AT810D LCR 數(shù)字電橋
2011年全新第五版，使用技術(shù)重新設(shè)計(jì)的AT810D，穩(wěn)定性更佳，全新按鍵設(shè)計(jì)，操作更簡(jiǎn)單。
AT810D采用高能處理器，使用高亮彩色VFD屏幕的智能LCR測(cè)試儀器。大規(guī)模的貼片技術(shù)的運(yùn)用，使得AT810D僅需微型機(jī)箱即可容納。依賴于安柏儀器*的技術(shù)，使其性能亦無(wú)可挑剔。
內(nèi)建100Hz、120Hz、1kHz和10kHz測(cè)試頻率，并且提供0.3V和1V測(cè)

AT810D LCR 數(shù)字電橋

2011年全新第五版，使用技術(shù)重新設(shè)計(jì)的AT810D，穩(wěn)定性更佳，全新按鍵設(shè)計(jì)，操作更簡(jiǎn)單。
AT810D采用高能處理器，使用高亮彩色VFD屏幕的智能LCR測(cè)試儀器。大規(guī)模的貼片技術(shù)的運(yùn)用，使得AT810D僅需微型機(jī)箱即可容納。依賴于安柏儀器*的技術(shù)，使其性能亦無(wú)可挑剔。
內(nèi)建100Hz、120Hz、1kHz和10kHz測(cè)試頻率，并且提供0.3V和1V測(cè)試電平，使其能*一般生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)的使用。
使用安柏科技 AT-OS 2005 微型儀器操作系統(tǒng)，使AT810D具有傻瓜式操作界面。

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技術(shù)規(guī)格

測(cè)量參數(shù) L,C,R,Z 監(jiān)視參數(shù) D,Q,θ(deg),θ(rad) 基本準(zhǔn)確度 0.2% 測(cè)試頻率 100Hz,120Hz,1kHz,10kHz 顯示范圍 L:0.01μH-9999H C:0.01pF-9999μF R,Z:0.0001Ω-99.99MΩ? Q:0.0001-9999 θ(deg):-90.00°-90.00°? θ(rad): -3.1416 – 3.1416 Δ%: -9999% - 9999% D: 0.0001～9.9999 輸出阻抗 30Ω,100Ω 量程 6量程自動(dòng)或手動(dòng)測(cè)試 大讀數(shù) 主參數(shù)：99999 副參數(shù)：99999 信號(hào)電平 0.3Vrms和1Vrms 測(cè)試速度 2次/秒，5次/秒 比較器 5檔分選 P1,P2,P3,AUX,NG 列表掃描 無(wú) 校準(zhǔn) 開(kāi)路/短路點(diǎn)頻或掃頻清零 接口 無(wú)接口 其它 VFD顯示，鍵盤鎖和數(shù)據(jù)保持功能 電源要求 電壓：198VAC～240VAC 頻率：50Hz 功率：大20VA 尺寸與重量 264 (寬)x107(高)x350 (深) ，重量：4kg 附件 ATL501:測(cè)試電纜 ATL601: 測(cè)試夾具 ATL600: 短路片

性能特征

● 高亮度，超清晰四色VFD顯示。 ● 校正功能：全量程程開(kāi)路和短路掃頻清零。 ● 第三窗口可同時(shí)顯示 Z, D, Q, θ, ΔABS, Δ%或分選結(jié)果。 ● 1000V*沖擊保護(hù)

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