3650-CX SoC測試系統(tǒng)

主要特色：

• 50/100MHz測試工作頻率
• 256個 I/O 通道(I/O Channel)
• 16/32 MW vector 記憶體
• 16/32 MW pattern instruction 記憶體
• Multi-site 測試可達(dá) 32 sites
• 16個 DPS 通道
• 8個 PMU 通道
• Per-Pin 時序頻率測試單位
• zui高可選購1024M bit x 4 CH scan depth
• 可選購記憶體測試用ALPG
• 高達(dá) 16 high-voltage pins
• 16 個高性能 DPS 通道
• Windows® XP操作環(huán)境
• C++ 程式語言與圖形人機(jī)介面設(shè)計
• 採用CRISP完整多樣的系統(tǒng)軟體工具
• 與周邊設(shè)備相容性高
• All-in-One小型化氣冷式機(jī)臺設(shè)計，節(jié)省佔(zhàn)地面積
• Cable Mount / Direct Mount

應(yīng)用範(fàn)圍

• MCU/MCU + 嵌入式記憶體
• NAND Flash Controller
• PC I/O
• Switch ICs
• 智慧型電源管理裝置
• 混合訊號、數(shù)位式、類比式 ICs
• ADC/DAC/CODEC ICs
• 各類消費(fèi)性產(chǎn)品IC
• 適用工程研發(fā)、晶粒測試及 Final Test
• 電源 IC
• LED 驅(qū)動 IC

Chroma 3650-CX實(shí)現(xiàn)高性價比的IC測試系統(tǒng) 
3650-CX採用All-In-One的小型化設(shè)計，除了擁有相當(dāng)競爭性的機(jī)臺價格之外，並具備高準(zhǔn)確性與高生產(chǎn)力。因此，能夠降低客戶的測試成本與提升IC產(chǎn)品的利潤。3650-CX具備多樣化的測試能力與強(qiáng)大的軟體工具，能夠用來測試包含MCU，NAND flash controller, PC周邊相關(guān)的 IC，Switch，LED驅(qū)動IC，以及Power IC和SoC等產(chǎn)品。

強(qiáng)大且功能完整的3650-CX系統(tǒng)軟體 - CRISP 
架構(gòu)在Windows XP作業(yè)系統(tǒng)上的Chroma 3650-CX 的軟體測試環(huán)境CRISP ( Chroma Integrated Software Platform)，是一個結(jié)合工程開發(fā)與量產(chǎn)需求的軟體平臺。主要包含四個部份 : 執(zhí)行控制模組、資料分析模組、程式除錯模組以及測試機(jī)臺管理模組。透過親切的圖形人機(jī)介面的設(shè)計，CRISP提供多樣化的開發(fā)與除錯工具，包含 :Datalog, Shmoo plot、Waveform tool、Scope tool、Pin Margin、Pattern Editor 與Plan Debugger、Histogram, STDF, Wafer Map等軟體模組，可滿足研發(fā)/測試工程師開發(fā)程式時的需求與產(chǎn)線人員量產(chǎn)時的需求。

All-in-One小型化機(jī)臺設(shè)計節(jié)省佔(zhàn)地面積 
3650-CX將所有的測試儀器模組與機(jī)臺的電源系統(tǒng)全部整合在單一個測試頭的空間裡，並且採用氣冷式的設(shè)計。透過如此高整合度的小型化設(shè)計，可以大幅減少機(jī)臺的佔(zhàn)地面積，以節(jié)省整體的測試成本。

週邊設(shè)備 
Chroma 3650-CX支援多種裝置的驅(qū)動程式介面 (TTL & GPIB) ， 可進(jìn)行與晶圓針測機(jī)和送料機(jī)，包括SEIKO-EPSON、SHIBASOKU、MULTI-TEST、 ASECO、DAYMARC、、TSK、OPUS II等等裝置之間的溝通。