HAD-LY-CSK-IA標(biāo)準(zhǔn)試塊/CBI標(biāo)準(zhǔn)試塊/CBII標(biāo)準(zhǔn)試塊/CSI標(biāo)準(zhǔn)試塊是中華人民共和國行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)試塊JB4730-2005

CBI標(biāo)準(zhǔn)試塊、CBII標(biāo)準(zhǔn)試塊適用于板厚6~250mm的碳素鋼、低合金鋼制承壓設(shè)備用板材的超聲檢測和分級。
CBI標(biāo)準(zhǔn)試塊：階梯（3~22mm），板厚≤20mm雙晶直探頭試塊 
CBII標(biāo)準(zhǔn)試塊：1＃~6＃全套共6塊，板厚＞20mm單直探頭試塊，工件檢測距離小于45mm時(shí)，應(yīng)采用CSII標(biāo)準(zhǔn)試塊。 
CSI標(biāo)準(zhǔn)試塊：1＃~4＃全套共4塊。 
CSII標(biāo)準(zhǔn)試塊：全套4塊 
CSIII標(biāo)準(zhǔn)試塊：合套14塊 
奧氏體鋼鍛件試塊：全套27塊（來料加工） 
HAD-LY-CSK-1A：材料（P91、不銹鋼、鋁合金）配有HAD-LY-CSK-IA支架

LY-CSK-IVA標(biāo)準(zhǔn)試塊/T1型試塊/T2型試塊/T3型試塊a、b/鋁及鋁合金對比試塊/靈敏度校準(zhǔn)試塊/橫向缺陷試塊/縱向缺陷試塊/CSK-IIAm試塊中華人民共和國行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)試塊 JB4730-2005 
LY-CSK-IVA標(biāo)準(zhǔn)試塊:1＃~6＃共六塊(5＃~6＃來料加工) 
T1試塊:對比試場就采用與被檢工件材質(zhì)相同或聲學(xué)特性相近的材料,并采用相同的焊接工藝制成.其母材、熔合面和堆焊層中均不行有或等于φ2mm平底孔當(dāng)量直徑的缺陷存在。試塊堆焊層表面的形態(tài)和工件堆焊層的表面形態(tài)相同。從堆焊層檢測進(jìn)行檢測采用T1型試塊，母材厚度T至少應(yīng)為堆焊層厚度的2倍 
T2試塊：從母材側(cè)進(jìn)行檢測采用T2型試塊，母材厚度T與被測基板的厚度差不多超過10%。如果工件厚度比較大，T2型試塊的長度L應(yīng)能滿足檢測要求。 
T3試塊：用于雙晶直探頭、單直探頭靈敏度的校準(zhǔn)。 
鋁合金試塊：適用于厚度大于或等于8mm的鋁及鋁制承壓設(shè)備對接焊縫超聲檢測，不適用于外徑小于159mm的鋁及鋁制承壓設(shè)備環(huán)向?qū)雍附咏宇^和內(nèi)徑小于或等于200mm的管座角焊縫的超聲檢測，也不適用于外徑小于250mm或內(nèi)外徑小于80%的縱向焊接接頭超聲檢測。 
GS標(biāo)準(zhǔn)試塊：全套共四塊，GS-1適用于曲率半徑16mm~24mm的承壓設(shè)備管子和壓力管道環(huán)向?qū)雍附咏宇^的檢測；GS-2適用于曲率半徑24mm~35mm的承壓設(shè)備管子和壓力管道環(huán)向?qū)雍附咏宇^的檢測；GS-3適用于曲率半徑35mm~54mm的承壓設(shè)備管子和壓力管道環(huán)向?qū)雍附咏宇^的檢測；GS-4適用于曲率半徑54mm~80mm的承壓設(shè)備管子和壓力管道環(huán)向?qū)雍附咏宇^的檢測. 
測定儀器和探頭組合性能試塊：（φ5.6孔） 
靈敏度校準(zhǔn)試塊：提供壁厚，試塊用銅板應(yīng)與被檢鋼板厚度相同，聲學(xué)特性相同或相似。試塊上的人工缺陷為尖角槽，角試為60度槽，深為板厚的30%，槽長為25mm，槽寬不超過深度的一倍。 
橫向缺陷試塊：提供材料。為了調(diào)整檢測靈敏度，可利用被檢工件壁厚或長度上的加工余量部分制作對比試塊。在鍛件的內(nèi)外表面，分別沿軸向和周向加工平行的V型槽作為標(biāo)準(zhǔn)溝槽。V型槽長度為25mm,深度為鍛件壁厚的10%，角度為60度。 
縱向缺陷試塊： 提供材料。適用于外徑為12~660mm、壁厚大于或等于2mm的承壓設(shè)備用碳鋼、低合金無縫鋼管或外徑為12~400mm、壁厚為2~35mm的承壓設(shè)備用奧氏體不銹鋼無縫鋼管的超聲檢測。 
LY-CSK-IIAm試塊：適用于母材厚度為6~8mm全熔化焊對接焊接接頭的超聲檢測。