經(jīng)濟型COD測定儀/COD測定儀/經(jīng)濟型COD檢測儀 型號：LH-5B-3F

簡介： LH-5B-3F型經(jīng)濟型COD測定儀是專為小型企業(yè)用戶的一款儀器，此款儀器的理念就是要“簡單”，功能簡單、操作簡單、理解簡單、簡單到?jīng)]有實驗經(jīng)驗的人都要會用，一定要讓用戶擺脫繁瑣之苦。此款儀器的推出，使快速測定COD變得更加經(jīng)濟

指標：

(01) 溫控系統(tǒng)：165℃±1.0℃
(02) 消解時間：10分鐘
(03) 測定范圍：50~800mg/L （高濃度可稀釋測定）
(04) 測定時間：20分鐘同時測定9個水樣
(05) 抗氯干擾：[CL-]＜1000 mg/L
(06) 準確度： COD=300 mg/L       相對誤差V≤10 ％
(07) 外型尺寸：210×160×67mm
(08) 內(nèi)存標準曲線，可自行修定，具有掉電保留功能
(09) 冷光源、窄帶干涉、光源壽命長
(10) 定時系統(tǒng)：三個定時開關(guān)，自動提醒

配置：反應器(消解器)、冷卻槽架、固體試劑、反應管數(shù)支。

數(shù)字式電線電纜導線電阻測試儀/電線電纜導線電阻測試儀 型號：HAD-HHY8-ST-1

HAD-HHY8-ST-1型數(shù)字式電線電纜導線電阻測試儀是 本公司研制成功的測量電線電纜電阻的儀器，它是引用測量導線電阻率的而的的具有高靈敏度高精度的低電阻測量儀器，其性能符合GB3048.2—94的要求，它由高靈敏度高精度直流數(shù)字電壓表和寬范圍高穩(wěn)定大功率直流恒定電流源所組成，根據(jù)直流電流—電壓降原理制成，由于采用了四端子測量，能有效地消除在測量時因接觸電阻和引線電阻帶來的誤差，可以克服以往采用雙臂電橋測量操作繁瑣、靈敏度低、誤差大等問題。

儀器測量低電阻靈敏度高達0.1μΩ,儀器采用1mA—10A電流測量，四位半LED數(shù)字顯示，配上電線測量夾具，可以對各種不同材料，不同直徑規(guī)格的金屬導線、銅排的電阻率進行快速準確地測量，儀器設有不同電流、電壓量程自由排列組合測量方式，用戶可以根據(jù)實際測量對象的需要選擇適當?shù)碾娏鱽頊y量低電阻，儀器自動顯示測量值的單位和小數(shù)點，儀器還可以直接作為數(shù)字電壓表，恒定電流源輸出，一機多用。

本儀器具有測量精度高，靈敏度高達0.1μΩ,測量范圍廣，從0.1μΩ—2 KΩ,穩(wěn)定性好，抗干擾能力強、操作簡單、電阻值直接數(shù)字顯示等特點，適用于大中型電線電纜廠，金屬銅材廠、電機、高壓電器、開關(guān)、變壓器、電力供電系統(tǒng)、汽車、飛機、輪船等行業(yè)的需要。

儀器主要指標：

1．測量量程：0.2mΩ*、2mΩ、20 mΩ、0.2Ω、2Ω、20Ω、200Ω、2000Ω

2．測量誤差：±（0.1%讀數(shù)+0.05%滿度+2個字）

3．分辯率：0.1μΩ

4．測試電流：1mA、10 mA、100 mA、1A、10A

5．電壓量程:20 mV、200 mV、2V

6．LED顯示：4 1/2位數(shù)字顯示（0—19999）自動顯示小數(shù)點、測量單位、極性、量程溢出

7．極性轉(zhuǎn)換：具有電流極性轉(zhuǎn)換裝置

8．供電電源：單相交流220V±10%，50—60HZ；功率150W>200W 

9．外形尺寸：520mm×160mm×460mm及其他尺寸

10．備有多種測量不同規(guī)格的導線和銅排的夾具，供用戶選購

電線電纜半導電橡塑電阻測試儀/電阻測試儀 型號：HAD-HHY8-DB-4

HHY8-DB-4電線電纜半導電橡塑電阻測試儀是根據(jù)國家標準GB3048.3—94研究成功的測量設備，主要用于測量電纜用橡膠和塑料半導電材料中間試樣電阻率以及各種導電橡塑產(chǎn)品電阻，若換上的四端子測試夾，還可以對金屬導體材料及產(chǎn)品的低、中值電阻進行測量

經(jīng)過了十多年的實際運行，全國近百家主要電纜廠和半導電屏蔽材料廠均已采用了該儀器，它是目前全國符合國家標準GB3048.3-94的測量半導電橡塑材料電阻率的儀器。

