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深圳市天瑞儀器股份有限公司
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Rohs分析儀_天瑞EDX1800B

參  考  價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號(hào)

品       牌SKYRAY/天瑞儀器

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

所  在  地深圳市

更新時(shí)間:2024-07-07 06:42:54瀏覽次數(shù):117次

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應(yīng)用領(lǐng)域 綜合
Rohs分析儀_天瑞EDX1800B分析原理也就是X射線熒光光譜儀的分析原理。X射線熒光光譜儀通常可分為兩大類,波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀(WDXRF)和能量色散X射線熒光光譜儀(EDXRF),波長(zhǎng)色散光譜儀主要部件包括激發(fā)源、分光晶體和測(cè)角儀、探測(cè)器等,而能量色散光譜儀則只需激發(fā)源和探測(cè)器和相關(guān)電子與控制部件,相對(duì)簡(jiǎn)單。

Rohs分析儀_天瑞EDX1800B分析原理也就是X射線熒光光譜儀的分析原理。X射線熒光光譜儀通常可分為兩大類,波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀(WDXRF)和能量色散X射線熒光光譜儀(EDXRF),波長(zhǎng)色散光譜儀主要部件包括激發(fā)源、分光晶體和測(cè)角儀、探測(cè)器等,而能量色散光譜儀則只需激發(fā)源和探測(cè)器和相關(guān)電子與控制部件,相對(duì)簡(jiǎn)單。

 

波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測(cè)元素的分析譜線,根據(jù)Bragg定律,通過測(cè)定角度,即可獲得待測(cè)元素的譜線波長(zhǎng):

nλ=2dsinaθ (n=1,2,3…)

式中 ,λ為分析譜線波長(zhǎng);d為晶體的晶格間距;θ為衍射角;n為衍射級(jí)次。利用測(cè)角儀可以測(cè)得分析譜線的衍射角,利用上式可以計(jì)算相應(yīng)被分析元素的波長(zhǎng),從而獲得待測(cè)元素的特征信息。

能量色散射線熒光光譜儀則采用能量探測(cè)器,通過測(cè)定由探測(cè)器收集到的電荷量,直接獲得被測(cè)元素發(fā)出的特征射線能量:

Q=kE

式中,K為入射射線的光子能量;Q為探測(cè)器產(chǎn)生的相應(yīng)電荷量;k為不同類型能量探測(cè)器的響應(yīng)參數(shù)。電荷量與入射射線能量成正比,故通過測(cè)定電荷量可得到待測(cè)元素的特征信息。

ROHS檢測(cè)儀采用X射線熒光光譜檢測(cè)技術(shù),可檢測(cè)鉛、汞、鎘、六價(jià)鉻、多溴聯(lián)苯、多溴聯(lián)苯醚等有害重金屬物質(zhì),廣泛應(yīng)用于電子產(chǎn)品生產(chǎn)、玩具制造、五金制造、海關(guān)、質(zhì)檢機(jī)構(gòu)等領(lǐng)域。

 

Rohs分析儀_天瑞EDX1800B使用的注意事項(xiàng):

 

1、儀器會(huì)產(chǎn)生電離輻射,在測(cè)試時(shí)確保不要將儀器對(duì)著人;不要將儀器對(duì)著空氣做測(cè)試;不要用手 拿著樣品做測(cè)試;

 

2、在運(yùn)作狀態(tài)時(shí),勿打開儀器的防護(hù)蓋或勿將測(cè)試儀器對(duì)準(zhǔn)人體;

 

3、每次開啟儀器和每連續(xù)工作4小時(shí),必須對(duì)儀器進(jìn)行校驗(yàn);

 

4、嚴(yán)禁非專門的人員操作該儀器,操作時(shí)必須按照操作步驟進(jìn)行,任何錯(cuò)誤的操作,均會(huì)導(dǎo)致儀 器的測(cè)試結(jié)果及使用壽命。

 

針對(duì)EDX 1800B在各個(gè)領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用,根據(jù)優(yōu)化產(chǎn)品性能和提高安防護(hù)等級(jí)的需求,特別設(shè)計(jì)該款EDX 1800E。應(yīng)用新代的高壓電源和X光管,提高產(chǎn)品的性;利用新X光管的大功率提高儀器的測(cè)試效率。


應(yīng)用領(lǐng)域

RoHS檢測(cè)分析
地礦與合金(銅、不銹鋼等)成分分析
金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定
黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè)
主要用于RoHS指令相關(guān)行業(yè)、貴金屬加工和首飾加工行業(yè);銀
行,首飾銷售和檢測(cè)機(jī)構(gòu);電鍍行業(yè)

性能優(yōu)勢(shì)

下照式:可滿足各種形狀樣品的測(cè)試需求
準(zhǔn)直器和濾光片:多種準(zhǔn)直器和濾光片的電動(dòng)切換,滿足各種測(cè)試方式的應(yīng)用
移動(dòng)平臺(tái):精細(xì)的手動(dòng)移動(dòng)平臺(tái),方便定位測(cè)試點(diǎn)
高分辨率探測(cè)器:提高分析的性
新代的高壓電源和X光管:性能穩(wěn)定,高達(dá)50W的功率實(shí)現(xiàn)更高的測(cè)試效率
檢測(cè)75種元素·1ppm檢出限·重復(fù)性0.05%·穩(wěn)定性0.05%
新代光管良好的屏蔽作用,X射線的輻射水平與普通大氣環(huán)境狀態(tài)下相等
性能穩(wěn)定,高達(dá)50W的功率實(shí)現(xiàn)更高的測(cè)試效率
儀器上蓋的測(cè)試自鎖和高壓電源緊急鎖功能,帶給您方位防護(hù)

技術(shù)參數(shù)

元素分析范圍:硫(S)~ 鈾(U)
分析檢出限:1ppm
分析含量:ppm ~ 99.99%
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型
多變量非線性回歸程序
溫度適應(yīng)范圍:15℃ ~ 30℃
電源:交流220V±5V,建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
能量分辨率:144±5eV
樣品腔尺寸:439mm×300mm×50mm
儀器尺寸:550mm×410mm×320mm
儀器重量:45kg

儀器配置

移動(dòng)樣品平臺(tái) 
SDD探測(cè)器
信號(hào)檢測(cè)電子電路
高低壓電源
大功率X光管
計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī) 



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