗樣品轉(zhuǎn)換到已調(diào)節(jié)到-55℃的低溫試驗箱(室)內(nèi)，保持1h或者直至試驗樣品達到溫度穩(wěn)定，以時間長都為準。

3)低溫階段結(jié)束后，在5min內(nèi)將試驗樣品轉(zhuǎn)換到已調(diào)節(jié)到70℃的高溫試驗箱(室)內(nèi)，保持1h或者直至試驗樣品達到溫度穩(wěn)定，以時間長都為準。

4)重復上述實驗方法,以完成三個循環(huán)周期。根據(jù)樣件大小與空間大小，時間可能會略有誤差。

4. 恢復：試驗樣品從試驗箱內(nèi)取出后，應在正常的試驗大氣條件下進行恢復，直至試驗樣品達到溫度穩(wěn)定。

5.zui后檢測：對照標準中的受損程度及其它方法進行檢測結(jié)果評定。

二、電子組件溫度沖擊試驗機原理

     溫度沖擊試驗箱用于電子電器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學材料、塑膠等行業(yè)，國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測試其材料對高、低溫的反復抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學變化或物理傷害，可確認產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機械的組件，無一不需要它的理想測試工具。

三、電子組件溫度沖擊試驗機特點

     溫度沖擊試驗箱根據(jù)試驗需求及測試標準分為三箱式和兩箱式，區(qū)別在于試驗方式和內(nèi)部結(jié)構(gòu)不同。三箱式分為蓄冷室，蓄熱室和試驗室，產(chǎn)品在測試時是放置在試驗室。兩箱式分為高溫室和低溫室，是通過電機帶動提籃運動來實現(xiàn)高低溫的切換，產(chǎn)品放在提籃里，是隨提籃一起移動的。

二箱式 溫度沖擊試驗箱特色

1）*的造型設(shè)計，操作簡易之面板接口

2）采用日制*彩色觸控LCD中/英微電腦溫濕度控制器。

3）具有程序建文件及檔案管理之功能。

4）無紙式記錄功能，具實時顯示溫度沖擊試驗變化之曲線圖及記錄雙重功能。

5）冷熱沖擊機械移動時間在10秒內(nèi)，可符合MIL，IEC，JIS等規(guī)范。

6）冷熱沖擊溫度恢復時間在5秒內(nèi)，可符合相關(guān)試驗規(guī)范。

7）采用HFC環(huán)保冷媒，二元超低溫冷凍系統(tǒng)設(shè)計，降溫快效率高。

8）*的中/英文版聯(lián)機操作、設(shè)定、記錄軟件包。

9）可擴充：1、溫度記錄器2、LN2快速降溫控制系統(tǒng)

           3、RS-485通信接口裝置，可與個人計算機同時進行局域網(wǎng)絡聯(lián)機監(jiān)控及記錄。

三箱式 溫度沖擊試驗箱特色

1） 此設(shè)備分為高溫區(qū)、低溫區(qū)、測試區(qū)三部分，采用*之斷熱結(jié)構(gòu)及蓄熱、蓄冷效果，應用冷熱風路切換方式導入試品中，做冷熱沖擊測試，待測品為不移動之方式。

2）采用原裝日制微電腦大型液晶LCD（302*240 Dots）中英文顯示控制系統(tǒng)。

3）高程序記憶容量，可設(shè)定儲存100組程序，zui大循環(huán)設(shè)定9999 Cycles，每段時間zui大設(shè)定999 Hrs 59Mins。

4）具有RS-232C通信接口裝置，可與計算機聯(lián)機操控/編輯/記錄及二組動態(tài)接點(Time Signal Relay)，使用便捷。

5） 執(zhí)行冷熱沖擊條件時，可選擇2Zone或3Zone之功能。

6） 具備全自動，高精密系統(tǒng)回路、任一機件動作，*由P.L.C鎖定處理。

7）機器故障時，配有自動機回路及警示號。

8） 發(fā)現(xiàn)輸入電力不穩(wěn)定時，具有緊急停機裝置。

9）可擴充：1、液態(tài)氮低溫輔助系統(tǒng)            2、溫度自動記錄器

            3、RS-485多機版局域網(wǎng)絡聯(lián)機監(jiān)控及記錄之軟件。

四、電子組件溫度沖擊試驗機滿足標準

    1、GB/T2423.1-2001低溫試驗方法；
　　2、GB/T2423.2-2001^[1]；
　　3、GB/T2423.22-1989溫度變化試驗N；
　　4. 國軍標GJB150.3-86；
　　5. 國軍標GJB150.4-86；
　　6. 國軍標GJB150.5-86；
　　7、GJB150.5-86溫度沖擊試驗；
　　8、GJB360.7-87溫度沖擊試驗；
　　9、GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗；
　　10、SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗箱——一箱式；
　　11、SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗箱——二箱式；
　　12、滿足標準IEC68-2-14_試驗方法N_溫度變化；
　　10、GB/T 2424.13-2002試驗方法溫度變化試驗導則；
　　11、GB/T 2423.22-2002溫度變化；
　　12、QC/T17-92汽車零部件耐候性試驗一般規(guī)則；
　　13、EIA 364-32熱沖擊（溫度循環(huán)）測試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評估。

五、電子組件溫度沖擊試驗機規(guī)格參數(shù)