   儀器為臺式結(jié)構(gòu)，主要由電氣箱、測試架兩大部分組成，固定在工作臺上，電氣箱包括高靈敏的直流數(shù)字電壓表和高穩(wěn)定的直流恒流源，測量結(jié)果采用LED數(shù)字直接顯示，測量電流輸出也采用LED數(shù)字顯示，從0—100mA范圍內(nèi)可任意調(diào)節(jié)，可達到控制測試功率損耗的規(guī)定，儀器測試架由電極、壓力探頭、樣品臺及電動傳動機構(gòu)組成，操作按鍵電鈕，可進行半自動測量。

   儀器具有測量精度高、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、使用方便等特點，符合和國家標準的要求。

   儀器適用于電纜廠、導電橡塑材料廠、計算機廠、電子表廠、高等院校、科學研究等，對于導電橡塑材料及產(chǎn)品的電阻性能測試、工藝檢測，是必需的測試設備。

   儀器主要指標：                                                            

一、 測量范圍：10^-4--10³Ω-cm可擴展到10⁵Ω-cm；分辯率10^-6Ω-cm

二、 數(shù)字電壓表：

1．  量程0.2mV、2 mV、20 mV、200 mV、2V

2．  測量誤差  0.2mA檔±(0.5%讀數(shù)+8字)；2mV—2V擋±(0.5%讀數(shù)+2字)

3．  顯示3 1/2 位數(shù)字顯示0—1999具有極性和過載自動顯示，小數(shù)點、單位自動顯示。

三、 恒流源：

1．  電流輸出：直流電流0—100mA連續(xù)可調(diào)，由交流電源供給，數(shù)字顯示

2．  量程：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA

3．  電流誤差：±(0.5%讀數(shù)+2字)

四、 測量電極：

1．  電流電極：寬度50mm,與試樣的接觸寬度5mm，兩個電流電極間的距離110mm

2．  電位電極：寬度50mm，接觸半徑，兩個電位電極間的距離20mm±2%

  五、電源：220±10%   50HZ或60HZ 功率消耗<50W

六、外形尺寸（包括測試工作臺）1200×600×1050mm（長×寬×高)

二探針單晶硅及多晶硅測試儀　型號：HAD-HHY8-GL-1

本儀器主要用于測量大直徑的單晶硅和多晶硅的電阻率分布情況，以便硅材料的切割和加工。

    為適應大規(guī)模集成電路的迅猛發(fā)展，特別是計算機芯片、內(nèi)存的發(fā)展，越來越多的使用到了大直徑、高純度、均勻度更高的單晶硅材料。目前，在美國、德國等的工業(yè)國家，均采用了二探針法，使用二探針檢測儀來測量大直徑單晶硅的電阻率分布情況。

儀器符合美國ASTM 《“F391-77”關(guān)于二探針測量硅單晶試驗方法》的標準，是一種新型的半導體電阻率測試儀，適合半導體材料廠和器件廠用于二探針法精確測量單晶硅和多晶硅半導體棒狀材料的體電阻率，從而進一步判斷半導體材料的性能，指導和監(jiān)視工藝操作，也可以用來測量金屬材料的電阻，儀器具有測量精度高、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、使用方便、造型美觀等特點。也可以配四探針測試頭作常規(guī)的四探針法測量硅晶體材料。

    儀器分為儀表電氣控制箱、測試臺、探頭三部分，儀表電氣控制箱由高靈敏度直流數(shù)字電壓表、高抗干擾高隔離性能的電源變換裝置、高穩(wěn)定高精度恒流源和電氣控制部分組成。測量結(jié)果由大型LED數(shù)字顯示，零位穩(wěn)定、輸入阻抗高，并設有自校功能。在棒狀材料使用二探針法測試時，具有系數(shù)修正功能，從面板輸入相應的修正系數(shù)，可以直接讀出電阻率，使用方便。測試臺結(jié)構(gòu)新穎，造型美觀，可以方便地固定好大小任意尺寸的樣品，并可以作逐點選擇步進測量，也可以自由選擇固定位置測量，電極活動自如，具備鎖定裝置，方便重復測量。另外還配置了二處記錄板和轉(zhuǎn)椅，測試探頭能自動升降，探針為碳化鎢材料，配置寶石軸承，具有測量精度高、游移率小、耐磨、使用壽命長特點。同時探頭壓力恒定并且可調(diào)整，以適合不同的材料。

儀器主要指標：

1.可測硅材料尺寸：

     直徑Φ25~Φ150mm滿足ASTM F-397的要求。

     長度：100~1100mm.

