波形采樣率

50MHz

100MHz

200MHz

脈沖電壓輸出

100V-5200V

100V-5200V

100V-5200V

10V-1200V

200V-10000V

量測(cè)最小電感量

≥ 1μH

≥ 0.1μH

≥ 20μH

量測(cè)時(shí)間

10次/秒

崩潰電壓-BDV

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 支援LAN界面

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波形分析

總面積比對(duì)

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面積差比對(duì)

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二階微分比對(duì)

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電暈數(shù)比對(duì)

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顫抖數(shù)比對(duì)

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波形比對(duì)

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量測(cè)速度

10次/秒

施加脈沖數(shù)

最大32

波形采樣

200MHz/9 bit

輸入阻抗

20MΩ

崩潰電壓測(cè)試

●

統(tǒng)計(jì)功能

支援量測(cè)統(tǒng)計(jì)功能

波形比對(duì)模式

總面積比對(duì) AREA

將諧振波所涵蓋之所有面積加總稱之為「總面積」

進(jìn)行待測(cè)線圈波形面積比對(duì)，當(dāng)待測(cè)物發(fā)生層間短路時(shí)，由于線圈能量損耗增加，諧振阻尼系數(shù)變大，諧振振幅會(huì)變小，總面積跟著變小，是檢查層間短路最基本的參數(shù)。

以%表示，判定能量損耗差異性。

面積差比對(duì) DIFF

將標(biāo)準(zhǔn)波與待測(cè)波之相異處加總則稱為「面積差」

當(dāng)待測(cè)物發(fā)生匝間短路時(shí)，電感變小（類似變壓器次極圈短路時(shí)，初極圈電感會(huì)變小），造成后段波形振蕩頻率發(fā)生變化，諧振波形相位改變，面積差隨之改變。

藉此比較電感量的差異性。

二階微分 LAPLACIAN

線圈絕緣質(zhì)量不良在高壓沖擊下產(chǎn)生放電，引起振蕩波形快速變化，透過7750 二階微分演算方式進(jìn)行比對(duì)。

用于檢測(cè)焊接不良導(dǎo)致絕緣性能降低的質(zhì)量問題。

電暈數(shù)比對(duì) CORANA

繞組線圈于高壓脈沖測(cè)試中，自身絕緣系統(tǒng)損壞而產(chǎn)生放電，透過波形顯示放電曲線中出現(xiàn)電暈的現(xiàn)象，此功能可統(tǒng)計(jì)電暈發(fā)生的次數(shù)根據(jù)其偏差程度進(jìn)行判定。

檢測(cè)線圈內(nèi)部絕緣質(zhì)量是否有放電現(xiàn)象。

波形比對(duì) COMP

將標(biāo)準(zhǔn)波設(shè)定一可容許之波形范圍，此項(xiàng)目可同時(shí)判斷諧
振波的振幅及相位，可加大匝間短路的檢出能力。

顫抖數(shù)比對(duì) FLUT

當(dāng)繞組線圈有發(fā)生匝間放電的現(xiàn)象時(shí)，波形將產(chǎn)生顫抖，
因此儀器將波形顫抖程度量化成數(shù)值進(jìn)行比對(duì)。

  Remote輸出信號(hào) 

PASS/FAIL/TEST/READ/HV ON

  安全開關(guān)

設(shè)置INTER LOCK功能，測(cè)試時(shí)需將安全開關(guān)進(jìn)行短路，機(jī)臺(tái)方能輸出脈沖電壓

  內(nèi)建存儲(chǔ)

128組

  電源

    電壓：100Vac-240Vac

    頻率：47-63Hz

  消耗功率

45VA

  操作環(huán)境

溫度：0℃-40℃

   濕度：20-80%RH

  外觀尺寸

430x132x370 mm (W*H*D)

  重量

7Kg

  界面

USB Host/Device、RS-232、Remote、LAN

GPIB選配

  液晶熒幕

7吋TFT 彩色顯示(800*480)