詳細(xì)介紹
3360 VLSI測試系統(tǒng)
主要特色:
- 50 MHz 測試頻率
- 608 個 I/O 通道
- 8M (標(biāo)準(zhǔn)) /16M (選購) Pattern 記憶體
- 彈性化硬體結(jié)構(gòu) (互換式 I/O, UVI, ADDA and LCD)
- 平行測試可達(dá) 32 devices
- Real Parallel Trim/Match 功能
- 直接裝設(shè) SC312, TS670 針測卡
- 測試程式/pattern 轉(zhuǎn)換器 (V7, TRI6020, V50, SC312, J750, ITS9K,TS670, ND1)
- Analog PE card 選配 (16 ~24 bits)
- SCAN test 選配 (512M)
- ALPG test 選配供記憶體用
- STDF 工具支援
- 人性化 Windows XP 操作環(huán)境
- CRAFT C/C++ 程式語言
- 即時pattern編輯器,含F(xiàn)ail pin/address顯示
- 多樣化的測試解析工具 : Shmoo plot, Waveform display,Wafer Map, Pin Margin, Scope tool,Histogram tool and etc.