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平面樣品鍍層厚度檢測儀適合平面樣品的鍍層測試需求;準(zhǔn)直器和濾光片:多種準(zhǔn)直器和濾光片的電動切換,滿足不同樣品材質(zhì)和形狀的檢測;移動平臺:精細的手動移動平臺,方便定位測試點;高分辨率探測器:提高分析的性;新代的高壓電源和X光管:性能穩(wěn)定,高達100W的功率實現(xiàn)更高的測試效率。
平面樣品鍍層厚度檢測儀采用下照式結(jié)構(gòu),儀器操作簡單,測試,售后服務(wù)及時。
平面樣品鍍層厚度檢測儀性能特點
EDX1800B采用下照式:適合平面樣品的鍍層測試需求;準(zhǔn)直器和濾光片:多種準(zhǔn)直器和濾光片的電動切換,滿足不同樣品材質(zhì)和形狀的檢測;移動平臺:精細的手動移動平臺,方便定位測試點;高分辨率探測器:提高分析的性;新代的高壓電源和X光管:性能穩(wěn)定,高達100W的功率實現(xiàn)更高的測試效率。
應(yīng)用領(lǐng)域
鐵基----□Fe/Zn,□Fe/Cu,□Fe/Ni,□Fe/Cu/Sn,□Fe/Cu/Au,□Fe/Cu/Ni,□Fe/Cu/Ni/Cr, □Fe/Cu/Ni/Au,□Fe/Cu/Ni/Ag
銅基----□Cu/Ni,□Cu/Ag,□Cu/Au,□Cu/Sn,□Cu/Ni/Sn,□Cu/Ni/Ag,□Cu/Ni/Au,□Cu/Ni/Cr
鋅基----□Zn/Cu,□Zn/Cu/Ag,□Zn/Cu/Au
鎂鋁合金----□Al/Cu,□Al/Ni,□Al/Cu/Ag,□Al/Cu/Au
塑膠基體----plastic/Cu/Ni,plastic/Cu/Ni/Cr
技術(shù)參數(shù)
1 分析元素范圍:S-U
2 同時可分析多達3層以上鍍層
3 分析厚度檢出限高達0.01μm
4 多次測量重復(fù)性高可達0.05μm
5 定位精度:0.5mm
5 測量時間:30s-300s
6 計數(shù)率:1300-8000cps
7 儀器適合測試平面。以單層Fe鍍Ni的標(biāo)樣為例,分析的范圍是0.01—30um,在這個范圍內(nèi),才能檢測。0.5-10um的,偏差是5%,就是說真值是1um,用儀器測試的值是0.95-1.05um。
儀器硬件配置
1. X 光管
2. 高、低壓電源
3. MCA多道分析器:
4. 高精密攝像頭
5. 移動平臺(自動)
6. 超大樣品腔
7. 準(zhǔn)直器自動切換
8. 濾光片自動切換
9. 準(zhǔn)直器和濾光片的自由組合
10. 標(biāo)準(zhǔn)樣品