詳細介紹
RESOlution 全自動激光剝蝕進樣系統(tǒng)激光剝蝕樣品池具有與早期的M50A樣品池相同的優(yōu)異功能,同時具有超過六倍的可及面積,S155樣品池附帶三個樣品支架。這三個支架可以從通用支架,全薄片支架,全圓形樣品靶支架以及薄片和圓形樣品靶組合支架中根據(jù)需要選擇,該設(shè)備既支持手動選擇測試點,也可實現(xiàn)數(shù)千個樣品點的無人值守全自動運行,具有圖像導(dǎo)入功能的軟件,有助于識別樣品中的復(fù)雜結(jié)構(gòu),如包裹體和增生區(qū),在低重復(fù)率下實現(xiàn)完美的信號平滑而不過度延長沖洗時間或引起記憶效應(yīng),這款設(shè)備屬于易于操作,用戶培訓(xùn)耗時短,使用方便,經(jīng)濟實用。
設(shè)備優(yōu)勢:
1、可靠的氣體處理和優(yōu)異的激光剝蝕性能;
2、可以同時裝載薄片和圓形樣品靶的組合支架也供選擇;
3、具有與早期的M50A樣品池相同的優(yōu)異功能;
4、通用支架是靈活的支架,可以裝載任意尺寸的樣品靶;
5、旋轉(zhuǎn)矩形狹縫,用于帶狀樣品的動態(tài)高分辨率追蹤;
6、有離線分析點選取功能的軟件,提高儀器使用效率;
7、易于掌握,用戶培訓(xùn)耗時短,使用方便。
RESOlution 全自動激光剝蝕進樣系統(tǒng)集成了193nm準分子激光剝蝕取樣系統(tǒng),真空(UHV)樣品池和3He/4He質(zhì)譜儀(如右圖所示),與ICP-MS聯(lián)機 的RESOchron使研究人員能夠,在單一礦物上快速測定(U-Th)/Pb和(U-Th-Sm)/ He年齡,用于批量分析、靈敏度以及精細表面和薄膜樣品的分析,采用排氣閥導(dǎo)流不需要的燒蝕材料,以減少對ICP的保養(yǎng),如更少量的錐體清洗,為用戶提供高度標準的分析能力,GeoStar為實現(xiàn)*自動化工作設(shè)計,但也同時提供手動逐點剝蝕功能。