2.測量方式：軸向測量，每隔10mm測量一點。

3.測量電阻率范圍：10^-3~10³Ω-cm,可擴展到10⁵Ω-cm。

4.數(shù)字電壓表：

    （1）量    程：0.2mV、2mV、20mV、200mV、2V

    （2）測量誤差：±0.3%讀數(shù)±2字

    （3）輸入阻抗：0.2mV和2mV檔>10⁶Ω

                  20mV檔及以上>10⁸Ω

    （4）顯    示：3^1/2位LED數(shù)字顯示，范圍0~1999。

5.恒流源：

    （1）電流輸出：直流電流0~100mA連續(xù)可調(diào)。

    （2）量    程：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA

    （3）電流誤差：±0.3%讀數(shù)±2字

6.二探針測試裝置：

    （1）探針間距：4.77mm

    （2）探針機械游移率：0.3%

    （3）探針壓力：0~2kg可調(diào)

    （4）測試探頭自動升降

7.二探針測試臺

    （1）測試硅單長度：100-1100mm

    （2）測試點間距：10mm

    （3）測試臺有慢、快二種移動速度，快速移動速度為1000mm/分（均勻

手動）

8.電源：交流220V±10%，50HZ±2HZ，消耗功率<150W

數(shù)字式四探針測試儀/四探針測試儀/數(shù)字式四探針檢測儀　型號：HAD-HHY8-SZT-2000

HAD-HHY8-SZT-2000型數(shù)字式四探針測試儀是根據(jù)四探針測試原理研究成功的多用途的綜合測量裝置，它可以測量棒狀、塊狀

半導體材料的電阻率和半導體擴散層的薄層電阻進行測量，可以從10^-6--10⁵Ω—cm全量程范圍檢測硅的片狀、棒狀材料的電阻、薄層電阻，是硅材料質(zhì)量監(jiān)測的必需儀器。

儀器為臺式結(jié)構(gòu)，分為電氣箱、測試架兩大部分，用戶可以根據(jù)測試需要安放在一般工作臺或者工作臺上，測試架由探頭及壓力傳動機構(gòu)、樣品架組成，耐磨和使用壽命長的特點。探頭內(nèi)設有彈簧壓力裝置，壓力從0—2Kg連續(xù)可調(diào)，測試架設有手動和電動兩種裝置供用戶選購。

儀器電氣箱主要由高靈敏的直流數(shù)字電壓表和高穩(wěn)定的恒流源組成，測量結(jié)果由數(shù)字直接顯示，儀器有自校量程，可以方便地對儀器的電氣性能進行校驗。

儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、測量范圍廣、結(jié)構(gòu)緊湊、使用方便等特點，儀器適用于半導體材料廠、器件廠、科學研究、高等院校，對半導體材料的電阻性能測試及工藝檢測。

儀器主要指標：

1．  范圍：電阻率10^-4—10³Ω—cm，可擴展至10⁵Ω—cm，分辯率為10^-6Ω—cm

         方塊電阻10^-3—10³Ω /□

         電阻10^-6—10⁵Ω

2．  可測半導體尺寸：直徑Φ15—150mm

3．  測量方式：軸向、斷面均可（手動測試架）

4．  數(shù)字電壓表（1）量程0.2mV、2mV、20mV、200mV、2V

  (2)測量誤差 0.2mV檔±（0.3%讀數(shù)+8字）

              2 mV檔以上±（0.3%讀數(shù)+2字）

  (3)輸入阻抗0.2mV、2mV擋10⁵Ω

              20mV檔以上>10⁸Ω

  (4)顯示3 1/2位數(shù)字顯示，0—1999

具有極性和過載自動顯示，小數(shù)點、單位自動顯示

5．  恒流源：（1）電流輸出：直流電流0—100mA連續(xù)可調(diào)，由交流電源供給

   （2）量程：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA 五檔

   （3）電流誤差：±（0.3%讀數(shù)+2字）

6．四探針測試探頭  （1）探頭間距：1mm   (2)探針機械游率：±0.3%

                   (3) 探針：Φ0.5mm    (4)壓力：可調(diào)

  7. 測試架：

  （1）手動測試架：探頭上升及下降由手動操作，可以用作軸向和斷面的單晶棒和硅片測試。

  （2）電動測試架：探頭的上升和下降由電動操作，設有自動控制器控制，探頭上升時間1S—99S可調(diào)，探頭下降時間1S—99S可調(diào)，壓力恒定可調(diào)（由砝碼來設定）同時設有腳踏控制裝置由腳踏開關(guān)控制探頭上下運動。

   8.電流：220V±10% 50HZ或60HZ：功率消耗<35W

9．    外形尺寸：電氣箱130×110×400mm